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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种紧凑型流体折射率测量系统及流体折射率测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121253483B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511833905.1，技术领域涉及：G01N21/41；该发明授权一种紧凑型流体折射率测量系统及流体折射率测量方法是由李思奇;胡佳怡;王国玺;王正航;王婉君;张文富设计研发完成，并于2025-12-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种紧凑型流体折射率测量系统及流体折射率测量方法在说明书摘要公布了：本发明涉及流体折射率测量装置及方法，具体涉及一种紧凑型流体折射率测量系统及流体折射率测量方法，解决了现有光学折射率传感器的传感灵敏度和综合性能评价指标偏低，难以满足流体折射率高精度测量需求的技术问题。本发明提供的紧凑型流体折射率测量系统，基于双层超表面，利用高Q值超表面将折射率转化为光谱信息，凭借窄线宽与近场增强特性提升测量光束与待测流体的相互作用强度，可提高测量精度；结合微型化光谱仪，将光谱信息转化为直观的光强信息，通过对光强信息的分析处理，快速获取待测流体的折射率，可简化测量流程、提高测量效率。本发明提供的流体折射率测量方法，在光谱反演中引入误差项，可实现光谱信息的精准反演。

本发明授权一种紧凑型流体折射率测量系统及流体折射率测量方法在权利要求书中公布了：1.一种紧凑型流体折射率测量系统，其特征在于：包括依次设置的光源1、高Q值超表面2、微型化光谱仪3和探测器4，以及与探测器4电连接的数据处理模块5； 所述高Q值超表面2封装在微流腔6内，微流腔6上开设有分别用于待测流体注入与排出的进液口7和出液口8，微流腔6用于使待测流体与高Q值超表面2接触； 所述高Q值超表面2采用连续域束缚态，包括N个周期性排布的超像素9，高Q值超表面2用于将待测流体折射率信息转换为光谱信息，其中，N为整数，且N≥4；N个所述超像素9的排列周期为0.8μm，每个超像素9包括4个呈阵列排布的非晶硅方形块，其整体结构旋转180°后不重合；4个非晶硅方形块的边长分别为0.26μm、0.26μm、0.31μm和0.31μm，高度均为0.2μm，4个非晶硅方形块中心之间的间隔均为0.4μm； 所述微型化光谱仪3包括M个周期性排布且与超像素9尺寸匹配的光谱单元10，用于将光谱信息转换为光强信息，其中，M为整数，且M≥4；所述光谱单元10包括4种不同的非晶硅纳米结构，4种非晶硅纳米结构呈阵列排布，且均为圆柱结构，高度均为1200nm；4种非晶硅纳米结构的工作波长相同，其范围为1000nm-2000nm，结构周期和占空比不同，结构周期的范围为1000nm-1800nm，占空比的范围为0.2-0.8； 所述探测器4包括分别与M个光谱单元10对应设置的M个探测单元，用于探测光强信息； 所述数据处理模块5包括神经网络，用于根据光强信息进行光谱反演，得到光谱曲线，从而推导得到待测流体的折射率。

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