中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))倪毅强获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利集成电路失效点的定位方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115423753B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210930187.X，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权集成电路失效点的定位方法是由倪毅强;庞超;杨施政;陈选龙;何亮;张志鑫;刘宇锋设计研发完成，并于2022-08-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本集成电路失效点的定位方法在说明书摘要公布了：本申请涉及一种方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：对已预处理的集成电路施加激励信号后进行锁相红外热成像检测，得到红外图像，通过预处理提高集成电路的发射率。对红外图像进行处理，得到目标振幅图和目标相位图。根据目标振幅图确定集成电路的失效点的水平位置信息。根据目标相位图确定集成电路的失效点的深度信息。目标振幅图表征了集成电路失效点的水平位置信息，目标振幅图表征了集成电路的失效点的深度信息。结合水平信息和深度信息，可以确定集成电路失效点的具体位置。通过预处理提高集成电路的发射率，提高了材料表面红外发射率，提高了对集成电路失效点的定位精度。
本发明授权集成电路失效点的定位方法在权利要求书中公布了：1.一种集成电路失效点的定位方法，其特征在于，所述方法包括： 对已预处理的集成电路施加激励信号后进行锁相红外热成像检测，得到红外图像；通过所述预处理提高所述集成电路表面的发射率，其中所述预处理包括对所述集成电路的表面喷漆，所述集成电路的表面不同材质喷涂厚度不一的黑漆，以保持集成电路表面的红外发射率的均匀一致，若集成电路的表面包含不适合直接喷漆的元器件，在所述集成电路表面设置密封膜，对所述密封膜的表面喷漆，漆料的材质为已知发射率的绝缘无光泽黑漆，漆料的发射率大于所述集成电路表面的发射率； 对所述红外图像进行处理，得到目标振幅图和目标相位图； 根据所述目标振幅图确定所述集成电路的失效点的水平位置信息； 根据所述目标相位图确定所述集成电路的失效点的深度信息。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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