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龙图腾网获悉中国科学院高能物理研究所申请的专利一种多实验技术联用同时探测数据的系统及其方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116593506B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310501207.6，技术领域涉及：G01N23/085；该发明授权一种多实验技术联用同时探测数据的系统及其方法是由陈中军;邢雪青;吴忠华;王浩;赖悦诚;钟佳君;郑黎荣;默广;施展;刘云鹏;姚磊设计研发完成，并于2023-05-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多实验技术联用同时探测数据的系统及其方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种多实验技术联用同时探测数据的系统及方法，包括气体电离室、第一放大器、光电二极管、第二放大器、电子学系统、第一上位机、多个不同种类的探测器以及多个第二上位机，样品置于气体电离室和光电二极管之间，气体电离室采集样品前入射X光的强度，光电二极管采集样品后出射X光的强度，入射X光经第一放大器输入到电子学系统，出射X光经第二放大器输入到电子学系统，第一上位机通过网口和电子学系统连接并读回入射和出射X光强度数据，电子学系统与多个不同种类的探测器连接，触发不同种类的探测器同时测量，每个探测器均对应连接一个第二上位机；本发明的优点在于：多种探测技术联用的同时实现同时探测。

本发明授权一种多实验技术联用同时探测数据的系统及其方法在权利要求书中公布了：1.一种多实验技术联用同时探测数据的方法，其特征在于，实施所述方法的多实验技术联用同时探测数据的系统包括气体电离室、第一放大器、光电二极管、第二放大器、电子学系统、第一上位机、多个不同种类的探测器以及多个第二上位机，样品置于气体电离室和光电二极管之间，气体电离室采集样品前入射X光的强度，光电二极管采集样品后出射X光的强度，入射X光经第一放大器输入到电子学系统，出射X光经第二放大器输入到电子学系统，第一上位机通过网口和电子学系统连接并读回入射和出射X光强度数据，电子学系统与多个不同种类的探测器连接，触发不同种类的探测器同时测量，每个探测器均对应连接一个第二上位机；所述入射X光和出射光的强度分别经第一放大器、第二放大器放大以后输入到电子学系统，电子学系统同时将放大后的入射和出射光发送到第一上位机上，第一上位机通过电子学系统向各个探测器发出触发信号，同时触发多个不同种类的探测器进行探测，探测结果数据上传至对应的第二上位机，第二上位机对探测的数据进行处理；所述多实验技术联用同时探测数据的系统在能量扫描的同时同步进行气体电离室和光电二极管的模拟信号采样，包括： WAXS探测系统在每次XAFS扫描周期开始时根据其预设的参数开始探测，SAXS探测系统和F-XAFS探测系统需要设置一个XAFS扫描周期内的单次曝光时间、单次曝光延迟时间和曝光次数，然后根据设定的单次曝光时间、单次曝光延迟时间和曝光次数开始探测； SAXS探测系统能量分辨率值为Pilatusdelt，根据公式：计算出单次曝光时间PilatusTimes，单次曝光延迟时间PilatusDelay为SAXS探测系统预设值，根据公式：算出曝光次数PilatusTriggers；F-XAFS探测系统的单次曝光时间、单次曝光延迟时间和曝光次数计算方式与SAXS探测系统的计算方式相同。

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