上海芬创信息科技有限公司曾志超获国家专利权
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龙图腾网获悉上海芬创信息科技有限公司申请的专利一种光学元件表面缺陷的自动检测与分类系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121830720B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202610303579.1,技术领域涉及:G01N21/95;该发明授权一种光学元件表面缺陷的自动检测与分类系统是由曾志超;张岚;徐亚国;李伟;龚屹东;杨眉剑设计研发完成,并于2026-03-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种光学元件表面缺陷的自动检测与分类系统在说明书摘要公布了:本发明涉及精密光学检测技术领域,公开了一种光学元件表面缺陷的自动检测与分类系统,包括半球形可编程LED点阵光源阵列、工业面阵相机、电控液晶偏振调制器及中央处理器,处理器驱动光源阵列扫描获取时序图像序列,提取感兴趣区域的最大平移特征向量与时域灰阶方差,并计算生成光度位移梯度积,系统依据该指标将感兴趣区域分流至重构验证或偏振确诊队列;轨迹重构模块通过验证漫反射连续平移属性确诊表面附着缺陷;偏振模块通过计算局部偏振对比度确诊结构破坏缺陷。本发明利用光度位移梯度积与偏振调制技术,实现了对表面异物与结构性损伤的精确分类,降低了检测系统的过杀率。
本发明授权一种光学元件表面缺陷的自动检测与分类系统在权利要求书中公布了:1.一种光学元件表面缺陷的自动检测与分类系统,其特征在于,包括:半球形可编程LED点阵光源阵列、包含相机镜头的工业面阵相机、装配于所述半球形可编程LED点阵光源阵列发光端与所述相机镜头前方的电控液晶偏振调制器、以及中央处理器;所述中央处理器包括: 初始化与图像采集模块,用于驱动所述半球形可编程LED点阵光源阵列扫描并触发所述工业面阵相机获取初始时序图像序列; 定位与特征提取模块,用于对所述序列执行最大值投影与分割提取感兴趣区域,并提取所述感兴趣区域的最大平移特征向量与时域灰阶方差; 参数计算与调度模块,用于计算光度位移梯度积,并将对应的所述感兴趣区域分别推入重构验证队列或偏振确诊队列; 轨迹重构模块,用于验证所述重构验证队列中感兴趣区域的漫反射连续平移属性,以确诊表面附着缺陷区域; 偏振调制与结构解析模块,用于通过旋光调制计算所述偏振确诊队列中感兴趣区域的局部偏振对比度,以确诊结构破坏缺陷区域; 自适应分类与输出模块,用于提取分类标签并映射至三维绝对坐标系,生成分类检测拓扑报告; 所述参数计算与调度模块通过将所述最大平移特征向量的模长与所述时域灰阶方差进行乘性联合加权,并结合随工况环境热漂移校正后的基础底噪强度均值,计算生成所述光度位移梯度积; 所述轨迹重构模块通过所述工业面阵相机内参矩阵将二维像素平移特征映射至三维物理反射切面,生成预测三维物理坐标阵列,并比对二次采图的灰度质心位移轨迹与所述预测三维物理坐标阵列的吻合度。
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