买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉阳江核电有限公司申请的专利基于距离优化的密度聚类RAPID的损伤成像方法、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118275541B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410253954.7，技术领域涉及：G01N29/06；该发明授权基于距离优化的密度聚类RAPID的损伤成像方法、设备及介质是由安达奇;李晓光;郝庆阳;陈智聪;张大勇;王树昌;李一鸣;施建辉;许星星;刘政平;张钱松;蒋立辉;王强;谢天;鲍峤设计研发完成，并于2024-03-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于距离优化的密度聚类RAPID的损伤成像方法、设备及介质在说明书摘要公布了：本发明涉及一种基于距离优化的密度聚类RAPID的损伤成像方法、设备及介质。该方法包括以下步骤：S1、依次选择传感器网络的其中一个传感器作为激励器驱动其产生导波信号，以获取每条传感路径的健康信号SH和损伤信号SD。S2、根据每条传感路径的健康信号SH和损伤信号SD计算得到对应传感路径的损伤因子DI和距离优化参数β。S3、根据待测结构确定待测区域，而且，基于概率重建算法，根据距离优化参数β和损伤因子DI计算得到待测区域的损伤概率值矩阵P。S4、对损伤概率值矩阵P进行密度聚类处理，以消除虚假损伤概率值，从而形成新的损伤概率值矩阵TP。S5、根据损伤概率值矩阵TP绘制待测区域的损伤图像。本发明能够获取更符合真实损伤形状的损伤成像结果。

本发明授权基于距离优化的密度聚类RAPID的损伤成像方法、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种基于距离优化的密度聚类RAPID的损伤成像方法，其特征在于，在待测结构上布置一个传感器网络，所述传感器网络包括多条传感路径，该方法包括以下步骤： S1、分别在待测结构的健康状态和损伤状态下，依次选择传感器网络的其中一个传感器作为激励器驱动其产生导波信号，以获取每条传感路径的健康信号SH和损伤信号SD； S2、根据所述每条传感路径的健康信号SH和损伤信号SD计算得到对应传感路径的损伤因子DI和距离优化参数β； S3、根据所述待测结构确定待测区域，而且，基于概率重建算法，根据所述距离优化参数β和损伤因子DI计算得到待测区域的损伤概率值矩阵P； S4、对所述损伤概率值矩阵P进行密度聚类处理，以消除虚假损伤概率值，从而形成新的损伤概率值矩阵TP； S5、根据所述损伤概率值矩阵TP绘制待测区域的损伤图像； 在步骤S2中，包括以下步骤： S2-1、根据每条传感路径的健康信号SH和损伤信号SD分别算得对应传感路径的多种信号特征值，并将每条传感路径的所述多种信号特征值进行全取融合，得到每条传感路径对应的损伤因子DI； S2-2、根据每条传感路径的损伤因子DI计算得到对应的距离优化参数β； 在步骤S3中，包括以下步骤： S3-1、对根据所述待测结构的位置确定的待测区域进行网格化，并为所述待测区域建立直角坐标系，接着，依次计算每个网格位置x，y到每条传感路径的距离系数Rkx，y； S3-2、将所述距离系数Rkx，y与对应的距离优化参数βk进行比较，得到对应网格位置的第一概率Lkx，y； S3-3、根据第k条传感路径的损伤因子DIk对所述第一概率Lkx，y进行概率重建处理，得到对应网格位置的损伤概率值Px，y，并形成待测区域的损伤概率值矩阵P； 在步骤S2-2中，包括： 通过以下计算方法得到对应传感路径的距离优化参数βk： 其中，k为第k条传感路径序号，k=1,2,3，……，β最优为通过试验研究得到的距离优化参数β的最优值，α为约束参数，DIk为第k条传感路径的损伤因子，minDI为所有传感路径中最小的损伤因子，maxDI为所有传感路径中最大的损伤因子； 在步骤S4中，包括以下步骤： S4-1、对所述损伤概率值矩阵P进行标准差计算处理，得到待测区域的损伤程度； S4-2、将所述损伤程度作为筛选每个网格位置的损伤概率值的阈值，对所述损伤概率值矩阵P进行密度聚类处理，以消除虚假损伤概率值，从而形成新的损伤概率值矩阵TP。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人阳江核电有限公司，其通讯地址为：529500 广东省阳江市江城区安宁路141号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。