华中科技大学苏金龙获国家专利权
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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利基于辐射计的透波材料复介电常数测量方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119395386B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410785093.7，技术领域涉及：G01R27/26；该发明授权基于辐射计的透波材料复介电常数测量方法及装置是由苏金龙;李红娟;胡飞;郭茗茗;朱冬设计研发完成，并于2024-06-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于辐射计的透波材料复介电常数测量方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了基于辐射计的透波材料复介电常数测量方法及装置，属于无源微波毫米波遥感与探测技术领域。方法包括准备NN≥3块不同厚度的材料样品，厚度记为d[d1,d2,d3…，dN]，样品厚度应均小于该材料的趋肤深度，以保证电磁波能有效穿透样品；在入射角θ下测量所有厚度的材料样品线极化透射率，记为γ[γ1,γ2,γ3…，γN]；利用拟合算法根据透波材料透射率的计算公式拟合输出损耗指数因子Qεr,θ、菲涅尔反射率Tpεr,θ；再利用Qεr,θ和Tpεr,θ计算出复介电常数εr。本发明能得到透波材料复介电常数的唯一解，实现对透波材料复介电常数精确测量。
本发明授权基于辐射计的透波材料复介电常数测量方法及装置在权利要求书中公布了：1.基于辐射计的透波材料复介电常数测量方法，其特征在于，包括以下步骤： 1取N块不同厚度的待测透波材料样品，厚度记为d[d1,d2,d3…，dN]，样品厚度均小于该待测透波材料的趋肤深度；其中N为大于等于3的整数； 2在入射角θ下，测量所有厚度的样品p极化透射率，记为γ[γ1,γ2,γ3…，γN]；其中p为h或v，分别表示水平极化或垂直极化； 3根据下式拟合输出损耗指数因子Q、菲涅尔反射率Tp； 4联立Tp和Q求解复折射率： A+2＝A-2+n'2-n”2-sin2θ 从而得到复介电常数，表示为： εr＝εr'-jεr” εr'＝n'2-n”2 εr”＝2n'n” 其中，λ为自由空间波长，n'和n”分别是复折射率实部和虚部。
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