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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种用于长焦距光学系统装调过程的焦距检测装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120194912B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510381654.1，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种用于长焦距光学系统装调过程的焦距检测装置及方法是由罗勇强;鄂可伟;张泊泊;薛勋;冯方;田留德;王争锋设计研发完成，并于2025-03-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于长焦距光学系统装调过程的焦距检测装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于长焦距光学系统装调过程的焦距检测装置及方法，解决了现有技术对于大口径长焦距光学系统的检测精度和重复度较低的问题，焦距检测装置具体包括设置于待测光学系统出射端的平面反射镜、设置在待测光学系统入射端且安装在一维平移台上的干涉仪镜头和干涉仪本体，以及测长机构和测径机构；干涉仪本体用于向待测光学系统的入射端出射测量光束，平面反射镜的口径大于待测光学系统的有效通光口径D，一维平移台用于控制干涉仪镜头和干涉仪本体沿测量光束的光轴方向平移；本发明通过干涉仪在对待测光学系统检测时，建立动态干涉仪前后的实际位移量与系统波前power分量之间的关系，使用最小二乘拟合法计算获得光学系统的焦距。

本发明授权一种用于长焦距光学系统装调过程的焦距检测装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于长焦距光学系统装调过程的焦距检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1、搭建用于长焦距光学系统装调过程的焦距检测装置，所述焦距检测装置包括设置于待测光学系统2出射端的平面反射镜1、设置在待测光学系统2入射端且安装在一维平移台6上的干涉仪镜头4和干涉仪本体5，以及测长机构7和测径机构；所述平面反射镜1的口径大于待测光学系统2的有效通光口径D； 步骤2、启动干涉仪本体5向待测光学系统2的入射端出射测量光束，并测量待测光学系统2离焦波前PV值或power值； 步骤3、通过一维平移台6驱动干涉仪镜头4和干涉仪本体5沿测量光束的光轴移动，使得干涉仪本体5测量的离焦波前PV值或power值满足预设要求，并将此时干涉仪本体5所在位置记为步进零位； 步骤4、通过一维平移台6驱动干涉仪镜头4和干涉仪本体5从步进零位开始沿测量光束的光轴多次前后移动，并通过测长机构7监测一维平移台6的位移量，同时记录干涉仪本体5每次位移对应的离焦波前PV值或power值； 步骤5、计算每个位移量对应的待测光学系统2焦距值； 步骤6、将计算的多个焦距值f进行拟合，得到待测光学系统2的实际焦距值，完成焦距检测。

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