上海精积微半导体技术有限公司皇甫趁心获国家专利权
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龙图腾网获悉上海精积微半导体技术有限公司申请的专利一种半导体器件测试项测试时间的优化方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116224005B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211721960.8，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种半导体器件测试项测试时间的优化方法是由皇甫趁心设计研发完成，并于2022-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种半导体器件测试项测试时间的优化方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种半导体器件测试项测试时间的优化方法，包括自初始测试文件中提取包含目标测试项的子测试文件，子测试文件包括目标测试项的初设测试等待时间，对样本测试值进行数据拟合，以获取表征目标测试项的测试结果与测试前等待时间的函数关系；基于原始测试值和函数关系替换为最终测试前等待时间，以获得新的测试文件，并基于新的测试文件对半导体器件的目标测试项进行测试。通过将初设测试等待时间替换为最终测试前等待时间，生成能够对半导体器件的小电流进行测试的新的测试文件，使用新的测试文件对半导体器件的小电流进行测试，能够在保证测试精度的前提下，提高串行测试小电流的测试效率。
本发明授权一种半导体器件测试项测试时间的优化方法在权利要求书中公布了：1.一种半导体器件测试项测试时间的优化方法，其特征在于，包括： 自初始测试文件中提取包含目标测试项的子测试文件，所述子测试文件包括所述目标测试项的初设测试等待时间T0； 基于所述子测试文件，获取若干所述半导体器件的所述目标测试项的原始测试值，并计算若干项所述原始测试值的平均值及标准差； 设定若干呈递增的样本测试前等待时间，并在不同的所述样本测试前等待时间条件下获取所述目标测试项相应的样本测试值； 对所述样本测试值进行数据拟合，以获取表征所述目标测试项的测试结果与所述测试前等待时间的函数关系； 基于所述原始测试值和所述函数关系，确定所述目标测试项的最终测试前等待时间Tf； 将所述初设测试等待时间T0替换为所述最终测试前等待时间Tf，以获得新的测试文件，并基于所述新的测试文件对半导体器件的目标测试项进行测试。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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