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龙图腾网获悉武汉海飞通光电子科技有限公司申请的专利相干参数测试方法、电子设备及程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120820302B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510783088.7，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权相干参数测试方法、电子设备及程序产品是由王飞;张德川;余升设计研发完成，并于2025-06-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本相干参数测试方法、电子设备及程序产品在说明书摘要公布了：本申请提供一种相干参数测试方法、电子设备及程序产品，涉及数据处理技术领域。方法包括：获取光谱数据，光谱数据包括多个光谱波长采样点，和每个波长采样点对应的光强数据；根据光谱数据，基于第一预设步长对光谱数据进行光程差采样，得到多个光程差采样点，作为第一采样点集；根据光谱数据和第一采样点集，基于第二预设步长对光谱数据进行光程差采样，得到多个光程差采样点，作为第二采样点集，第二预设步长小于第一预设步长；根据光谱数据和第二采样点集，通过预设参数测算策略，确定光谱数据对应的相干参数，作为测试结果。如此，可以改善传统相干参数测试方式通过固定采样步长进行光程差采样，在宽范围测量中存在计算量太大的问题。

本发明授权相干参数测试方法、电子设备及程序产品在权利要求书中公布了：1.一种相干参数测试方法，其特征在于，所述方法包括： 获取光谱数据，所述光谱数据包括多个光谱波长采样点，和每个波长采样点对应的光强数据； 根据所述光谱数据，基于第一预设步长对所述光谱数据进行光程差采样，得到多个光程差采样点，作为第一采样点集； 根据所述光谱数据和所述第一采样点集，基于第二预设步长对所述光谱数据进行光程差采样，得到多个光程差采样点，作为第二采样点集，所述第二预设步长小于所述第一预设步长； 根据所述光谱数据和所述第二采样点集，通过预设参数测算策略，确定所述光谱数据对应的相干参数，作为测试结果； 其中，根据所述光谱数据和所述第一采样点集，基于第二预设步长对所述光谱数据进行光程差采样，得到多个光程差采样点，作为第二采样点集，包括： 根据所述第一采样点集，确定所述光谱数据的相干强度分布中的最大值，作为所述相干强度分布的主峰位置： ； 式中，表示主峰位置，表示第一采样点集，表示第一采样点集对应的相干强度分布； 获取以所述主峰位置为中心的预设局部采样范围； 在所述预设局部采样范围内，基于所述第二预设步长对所述光谱数据进行光程差采样，得到所述第二采样点集，表示如下： ； 式中，表示第二采样点集，表示主峰位置，表示预设局部采样范围，表示第二预设步长，第二预设步长小于第一预设步长，为被采点数。

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