武汉锐科光纤激光技术股份有限公司宋克江获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉锐科光纤激光技术股份有限公司申请的专利外观缺陷检测算法参数的设置方法、装置及电子设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116539621B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310492879.5,技术领域涉及:G01N21/88;该发明授权外观缺陷检测算法参数的设置方法、装置及电子设备是由宋克江;彭琪;叶政;叶杨椿;姜伟;段美全;叶劲松设计研发完成,并于2023-05-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本外观缺陷检测算法参数的设置方法、装置及电子设备在说明书摘要公布了:本发明实施例公开了一种外观缺陷检测算法参数的设置方法、装置及电子设备。该方法包括:设置待检测的激光芯片的外观缺陷类型的参数;根据所述外观缺陷类型以及所述激光芯片的检测面设置所述激光芯片的外观图像的分割方式以及检测方式的参数;根据所述激光芯片的芯片类型设置所述激光芯片的检测面的参数,并导入所述检测面的标准参数;根据所述检测面的参数以及所述分割方式的参数设置定位所述激光芯片的检测面的参数。本发明提供的外观缺陷检测算法参数的设置方法不仅设置逻辑简单且高效,易于调整,而且可适配不同类型的激光芯片,可以实现多样化的外观检测,极大的提高了激光芯片的外观缺陷的检测效率。
本发明授权外观缺陷检测算法参数的设置方法、装置及电子设备在权利要求书中公布了:1.一种外观缺陷检测算法参数的设置方法,其特征在于,包括: 设置待检测的激光芯片的外观缺陷类型的参数; 根据所述外观缺陷类型以及所述激光芯片的检测面设置所述激光芯片的外观图像的分割方式以及检测方式的参数;所述检测面包括所述激光芯片的AR面和HR面以及所述激光芯片的正面和底面; 其中,所述分割方式中包括阈值分割,用于对所述激光芯片的AR面和HR面所对应的外观图像中的缺陷进行分割检测,所述分割方式还包括颜色分割,用于对所述激光芯片的正面和底面所对应的外观图像进行分割检测; 根据所述激光芯片的芯片类型设置所述激光芯片的检测面的参数,并导入所述检测面的标准参数; 根据所述检测面的参数以及所述分割方式的参数设置定位所述激光芯片的检测面的参数;不同的检测面的外观图像对应有不同的定位方式,所述激光芯片的HR面以及AR面采用轮廓定位的方式进行定位,所述激光芯片的正面和底面采用面定位的方式进行定位; 若采用轮廓定位所述激光芯片的检测面,根据所述检测面设置所述激光芯片的外观图像的轮廓中的蚀槽范围、关键区域范围; 设置所述激光芯片的外观图像的轮廓上下边缘的颜色空间以及偏移补偿值; 若采用面定位所述激光芯片的检测面,根据所述检测面设置所述激光芯片的外观图像的第三分割阈值、异常区域的颜色; 设置定位所述激光芯片的检测面的亮度补偿值。
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