株式会社LG化学金贤泰获国家专利权
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龙图腾网获悉株式会社LG化学申请的专利使用多色调控制的颗粒缺陷检查系统和控制该系统的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116457111B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202180074653.2,技术领域涉及:B07C5/342;该发明授权使用多色调控制的颗粒缺陷检查系统和控制该系统的方法是由金贤泰;金月龙设计研发完成,并于2021-09-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本使用多色调控制的颗粒缺陷检查系统和控制该系统的方法在说明书摘要公布了:本发明涉及一种使用多色调控制的颗粒缺陷检查系统和控制所述系统的方法,所述系统连续地输送多个颗粒以检测颗粒的颜色,从而确定颗粒是否有缺陷。所述颗粒缺陷检查系统包括:颗粒缺陷检查装置,包括分选机,该分选机被配置为在输送多个颗粒的同时拍摄各个颗粒的第一表面和第二表面以检查所述颗粒,以便分离和去除被确定为有缺陷的颗粒,并将被确定为良品的颗粒输送并装载到指定位置;和多色调颗粒检查控制器,被配置为在控制颗粒输送和改变RGBW照射段的同时拍摄沿着通道输送的各个颗粒的第一表面顶面和第二表面底面,以便分析和确定图像。
本发明授权使用多色调控制的颗粒缺陷检查系统和控制该系统的方法在权利要求书中公布了:1.一种使用多色调控制的颗粒缺陷检查系统,包括: 颗粒缺陷检查装置,包括分选机,该分选机被配置为在输送多个颗粒的同时拍摄各个颗粒的第一表面和第二表面以检查所述颗粒,以便去除被确定为有缺陷的颗粒,并将被确定为良品的颗粒输送并装载到指定位置;和 多色调颗粒检查控制器,被配置为在控制颗粒输送和改变RGBW照射段的同时拍摄沿着通道输送的各个颗粒的第一表面和第二表面,以便分析和确定图像, 其中,当在检查待检查的新颗粒之前设置所述颗粒缺陷检查装置时,所有RGBW用于向该装置供应一定数目的良品和一定数目的缺陷产品并且重复收率为100%的检查过程,以便寻找最优化的配色条件和分类标准,以反映在实际颗粒检查中,并且 在改变RGBW照射段的同时拍摄所述颗粒的过程中,基于待检查颗粒的独特颜色信息与缺陷检查结果之间的偏差,自适应地改变R照射段的尺寸、G照射段的尺寸、B照射段的尺寸和W照射段的尺寸。
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