核工业理化工程研究院张涛获国家专利权
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龙图腾网获悉核工业理化工程研究院申请的专利一种束斑轨迹测量装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117008182B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310790604.X，技术领域涉及：G01T1/29；该发明授权一种束斑轨迹测量装置及方法是由张涛;闫超;许文强;赵国华;高学林设计研发完成，并于2023-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种束斑轨迹测量装置及方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种束斑轨迹测量装置及方法。束斑轨迹测量装置包括：支撑平板，与所述支撑平板垂直固定连接的横板测试架以及至少两个竖板测试架；所述横板测试架与至少两个竖板测试架中的第一竖板测试架间隔设置，所述至少两个竖板测试架中的相邻两个竖板测试架间隔设置；其中，电子束在磁场的作用下，穿过至少两个竖板测试架中的第N个竖板测试架的竖板测试板后发生偏转，依次穿过N‑1个竖板测试板后，进入横板测试架的横板测试板及横板测试块，并在所述横板测试块上形成电子束斑点，根据所述电子束斑点在横板测试块上所在位置，确定电子的束斑轨迹，N为大于1的正整数。本发明的方案提高了测量精度及测试效率。
本发明授权一种束斑轨迹测量装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种束斑轨迹测量装置，其特征在于，包括： 支撑平板1， 与所述支撑平板1垂直固定连接的横板测试架2以及至少两个竖板测试架； 所述横板测试架2与至少两个竖板测试架中的第一竖板测试架3间隔设置，所述至少两个竖板测试架中的相邻两个竖板测试架间隔设置； 其中，电子束在磁场的作用下，穿过至少两个竖板测试架中的第N个竖板测试架的竖板测试板后发生偏转，依次穿过N-1个竖板测试板后，进入横板测试架2的横板测试块22，并在所述横板测试块22上形成电子束斑点，根据所述电子束斑点在横板测试块22上所在位置，确定电子的束斑轨迹，N为大于1的正整数。
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