武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司魏竹喧获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司申请的专利AR光波导位姿检测与多机台协同位姿补偿方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121678140B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610206383.0，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权AR光波导位姿检测与多机台协同位姿补偿方法及系统是由魏竹喧;刘璐宁;周泽;何鹏;郑增强设计研发完成，并于2026-02-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本AR光波导位姿检测与多机台协同位姿补偿方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种AR光波导位姿检测与多机台协同位姿补偿方法及系统，属于智能检测技术领域，方法包括：使用AR光波导标准镜片样品标定位姿检测机台和光学性能检测机台的测试原点，并利用位姿检测机台获取标准样品的参考图像；建立位姿检测机台与光学性能检测机台之间的位移轴齐次变换关系；将待测的AR光波导样品固定于位姿检测机台的测试原点，依次进行法向位姿和水平位姿的检测与补偿，以完成六自由度位姿检测与补偿；将位姿检测机台获得的六自由度位姿补偿信息同步至光学性能检测机台，基于齐次变换关系计算光学性能检测机台的位移轴补偿量，实现位姿协同校准。本发明显著提升AR光波导性能检测的调试与检测效率，并确保检测结果的可靠性。
本发明授权AR光波导位姿检测与多机台协同位姿补偿方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种AR光波导位姿检测与多机台协同位姿补偿方法，其特征在于，包括： 使用AR光波导标准镜片样品标定位姿检测机台和光学性能检测机台的测试原点，并利用位姿检测机台获取标准样品的参考图像； 建立所述位姿检测机台与所述光学性能检测机台之间的位移轴齐次变换关系； 将待测的AR光波导样品固定于所述位姿检测机台的测试原点，依次进行法向位姿和水平位姿的检测与补偿，以完成六自由度位姿检测与补偿； 将所述位姿检测机台获得的六自由度位姿补偿信息同步至所述光学性能检测机台，基于所述齐次变换关系计算所述光学性能检测机台的位移轴补偿量，实现位姿协同校准。
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