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中国测试技术研究院辐射研究所刘志宏获国家专利权

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龙图腾网获悉中国测试技术研究院辐射研究所申请的专利一种数显仪表指示值图案处理方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116844149B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310886879.3,技术领域涉及:G06V20/62;该发明授权一种数显仪表指示值图案处理方法是由刘志宏;但玉娟;于兵设计研发完成,并于2023-07-19向国家知识产权局提交的专利申请。

一种数显仪表指示值图案处理方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种数显仪表指示值图案处理方法,用图像采集设备获取包含数显仪表指示值图案的一组图像,计算图像的图元特征量,将两幅图的元特征量差作为图差并进行分类,类别数至少包括三种类别,然后将图差按单个数字分割出来并得到单个数字的图差几何特征和图差特征值。用它得出指示值的字符几何特征和字符特征值或与标准模板的模板几何特征和模板特征量进行匹配,从而得出指示值图案中对应的数字。该方法不需对指示值图案用阈值进行二值化处理,特别适用于低反差指示值图案并兼容非低反差图案。

本发明授权一种数显仪表指示值图案处理方法在权利要求书中公布了:1.一种数显仪表指示值图案处理方法,其特征在于包括以下步骤: S1,用图像采集设备获取包含数显仪表指示值图案的一组图像,其中所述一组图像至少包括2幅图像,图像按采集顺序排列的序号称为图序; S2,计算图像的图元特征量,其中所述图元特征量为描述图元特征的参量,包括图元所包含像素的光学特征量,所述图元是像素集合的名字,所述像素的光学特征量是由RGB构成的函数; S3,计算图差,所述图差为两幅图像相同位置处的图元特征量的差; S4,对图差进行分类,类别数至少包括三种类别;其中,对图差进行分类时,三种类别具体分别用0特征类、1特征类、﹣1特征类表示,所述﹣1特征类对应的图差数值为负数;所述1特征类对应的图差数值为正数;对图差进行分类时具体包括Y41A、Y41B、Y41C中的任意一种、或两种或全部;其中,Y41A为图差数值处于第一正阈值pT1和第一负阈值nT1区间内被标记为0特征类,所述nT1≤0,pT1≥0;Y41B为图差数值不低于第二正阈值pT2被标记为1特征类,所述pT2≥pT1;Y41C为图差数值不超过第二负阈值nT2被标记为﹣1特征类,所述nT2≤nT1; S5,将图差按指示值图案中的单个数字分割出来; S6,得出单个数字的图差几何特征和图差特征值,所述图差特征值至少包括三种取值。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国测试技术研究院辐射研究所,其通讯地址为:610000 四川省成都市玉双路10号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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