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龙图腾网获悉中国工程物理研究院电子工程研究所申请的专利一种绝缘耐压寿命评价方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116819246B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310713614.3，技术领域涉及：G01R31/12；该发明授权一种绝缘耐压寿命评价方法是由杜继实;王蒙蒙;谈效华;陈虎;都焕亮设计研发完成，并于2023-06-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种绝缘耐压寿命评价方法在说明书摘要公布了：本申请提出了一种绝缘耐压寿命评价方法，该方法包括首先通过动态加压击穿测试或者静态加压击穿测试方式获得参数n和lgB的值，接着利用Weibull拟合，获得动态加压击穿测试或者静态加压击穿测试方式下的Weibull模量，并计算出相关参数m，最后利用方程lgt＝[n–2m]×lg[–ln1–P]+lgB–lg[Γ1+n–2m]–nlgV计算得到当施加电压为V时，待测材料或器件的击穿概率P和时间t的关系，该关系可用于待测材料或器件的绝缘耐压寿命评价。

本发明授权一种绝缘耐压寿命评价方法在权利要求书中公布了：1.一种绝缘耐压寿命评价方法，其特征在于，所述方法包括： S-11：在不同的电压提升速率v下开展多次电压击穿测试，并获取每个电压提升速率对应的待测材料或器件的平均击穿电压Vb； S-12：以平均击穿电压Vb的对数lgVb为横坐标，以电压提升速率v的对数lgv为纵坐标作图，对S-11中的电压提升速率数据和平均击穿电压数据进行线性拟合，得到拟合直线； S-13：计算拟合直线的斜率η1，取参数n1＝η1-1；并计算拟合直线在坐标系纵轴上的截距y1，取参数B1，并取lgB1＝y1-lgn1+1； S-14：在S-11中不同的电压提升速率中任意一个确定的电压提升速率下，对待测材料或器件开展多次击穿测试，获取多个击穿电压； S-15：对多个击穿电压进行二参数Weibull拟合，获得Weibull模量mv，取参数m1＝mvn1–2n1+1； S-16：利用方程lgt＝[n–2m]×lg[–ln1–P]+lgB–lg[Γ1+n–2m]–nlgV，计算得到当施加电压为V时，待测材料或器件的击穿概率P和时间t的关系；其中，n＝n1，m＝m1，B＝B1，ln1–P表示1–P的自然对数，Γ是gamma函数； S-17：利用施加电压为V、击穿概率P和时间t的之间的关系进行待测材料或器件的绝缘耐压寿命评价。

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