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  • 本发明公开了一种板坯宏观中心偏析与微观析出物之间对应关系的分析方法,属于金属材料检测技术领域。该方法首先对板坯试样进行低倍腐蚀,清晰显示宏观中心偏析带;随后根据偏析带的形貌和腐蚀深浅,在代表不同偏析程度(无偏析、轻微偏析、严重偏析)的特定位...
  • 本申请涉及晶体缺陷检测领域,公开了一种晶圆中位错的检测方法、装置、电子设备和程序产品,方法包括:获取在目标g矢量下,X射线与待测晶圆的位错相互作用产生的衍射图像;确定所述衍射图像中与所述位错相对应的所有衬度线条的总长度;确定X射线在所述待测...
  • 本申请涉及一种样品杆机构、透射电镜及透射电镜的原位加热测试方法。所述样品杆机构包括:杆本体、芯片、导电承载件及供电组件,所述芯片承载于所述杆本体,所述芯片包括基板、第一电极及第二电极,所述第一电极与所述第二电极承载于所述基板且间隔设置;所述...
  • 本申请涉及EBSD制样技术领域,公开了用于EBSD的电子元器件镶嵌样FIB制样方法,包括:S1、按照预设要求对样品进行切片处理,采用冷镶嵌的方式对切片处理后的样品进行镶嵌处理,获得镶嵌样品;S2、采用逐级研磨抛光策略对镶嵌样品进行处理;S3...
  • 本发明公开了一种X射线斩波轮结构,包括铜壳,铜壳内具有安装腔,铜壳沿轴向的两端分别贯穿设置有第一开口和第二开口;铜壳的端面上设有预准直器,预准直器上沿轴向贯穿形成有入射口,入射口的一端用于与X射线源连通,另一端连通第一开口;铜壳背离预准直器...
  • 本发明提供一种用于大电流工况下电化学反应的X射线吸收谱表征系统及方法,大电流电化学工作站为工况电解池提供不低于的电流密度;工况电解池包括相对设置的工作电极室和对电极室,以及设置在两者之间的离子交换膜;工作电极室包括由金属薄片制成的导电板,导...
  • 本发明公开了一种测量辐射防护材料等效铅当量的方法,包括以下步骤:选取多种厚度的标准铅片等间距排列形成铅当量测试卡,在同一辐射条件下,分别对铅当量测试卡和待测辐射防护样品进行辐照,接收经参考标准或待测样品衰减后的射线,形成参考图像和待测图像;...
  • 本发明公开了一种涂布材料中元素含量的检测方法及装置,方法包括测量涂覆前基础材料的第一射线机头衰减数据,给出基材元素面密度;在基础材料的表面涂覆包含目标元素的涂料层,形成涂布材料;测量涂布材料的第一射线机尾衰减数据、第二射线机尾衰减数据;基于...
  • 本发明公开了一种多孔介质多场耦合流体流动特征同况无损评价方法,涉及油气储层开发技术领域。该方法通过CT扫描特殊多孔介质岩样获取内部结构信息,经图像处理与三维重构构建三维数字母模型;基于该模型采用3D打印技术制备等效人造岩样,通过孔喉修复与连...
  • 本申请提供一种壳体射线检测智能化辅助装置及其使用方法,壳体射线检测智能化辅助装置包括底座组件、夹持组件、伸缩组件、胶片固定组件以及数控中心,底座组件设于射线检测机一侧,夹持组件设于底座组件上以夹持壳体并带动壳体绕其轴向转动,伸缩组件一端设于...
  • 本申请提供了一种斩波系统、成像检测系统及其切换方法,斩波系统包括斩波结构,斩波结构开设狭缝并且被配置为可转动结构,以将入射的X射线束调制为飞点;驱动机构用于驱动斩波结构转动;平移机构用于驱动斩波结构进行平移运动;其中,斩波系统被配置为:在背...
  • 本发明公开了一种板状物件表面缺陷微焦点X光视觉检测设备,其载物台呈水平承载被测的板状物件;射线源为信号发射器,探测器为信号采集器;载物台用于实现Z向和X向平移,并能实现水平面中的旋转,分处在载物台上方和下方的射线源和探测器能够随矩型框实现摆...
  • 本发明公开了一种用于石材幕墙缺陷检测的系统和方法。该系统包括移动搭载平台、缺陷检测机构、信号传输机构和地面控制终端,移动搭载平台包括爬墙机器人和搭载支架,搭载支架安装缺陷检测机构和信号传输机构;缺陷检测机构包括高频雷达扫描仪和带动其移动的驱...
  • 本发明涉及工业浆液性能检测技术领域,特别是一种粉煤灰浆液混合均匀性在线检测装置及方法,包括多参数集成传感器模块、伸缩升降机械模块、管路旁路检测模块、信号处理与计算单元和人机交互界面,多参数集成传感器模块集成微波浓度传感器、光学传感器和超声波...
  • 本发明公开了一种基于谐波检测的信息超构材料反射系数测量方法及系统,涉及电磁材料测试技术领域。包括:发射机产生单音信号入射至信息超构材料,将用于测量信息超构材料反射系数的周期性控制信号加载至信息超构材料单元,信息超构材料对入射信号进行时间调制...
  • 本发明属于光学成像自动检测仪器技术领域,尤其公开了一种全自动高速成像检测仪器,包括置物板,用于放置待检测的PCB板,且所述置物板的顶部贯穿开设有放置孔;光学成像单元,对称分布在所述置物板的顶部和底部,用于对放置在所述物架上的PCB板进行拍照...
  • 本发明公开了一种芯片表面质量双面检测系统,涉及芯片表面检测领域,包括检测台,检测台上开设有滑槽,滑槽内滑动装配有定位板,定位板的顶面固定有横向定位凸台与纵向定位凸台,横向定位凸台与纵向定位凸台呈直角连接,用于形成定位基角,检测台上设置有夹持...
  • 本申请公开了一种热电厂烟气管道的视觉成像装置,涉及热电厂烟气设备技术领域,包括基座、相位测量相机以及防护外壳,防护外壳套设于相位测量相机周侧。基座上安装有清洁装置和旋转驱动件,旋转驱动件的输出轴与相位测量相机固定连接,防护外壳的周侧与清洁装...
  • 本申请提供一种环形式大口径球面光学元件三维扫描方法和装置,属于光学元件扫描技术领域。本申请提供的方法包括:基于大口径曲面光学元件的中心空间位置和扫描子孔径尺寸参数确定大口径曲面光学元件上多个环形扫描区域;遍历每个环形扫描区域,完成大口径曲面...
  • 本发明提供一种激光检测系统,激光检测系统包括:激光发射端、聚光物镜、半透半反镜、样品台、探测端、成像模块和调控模块;激光发射端包括:激光器、分束器、多个移相器和QBH阵列;半透半反镜将平顶光束分成一束检测子光束和一束监测子光束,并将检测子光...
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