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龙图腾网获悉苏州天禄光科技股份有限公司申请的专利一种导光板缺陷分析方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121141697B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511524176.1，技术领域涉及：G01N21/95；该发明授权一种导光板缺陷分析方法及系统是由梅坦;李红军设计研发完成，并于2025-10-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种导光板缺陷分析方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种导光板缺陷分析方法及系统，涉及导光板缺陷分析技术领域，包括如下步骤：搭建缺陷扫描工作台，在不同波长条件下对导光板进行照射，并拍摄得到缺陷初始图像；对缺陷识别图像进行图像预处理，得到缺陷识别图像；对缺陷识别图像进行缺陷分析，提取缺陷识别图像中的缺陷边界，并由缺陷边界得到缺陷区域；将具有缺陷区域的导光板命名为测试板，并对测试板进行感知测试，测试并分析得到感知阈值；提取缺陷区域的缺陷参数，参考感知阈值判断导光板的缺陷是否无影响；本发明用于解决现有的导光板缺陷分析技术还存在过度依赖人为设定的阈值以及对导光板的缺陷判断不准确，导致导光板的良品率较低的问题。

本发明授权一种导光板缺陷分析方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种导光板缺陷分析方法，其特征在于，包括如下步骤： 搭建缺陷扫描工作台，在不同波长条件下对导光板进行照射，并拍摄得到缺陷初始图像； 对缺陷识别图像进行图像预处理，得到缺陷识别图像； 对缺陷识别图像进行缺陷分析，提取缺陷识别图像中的缺陷边界，并由缺陷边界得到缺陷区域； 将具有缺陷区域的导光板命名为测试板，并对测试板进行感知测试，测试并分析得到感知阈值； 提取缺陷区域的缺陷参数，参考感知阈值判断导光板的缺陷是否无影响； 对缺陷识别图像进行缺陷分析，提取缺陷识别图像中的缺陷边界，并由缺陷边界得到缺陷区域包括如下子步骤： 将左光源、前光源、右光源以及后光源照射时拍摄得到的缺陷识别图像分别命名为左缺陷识别图、前缺陷识别图、右缺陷识别图以及后缺陷识别图，在对任意缺陷识别图像进行分析时，将其命名为目标分析图； 将目标分析图中的像素点命名为目标图像点，将目标图像点的灰度值命名为目标图像灰度，将目标分析图中处于第i行第j列的目标图像点标记为Pi,j，其中，i和j均为非零自然数且i,j为P的序号，将Pi,j的目标图像灰度标记为Hi,j； 以行为单位，按照从上到下的顺序将每一行的Pi,j标记为PHi，以列为单位，按照从左到右的顺序将每一列的Pi,j标记为PLj； 若目标分析图为左缺陷识别图或右缺陷识别图，则获取PHi，同时对PHi中的Pi,j进行编号，通过符号THi,n表示，其中，n为非零自然数且n的取值范围与j相同，所述THi,n中的n越小，代表目标图像点越靠近亮起的可调波长光源； 若目标分析图为前缺陷识别图或后缺陷识别图，则获取PLj，同时对PLj中的Pi,j进行编号，通过符号TLj,m表示，其中，m为非零自然数且m的取值范围与i相同，所述TLj,m中的m越小，代表目标图像点越靠近亮起的可调波长光源； 将THi,n和TLj,m标记为TRh,g，其中，h和g均为非零自然数且h,g为TR的序号，当目标分析图为左缺陷识别图或右缺陷识别图时，TRh,g代表THi,n，当目标分析图为前缺陷识别图或后缺陷识别图，TRh,g代表TLj,m，将TRh,g对应的目标图像灰度标记为TEh,g； 对h的每个取值独立进行分析，以g=2开始，计算|TEh,g-TEh,g-1|，将计算结果标记为CLh,g，将g加一并重复计算CLh,g，直至达到g的最大值为止； 以CLh,g为X轴建立一维坐标系，命名为缺陷初步分析图，将CLh,g按照g录入缺陷初步分析图，通过聚类算法对缺陷初步分析图进行聚类分析，得到差值聚类，统计差值聚类中的CLh,g的数量，命名为聚类体量，将聚类体量最大的差值聚类剔除，将剩余的差值聚类统称为缺陷待确认聚类，将处于缺陷待确认聚类中的CLh,g对应的TRh,g命名为缺陷待确认点； 对缺陷待确认点进行进一步分析，得到缺陷边界，并由缺陷边界得到缺陷区域； 对缺陷待确认点进行进一步分析，得到缺陷边界，并由缺陷边界得到缺陷区域包括如下子步骤： 分析h的每个取值的缺陷待确认点，若任意两个缺陷待确认点在目标分析图中相邻，则将它们整合为一条缺陷待确认线，若任意缺陷待确认点与任意缺陷待确认线相邻，则将缺陷待确认点纳入缺陷待确认线中； 对目标分析图分析完成后得到不同的缺陷待确认线，将左缺陷识别图、前缺陷识别图、右缺陷识别图以及后缺陷识别图分析得到的缺陷待确认线在目标分析图中进行染色，将所有处于缺陷待确认线上的目标图像点填充为纯白色，得到缺陷边界； 提取由缺陷边界围成的封闭区域，命名为缺陷区域； 将具有缺陷区域的导光板命名为测试板，并对测试板进行感知测试，测试并分析得到感知阈值包括如下子步骤： 将具有缺陷区域的导光板命名为测试板，使用测试板进行导光，通过测试人员观测测试板，由测试人员判断是否存在缺陷，若判断测试板存在缺陷，则将测试板标记为缺陷板，若判断测试板不存在缺陷，则将测试板标记为正常板； 将缺陷板中的缺陷区域命名为有感区域，将有感区域中的像素点命名为有感点，将正常板中的缺陷区域命名为无感区域，将无感区域中的像素点命名为无感点； 获取有感区域中处于同一行的有感点对应的Pi,j之间的j的差值，命名为有感行宽，获取有感区域中处于同一列的有感点对应的Pi,j之间的i的差值，命名为有感列宽，获取有感行宽和有感列宽中的最大值，命名为单区域宽度，获取所有缺陷板的有感区域中的单区域宽度的最小值，命名为最小有感缺陷宽度； 获取无感区域中处于同一行的无感点对应的Pi,j之间的j的差值，命名为无感行宽，获取无感区域中处于同一列的无感点对应的Pi,j之间的i的差值，命名为无感列宽，获取所有缺陷板的无感区域的无感行宽和无感列宽中的最大值，命名为最大无感缺陷宽度； 计算最小有感缺陷宽度与最大无感缺陷宽度的平均值，得到感知阈值。

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