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龙图腾网获悉中国科学院自动化研究所申请的专利基于脉冲方波激励和曲线拟合的磁粒子弛豫时间检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116626564B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310607774.X，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权基于脉冲方波激励和曲线拟合的磁粒子弛豫时间检测方法是由田捷;冯欣;惠辉设计研发完成，并于2023-05-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于脉冲方波激励和曲线拟合的磁粒子弛豫时间检测方法在说明书摘要公布了：本发明属于磁粒子生物医学检测和成像领域，具体涉及一种基于脉冲方波激励和曲线拟合的磁粒子弛豫时间检测方法，旨在解决现有技术无法有效对磁纳米粒子的尼尔弛豫时间和布朗弛豫时间进行区分检测的问题。本发明方法包括：获取磁纳米粒子样品在脉冲方波激励磁场激发下所产生的样品信号；结合样品信号，调整预构建的双指数衰减函数中的弛豫时间相关参数并进行磁化强度曲线的拟合，进而得到与所述样品信号匹配的目标磁化强度曲线；将所述目标磁化强度曲线对应的弛豫时间相关参数作为磁粒子弛豫时间检测结果。本发明能够对磁纳米粒子的尼尔弛豫时间和布朗弛豫时间进行有效的区分检测，能够拓展与尼尔弛豫时间或布朗弛豫时间相关的应用发展。

本发明授权基于脉冲方波激励和曲线拟合的磁粒子弛豫时间检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于脉冲方波激励和曲线拟合的磁粒子弛豫时间检测方法，其特征在于，该方法包括： 步骤S10，获取磁纳米粒子样品在脉冲方波激励磁场激发下所产生的样品信号；所述脉冲方波激励磁场通过脉冲方波弛豫仪产生； 步骤S20，结合所述样品信号，调整预构建的双指数衰减函数中的弛豫时间相关参数并进行磁化强度曲线的拟合，进而得到与所述样品信号匹配的目标磁化强度曲线；将所述目标磁化强度曲线对应的弛豫时间相关参数作为磁粒子弛豫时间检测结果； 其中，所述弛豫时间相关参数包括尼尔弛豫时间常数、布朗弛豫时间常数、尼尔弛豫的百分比以及布朗弛豫的百分比； 其中，所述脉冲方波弛豫仪包括： 数字采集卡，用于生成脉冲方波的模拟信号；还用于对输入的样品信号进行数字化处理； 交流功率放大器，用于放大所述模拟信号； 发射线圈，用于发射放大后的模拟信号，以产生脉冲方波激励磁场； 电流传感器，用于实时监测所述交流功率放大器的发射波形； 接收线圈，用于接收磁纳米粒子样品在所述脉冲方波激励磁场的激发下所产生的样品信号； 低噪声前置放大器，用于放大所述样品信号，并发送至所述数字采集卡； 所述发射线圈为空心圆柱形，包括多层Litz线圈；所述发射线圈中的多层Litz线圈绕于所述空心圆柱形的外表面； 所述接收线圈为上下两段梯度计型，同轴放置在所述发射线圈内；所述接收线圈的上下两部分均包括多层Litz线圈；所述接收线圈的上下两部分的多层Litz线圈分别绕于其对应部分的外表面； 其中，所述接收线圈的上半部分设置的多层Litz线圈用于接收磁纳米粒子样品在所述脉冲方波激励磁场的激发下所产生的样品信号；所述接收线圈的下半部分设置的Litz线圈用于被微调以抑制直接传输馈通。

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