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龙图腾网获悉南京航空航天大学;南京航空航天大学苏州研究院申请的专利一种多曝光融合的角分辨散射微纳结构测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121544603B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610057093.4，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种多曝光融合的角分辨散射微纳结构测量方法是由孟凯;王凯;张航瑛;胡岱艺;卢嘉豪;王昊昊;楼佩煌设计研发完成，并于2026-01-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多曝光融合的角分辨散射微纳结构测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种多曝光融合的角分辨散射微纳结构测量方法，涉及集成电路测量技术领域。所述方法包括：获取多曝光序列图像集，对相机响应函数CRF进行建模；对过度曝光的像素值采用基于响应曲线端点处切线的线性外推法进行估计，并计算外推像素的置信度；当外推像素的置信度低于基础置信度时，对外推像素使用分段保守估计策略进行增强；通过迭代处理得到校正图像集和相应的置信度图像集；对校正图像集中的图像进行权重分配，得到对应的归一化权重集；根据归一化权重集和校正图像集，进行多尺度融合，得到融合图像。通过对图像进行像素级校正有效重建过曝光区域的像素辐照度，并对图像进行多尺度融合实现了傅里叶空间强度的高保真融合。

本发明授权一种多曝光融合的角分辨散射微纳结构测量方法在权利要求书中公布了：1.一种多曝光融合的角分辨散射微纳结构测量方法，其特征在于，包括： 获取多曝光序列图像集，对相机响应函数CRF进行建模； 根据相机响应函数CRF，对过度曝光的像素值采用基于响应曲线端点处切线的线性外推法进行估计，并计算外推像素的置信度； 当外推像素的置信度低于基础置信度时，对外推像素使用分段保守估计策略进行增强； 通过迭代处理得到校正图像集和相应的置信度图像集； 对校正图像集中的图像进行权重分配，得到对应的归一化权重集； 根据归一化权重集和校正图像集，进行多尺度融合，得到融合图像，并根据所述融合图像得到测量值； 其中，所述根据归一化权重集和校正图像集，进行多尺度融合，得到融合图像，包括： 金字塔深度表达式为： ； 式中，为层数；×为图像的维度； 根据亮度对校正图像集从最暗到最亮进行排序，根据高斯金字塔中连续高斯层之间的残差生成拉普拉斯金字塔，表达式为： ； 式中，为第k张校正后的图像；图像的高斯金字塔；为上采样函数； 归一化权重集构建高斯金字塔，表达式为： 式中，为归一化权重集；为构建第l层高斯金字塔；为第l层对权重处理的结果； 根据拉普拉斯金字塔和高斯金字塔，计算融合拉普拉斯层，表达式为： ； 式中，P为融合的图像数量；为第k张图像在第l层的归一化权重；为第k张图像在第l层的拉普拉斯金字塔表示； 通过坍缩拉普拉斯金字塔，逐级进行上采样和从最粗到最细尺度的残差求和，得到融合图像。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人南京航空航天大学;南京航空航天大学苏州研究院，其通讯地址为：210016 江苏省南京市秦淮区御道街29号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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