中国工程物理研究院激光聚变研究中心樊非获国家专利权
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龙图腾网获悉中国工程物理研究院激光聚变研究中心申请的专利光学元件修复装置及其修复方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116871688B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310829518.5，技术领域涉及：B23K26/352；该发明授权光学元件修复装置及其修复方法是由樊非;卓瑾;金会良;潘峰;朱玉洁;邓雪然;耿锋;刘志超设计研发完成，并于2023-07-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本光学元件修复装置及其修复方法在说明书摘要公布了：一种光学元件修复装置及其修复方法，涉及光学技术领域。该光学元件修复装置包括：泵浦光源，泵浦光源用于朝向待修复样品的表面缺陷处发射泵浦光；在线监测机构，在线监测机构包括探测光源和第一图像处理器，探测光源用于向待修复样品的表面缺陷处发射探测光，第一图像处理器用于接收被待修复样品的表面缺陷处反射的探测光并得到待修复样品的表面缺陷处的图像信息；修复机构，修复机构用于根据待修复样品的表面缺陷处的图像信息对待修复样品的表面缺陷处进行修复。该光学元件修复装置能够对损伤进行精准、高效的定点修复，从而能够改善现有技术中修复速率和修复成功率较低的问题。
本发明授权光学元件修复装置及其修复方法在权利要求书中公布了：1.一种光学元件修复装置，其特征在于，包括： 泵浦光源，所述泵浦光源用于朝向待修复样品的表面缺陷处发射泵浦光； 在线监测机构，所述在线监测机构包括探测光源和第一图像处理器，所述探测光源用于向所述待修复样品的表面缺陷处发射探测光，所述第一图像处理器用于接收被所述待修复样品的表面缺陷处反射的探测光并得到所述待修复样品的表面缺陷处的图像信息； 修复机构，所述修复机构用于根据所述待修复样品的表面缺陷处的图像信息对所述待修复样品的表面缺陷处进行修复； 所述修复机构为等离子体修复机构；所述在线监测机构还包括：第二图像处理器；所述第二图像处理器用于接收透过所述待修复样品的表面缺陷处的探测光并得到所述待修复样品的表面缺陷处的图像信息。
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