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龙图腾网获悉芯恩(青岛)集成电路有限公司申请的专利芯片失效类型的数据分类方法及装置、存储介质和终端获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117076972B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210487539.9，技术领域涉及：G06F18/24；该发明授权芯片失效类型的数据分类方法及装置、存储介质和终端是由林光启;陈真设计研发完成，并于2022-05-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片失效类型的数据分类方法及装置、存储介质和终端在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片失效类型的数据分类方法及装置、存储介质和终端，其中方法包括获取待测芯片的设计信息，并基于设计信息获取待测芯片的尺寸信息、逻辑位置与物理位置对应信息以及失效类型信息；获取待测芯片的测试数据，并基于尺寸信息和逻辑位置与物理位置对应信息将测试数据转化为测试物理位置信息；基于测试物理位置信息通过优化聚类算法对待测芯片的失效位进行聚类，以获取失效聚类结果；基于失效类型信息和失效聚类结果对待测芯片的失效位进行分类，以获取待测芯片的失效分类结果。本方法通过优化聚类算法提高了聚类运算效率，节省了运算所占用的内存，大大提高了芯片失效类型获取效率；提高了数据读取和保存效率，节省了存储空间。

本发明授权芯片失效类型的数据分类方法及装置、存储介质和终端在权利要求书中公布了：1.一种芯片失效类型的数据分类方法，包括： 获取待测芯片的设计信息，并基于所述设计信息获取所述待测芯片的尺寸信息、逻辑位置与物理位置对应信息以及失效类型信息； 获取所述待测芯片的测试数据，并基于所述尺寸信息和所述逻辑位置与物理位置对应信息将所述测试数据转化为测试物理位置信息； 基于所述测试物理位置信息通过优化聚类算法对所述待测芯片中的失效位进行聚类，以获取失效聚类结果； 基于所述失效类型信息和所述失效聚类结果对所述待测芯片的失效位进行分类，以获取待测芯片的失效分类结果； 其中，所述优化聚类算法包括： 将目标区块中的第N行列点位作为目标行列点位； 通过一维聚类算法对所述目标行列点位中的失效位进行聚类，以获取一维聚类结果； 将所述一维聚类结果中和最新定义的临时聚类结果中相邻的聚类类型进行合并，以获取目标聚类结果； 判断N是否等于第一预设阈值，若是则将最新获取的所述目标聚类结果作为区块失效聚类结果，否则N加1，将最新获取的所述目标聚类结果定义为临时聚类结果，并重新将第N行列点位作为目标行列点位， 其中N的初始值为1，且当N为1时，最新定义的临时聚类结果为无，所述待测芯片包括多个区块，每个所述区块包括多行或多列点位，所述第一预设阈值为所述区块中的点位行数或点位列数； 所述基于所述失效类型信息和所述失效聚类结果对所述待测芯片的失效位进行分类，以获取待测芯片的失效分类结果步骤包括： 分别对所述待测芯片中每个区块中的聚类类型进行分类，以获取每个所述区块的区块分类结果，所有所述区块的区块分类结果形成所述待测芯片的失效分类结果； 其中，对单个区块中的聚类类型进行分类过程包括： 判断该区块中所有聚类类型中的所有失效位总个数是否大于第一预设个数，若是则判定该区块为块状失效模式，否则分别判断该区块中的所有聚类类型是否符合线型失效设定，并将符合线型失效设定的聚类类型设定为线型失效模式，而后分别判断该区块中的剩下聚类类型是否符合点状失效设定，并将符合点状失效设定的聚类类型设定为点状失效模式，将不符合点状失效设定的聚类类型设定为其它失效模式； 其中，所述线型失效设定为所述聚类类型中的失效位个数大于第二预设个数，所述点状失效设定为所述聚类类型中只有一个失效位、具有连续两个失效位或具有四个相邻且形成正方形的失效位。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人芯恩(青岛)集成电路有限公司，其通讯地址为：266000 山东省青岛市黄岛区太白山路19号德国企业南区401；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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