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龙图腾网获悉武汉万集光电技术有限公司申请的专利双光频梳测距系统、方法、控制设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116203575B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211679401.5，技术领域涉及：G01S17/10；该发明授权双光频梳测距系统、方法、控制设备及存储介质是由张磊;胡攀攀;徐洋设计研发完成，并于2022-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本双光频梳测距系统、方法、控制设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请属于双光频梳测距技术领域，提供一种双光频梳测距系统、方法、控制设备及存储介质，系统包括第一光频梳、第二光频梳、环形器、第一耦合器及第二耦合器；第一光频梳以第一重复频率产生的测距光信号经环形器传输至第一耦合器，再经第一耦合器传输至反射镜和待测物体；第二光频梳以第二重复频率产生的参考光信号传输至第二耦合器；反射镜反射的第一反射光信号和待测物体反射的第二反射光信号经第一耦合器和环形器传输至第二耦合器；参考光信号和两个反射光信号在第二耦合器中发生干涉产生干涉光信号；第二重复频率为第一重复频率的k倍，k为大于1的小数且至少一个重复频率可调。本申请提供的双光频梳测距系统的测距速率可以大范围灵活调节。

本发明授权双光频梳测距系统、方法、控制设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种双光频梳测距系统，其特征在于，包括第一光频梳、第二光频梳、环形器、第一耦合器及第二耦合器； 所述第一光频梳用于以第一重复频率产生测距光信号，所述测距光信号经由所述环形器传输至所述第一耦合器，再经由所述第一耦合器分束后分别传输至用于标定参考位置的反射镜和待测物体； 所述第二光频梳用于以第二重复频率产生参考光信号，所述参考光信号传输至所述第二耦合器； 所述反射镜反射的第一反射光信号和所述待测物体反射的第二反射光信号经由所述第一耦合器合束后，经由所述环形器传输至所述第二耦合器； 所述参考光信号、所述第一反射光信号及所述第二反射光信号在所述第二耦合器中发生干涉产生干涉光信号传输至测距设备； 所述测距设备用于对所述干涉光信号进行光电转换和低通滤波，得到调制包络并获取所述调制包络的时域信息，进而获得待测物体的距离信息； 其中，所述第二重复频率为所述第一重复频率的倍，所述第二重复频率与倍的所述第一重复频率之差等于所述双光频梳测距系统的测距速率，所述第一重复频率和所述第二重复频率中的至少一个可调，为大于2的小数，为就近取整后的数值。

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