中国科学院微电子研究所张大勇获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院微电子研究所申请的专利延迟链分析系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116466558B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310380347.2，技术领域涉及：G04F10/00；该发明授权延迟链分析系统及方法是由张大勇;杨晓帅;金智;申英俊;孙锴设计研发完成，并于2023-04-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本延迟链分析系统及方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种延迟链分析系统，包括测试信号发生器、FPGA芯片及上位机；FPGA芯片包括延迟链模块和集成逻辑分析仪，延迟链模块包括一个或多个延迟链，上位机包括测试控制器和数据分析器；测试信号发生器与FPGA芯片连接，延迟链的输出端与集成逻辑分析仪连接，集成逻辑分析仪的输出与上位机连接；测试信号发生器用于产生与延迟链时钟接近的测试信号；延迟链用于测量时间的微小间隔；集成逻辑分析仪用于连续抓取时钟上升沿时延迟链寄存器输出的温度码并传输至上位机；测试控制器用于控制测试进程，接收集成逻辑分析仪输出的温度码并存储为可分析的文件；数据分析器用于分析测试控制器存储的文件，形成延迟时间表。本发明能够减少延迟链的实际误码。
本发明授权延迟链分析系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种延迟链分析系统，其特征在于，所述系统包括测试信号发生器、FPGA芯片及上位机；所述FPGA芯片包括延迟链模块和集成逻辑分析仪，所述延迟链模块包括一个或多个延迟链，所述上位机包括测试控制器和数据分析器；所述测试信号发生器与所述FPGA芯片连接，所述延迟链的输出端与所述集成逻辑分析仪连接，所述集成逻辑分析仪的输出与所述上位机连接；其中， 所述测试信号发生器，用于产生与延迟链时钟接近的测试信号； 所述延迟链，用于测量时间的微小间隔； 所述集成逻辑分析仪，用于连续抓取时钟上升沿时延迟链寄存器输出的温度码，并将此温度码传输至上位机； 所述测试控制器，用于控制测试进程，接收所述集成逻辑分析仪输出的温度码，并存储为可分析的文件； 所述数据分析器，用于分析所述测试控制器存储的文件，形成延迟时间表。
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