中国科学院沈阳自动化研究所;上海宇航系统工程研究所徐志刚获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院沈阳自动化研究所;上海宇航系统工程研究所申请的专利六自由度柔性对接与位姿测量平台及其使用方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121734707B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610226905.3，技术领域涉及：B64G7/00；该发明授权六自由度柔性对接与位姿测量平台及其使用方法是由徐志刚;张啸;贺云;白鑫林;吴俊武设计研发完成，并于2026-02-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本六自由度柔性对接与位姿测量平台及其使用方法在说明书摘要公布了：本发明涉及航天器地面仿真实验领域，具体地说是一种六自由度柔性对接与位姿测量平台及其使用方法，该平台包括平台基础底座，平台基础底座上方均布3个柔性机构，每个柔性机构上方均设有支撑架，支撑架上方固定连接对接机构安装接口；对接机构安装接口下表面均布3个立方体，3个立方体设有6个测量基准面，6个测量基准面形成3个平面，3个平面相互垂直；每个测量基准面的相对侧均设有激光测距单元，本发明中通过柔性机构可以有效降低执行机构响应速度慢带来的位置超调，力超限等问题；同时，可以实时6自由度姿态测量，将柔性机构的姿态变化实时接入半物理测量平台计算，从而消除柔性机构带来的运动失真。
本发明授权六自由度柔性对接与位姿测量平台及其使用方法在权利要求书中公布了：1.一种六自由度柔性对接与位姿测量平台，其特征在于，包括平台基础底座、柔性机构、支撑架、对接机构安装接口，平台基础底座上方均布3个柔性机构，每个柔性机构上方均设有支撑架，支撑架上方固定连接对接机构安装接口；对接机构安装接口下表面均布立方体Ⅰ、立方体Ⅱ、立方体Ⅲ，立方体Ⅰ、立方体Ⅱ、立方体Ⅲ的底面均作为测量基准面且共面，立方体Ⅰ、立方体Ⅱ、立方体Ⅲ的底面分别为测量基准面、测量基准面、测量基准面；立方体Ⅰ的其中一个侧面与立方体Ⅱ的其中一个侧面均作为测量基准面且共面，立方体Ⅰ、立方体Ⅱ作为测量基准面的侧面分别为测量基准面、测量基准面，立方体Ⅲ的其中一个侧面作为测量基准面Ⅲ，且与测量基准面、测量基准面相互垂直；测量基准面、测量基准面、测量基准面、测量基准面、测量基准面、测量基准面Ⅲ的相对侧分别设有固定在平台基础底座上的激光测距单元Ⅰ、激光测距单元Ⅱ、激光测距单元Ⅲ、激光测距单元Ⅳ、激光测距单元Ⅴ、激光测距单元Ⅵ。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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