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最新专利技术
  • 一种GIS绝缘缺陷的变分频窄带相位关联诊断方法及装置
    一种GIS绝缘缺陷的变分频窄带相位关联诊断方法及装置_国网浙江省电力有限公司宁波供电公司_202610209560.0
    本发明公开了一种GIS绝缘缺陷的变分频窄带相位关联诊断方法及装置，涉及GIS绝缘检测技术领域，通过获取目标频段待检测设备的窄带信号流，划分为多个连续窄带子频段并对其进行降噪处理以获取有效窄带子频段；根据有效窄带子频段在电力系统工频周期相位上...
    2026-04-06
  • 绝缘检测电路及电气设备
    绝缘检测电路及电气设备_上能电气股份有限公司_202511821059.1
    本发明提供一种绝缘检测电路及电气设备，用于检测连接在电源正极和保护地之间的正极对地绝缘电阻和连接在保护地与电源负极之间的负极对地绝缘电阻；绝缘检测电路包括第一电阻电路，连接在电源正极和保护地之间；第二电阻电路，连接在保护地与电源负极之间；开...
    2026-04-06
  • 一种输电线路感应式绝缘子检测机器人
    一种输电线路感应式绝缘子检测机器人_佛山市禅城区环球电瓷电器物资有限公司_202610039009.6
    本发明涉及绝缘子检测技术领域，并具体公开了一种输电线路感应式绝缘子检测机器人，包括检测支架板，所述检测支架板底部固定连接有第一电动导轨，所述第一电动导轨内部的滑块底部固定连接有第一支撑板，所述第一支撑板底部固定连接有第二电动导轨，所述第二电...
    2026-04-06
  • 一种半导体器件失效分析方法
    一种半导体器件失效分析方法_洪启集成电路(珠海)有限公司_202511672292.8
    本发明涉及一种半导体器件失效分析方法。本发明所述的半导体器件失效分析方法包括以下步骤：选择被测半导体器件失效区域中的至少一个失效端口作为输入端口，通过所述输入端口获取所述被测半导体器件的异常信号图像；将所述异常信号图像与合格半导体器件测试反...
    2026-04-06
  • 结温标定电路、方法、装置、电子设备及存储介质
    结温标定电路、方法、装置、电子设备及存储介质_潍柴动力股份有限公司_202511674162.8
    本申请涉及电力技术领域，具体提供一种结温标定电路、方法、装置、电子设备及存储介质，旨在解决IGBT结温标定重复性差、准确率低的问题。为此目的，本申请的结温标定电路包括：漏极接母线电源的正极，源极接开关电路的一端的上桥标定金属氧化物场效应管，...
    2026-04-06
  • 用于测试一个或多个发光元件的装置
    用于测试一个或多个发光元件的装置_英德科技有限公司_202511699976.7
    一种用于测试一个或多个发光元件(200)的装置(100)，包括至少一个用于固定一个发光元件(200)的支架单元(112)、至少一个用于沿第一方向移动支架单元(112)的执行器单元(114)以及至少一个测试单元(120)，所述测试单元(120...
    2026-04-06
  • 一种半导体器件的间歇性寿命可靠性测试电路及方法
    一种半导体器件的间歇性寿命可靠性测试电路及方法_江苏慧易芯科技有限公司_202610190573.8
    本发明涉及一种半导体器件的间歇性寿命可靠性测试电路及方法，所述测试电路包括：电源、分压电路、被测器件和比较电路，所述分压电路并联在电源的正极和负极之间，分压电路输出预设电压值的参考电压；所述负载的第一端连接被测器件的第二功率端子，第二端接地...
    2026-04-06
  • 基于多维度耦合效应的功率器件双脉冲测试方法及系统
    基于多维度耦合效应的功率器件双脉冲测试方法及系统_中国科学院近代物理研究所_202610204577.7
    本发明提供一种基于多维度耦合效应的功率器件双脉冲测试方法及系统，属于功率半导体器件测试技术领域，方法包括：控制向被测功率器件的控制端输入双脉冲激励信号；双脉冲激励信号至控制端的驱动线路上的驱动电阻可调；在不同温度条件与不同阻值的驱动电阻的多...
    2026-04-06
  • 测试载板及测试方法
    测试载板及测试方法_新唐科技股份有限公司_202510035279.5
    本发明公开了一种测试载板及测试方法，该测试载板包括一第一导线、一第二导线、一第三导线、一插槽以及一开关。第一导线传送一第一测试信号。第二导线传送一第二测试信号。第三导线传送一感测信号。插槽用以设置一待测元件。开关提供第一测试信号或第二测试信...
    2026-04-06
  • 侦错系统和用于操作侦错系统的方法
    侦错系统和用于操作侦错系统的方法_熵码科技股份有限公司_202511311575.X
    本发明揭示一种侦错系统，其包括侦错传输模组、第一侦错模组、第二侦错模组和模组选择器。第一侦错模组耦接至第一处理核心，且第二侦错模组耦接至第二处理核心。模组选择器耦接至侦错传输模组、第一侦错模组和第二侦错模组。当第一值被写入侦错传输模组的选择...
    2026-04-06
  • 半导体芯片的调测方法、芯片及存储介质
    半导体芯片的调测方法、芯片及存储介质_广州芯之联科技有限公司_202511598745.7
    本申请提出了半导体芯片的调测方法、芯片及存储介质，属于芯片加工技术领域，该方法包括：初始化第一半导体芯片中的端口复用选择模块和DFT功能电路；响应于确定来自于测试平台的目标测试指令的测试类型为DFT测试，将端口复用选择模块中与目标测试指令对...
    2026-04-06
  • 一种芯片测试系统
    一种芯片测试系统_深圳米飞泰克科技股份有限公司_202511640149.0
    本申请涉及集成电路测试领域，提供一种芯片测试系统，用于测试位于基板上的多个芯片，芯片测试系统包括：定位设备、测试PCB板、测试座以及测试设备；定位设备用于定位基板；测试座包括多个第一测试位，多个第一测试位的排列方式与多个芯片的排列方式相同，...
    2026-04-06
  • 电路故障检测装置、嵌入式系统和电路的故障检测方法
    电路故障检测装置、嵌入式系统和电路的故障检测方法_杭州华澜微电子股份有限公司_202511649145.9
    本申请公开了一种电路故障检测装置、嵌入式系统和电路的故障检测方法，属于电子领域。该电路故障检测装置包括：中断管理模块、中断统计模块和故障判决模块；所述中断管理模块与所述中断统计模块耦接，所述中断统计模块与所述故障判决模块耦接；其中，所述中断...
    2026-04-06
  • 一种电子板卡检测装置
    一种电子板卡检测装置_中国人民解放军海军工程大学_202511904307.9
    本发明公开了一种电子板卡检测装置，包括进料传送部件和出料传送部件，进料传送部件和出料传送部件之间固定设有底座，底座一侧设有测试主机和显示屏，测试主机连接有多插槽适配器，底座上部设有与进料传送部件上表面持平的中转辊，底座上部固定设有连接有插拔...
    2026-04-06
  • 一种线路板测试装置
    一种线路板测试装置_惠州鸿鑫智控科技有限公司_202511925914.3
    本发明公开了一种线路板测试装置，涉及线路板技术领域，包括测试机构，所述测试机构的内部设置有校准机构，所述测试机构的背面设置有翻转机构，所述校准机构的底部与测试机构的内部固定连接；所述测试机构包括底板，所述底板的顶部固定连接有支撑杆，所述支撑...
    2026-04-06
  • 一种阵列式自适应插针测试系统
    一种阵列式自适应插针测试系统_重庆金康动力新能源有限公司_202511944891.0
    本申请涉及一种阵列式自适应插针测试系统，包括视觉定位系统、插针系统、压力控制系统以及计算机系统、测试装置；视觉定位系统将PCB电路板的表面图像传输至计算机系统，计算机系统基于此生成各测试点位的矩阵坐标并传输至插针系统；插针系统基于矩阵坐标对...
    2026-04-06
  • 一种用于PCBA检测的多层测试架装置
    一种用于PCBA检测的多层测试架装置_上海丸旭电子科技有限公司_202511972696.9
    本发明公开了一种用于PCBA检测的多层测试架装置，包括矩口层架、在矩口层架内部自上而下等间距活动安装的多个载件台以及安装在矩口层架顶端并用于带动多个载件台同步活动的电动进出组件，所述矩口层架表面的一侧安装有和电动进出组件输入端保持电性连接的...
    2026-04-06
  • 一种低阻值CAF测试系统及方法
    一种低阻值CAF测试系统及方法_广东微谱标准技术有限公司_202511975043.6
    本发明公开了一种低阻值CAF测试系统及方法，包括多个测试回路，每个所述测试回路均包括测试接口，多个所述测试回路用于对多个待测对象进行测试；阻值切换单元，所述阻值切换单元与所述测试回路相串联，所述阻值切换单元包括多种不同阻值的保护电阻；控制单...
    2026-04-06
  • 一种芯片电性参数在线智能校准方法及系统
    一种芯片电性参数在线智能校准方法及系统_苏州芯钛半导体科技有限公司_202512045014.6
    本发明提供了一种芯片电性参数在线智能校准方法及系统，涉及参数校准技术领域，方法包括：对目标芯片进行物理状态感知，得到多模态状态数据；进行实时工作场景识别；调用历史时序状态序列；进行电性参数动态偏差预测，输出目标参数预测偏差值；基于时序违例事...
    2026-04-06
  • 一种电源芯片生产检测装置及检测方法
    一种电源芯片生产检测装置及检测方法_广州市力驰微电子科技有限公司_202610068690.7
    本发明公开了一种电源芯片生产检测装置及检测方法，包括：检测台，检测台顶端设置有输送带限位板，输送带限位板端部内侧均通过轴连接有从动辊，从动辊外侧滚动连接有输送带主体，输送带主体表面设置有芯片放置模具，芯片放置模具顶端吻合放置有电源芯片主体，...
    2026-04-06
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