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  • 本发明涉及加速度传感器校准技术领域,具体涉及一种用于校准传感器加速度数据的设备及其使用方法。包括采集传感器在静止、匀速、匀加速和变加速四种典型工况下的加速度与真实位移数据;通过静止数据估计零偏并判别坐标系参数,对动态数据进行重力解耦与偏差校...
  • 本发明公开了一种光纤加速度传感器频率响应自校准方法与装置,涉及光纤传感领域,该装置包括激光光源、振动激励源、微型起振单元和信号解调校准算法,光纤加速度传感器采用零光程差对称推挽式结构,在传统光纤加速度传感器的内部设置一微型起振单元,微型起振...
  • 本发明涉及测试设备技术领域,且公开了一种传感器用检测装置,包括外壳,所述外壳的内壁转动连接有活动门,所述外壳的内壁固定连接有支撑台,所述支撑台的顶部固定连接有测试环,所述外壳的内壁转动连接有转动轴,所述转动轴的圆周面滑动连接有移动板,所述移...
  • 本发明提供了一种基于原子力显微镜系统的跨尺度测量方法及装置,包括:使原子力探针位于待测样品的初始测量位置的上方,且第一位移平台位于其行程初始状态;驱动原子力探针下针,使其从远离待测样品表面的位置运动至逼近待测样品表面的位置;当沿第一位移平台...
  • 本发明涉及半导体制造技术领域,提供了一种利用FIB制备TEM样品薄片的交叉减薄方法,旨在解决现有技术中当TEM样品薄片厚度低于某一临界值时,因材料强度不足以支撑内部应力而发生弯曲变形的问题。本方法的核心在于采用了一种交叉减薄的策略,在FIB...
  • 本发明提供一种微悬臂、探针及原子力显微镜,该微悬臂应用于原子力显微镜,所述微悬臂包括第一区域、第二区域和第三区域,所述第一区域和所述第三区域分别设置在所述微悬臂的两端,所述第二区域在所述第一区域和所述第三区域之间,所述第一区域用于固定所述微...
  • 本发明实施例公开了一种扫描NV探针显微镜,包括用于探测样品表面形貌信息的原子力显微系统和用于探测样品表面磁场分布信息的光探测磁共振系统,原子力显微系统包括振动臂和金刚石探针,光探测磁共振系统包括NV色心、跃迁激发光路、荧光探测光路;待扫描的...
  • 本申请公开了一种电磁兼容性检测装置,所述电磁兼容性检测装置包括:工作台、电磁兼容性检测件、上料机构和下料机构,工作台上设置有检测台面,电磁兼容性检测件设置于检测台面的上方,电磁兼容性检测件与检测台面之间间隔设置,电磁兼容性检测件用于检测检测...
  • 本发明公开了用于射频芯片的测试板防插反结构及射频芯片测试装置,涉及芯片测试技术领域。该用于射频芯片的测试板防插反结构,包括测试板以及设于其下方的基座面板,还包括防插反结构、卡接限位装置以及除碎屑装置,卡接限位装置用于在防插反结构下移时对其进...
  • 本发明公开了一种母差保护测试工作台,涉及测试装置技术领域,具体包括底座板、上盖板,所述上盖板的内部放置有微机保护测试仪,所述底座板与上盖板之间设置有剪刀式升降机构,且底座板与上盖板在剪刀式升降机构的调节下能够相离扩展或相近收纳,所述底座板的...
  • 本发明公开了一种具有控温保护功能的电池夹具,涉及电池夹具技术领域,包括夹持组件,包括支撑座,所述支撑座的顶部设置有放置框,所述放置框的底部固定有斜板,所述支撑座的顶部设置有吹气件,所述支撑座的两侧均设置有预紧件,所述预紧件包括设置于支撑座一...
  • 本发明公开一种多模式可靠性测试用老化座,包括底盘组,所述的底盘组上设有外接针,所述的底盘组顶部设有限位座,所述的限位座安装有上盖组,所述的外接针上设有卡针安装板,所述的卡针安装板安装有三个传输卡针,所述的卡针安装板设有压紧板,所述的传输卡针...
  • 本发明提供了一种工装组件及热界面片安装方法,涉及半导体测试技术领域,本发明提供的工装组件包括定位工装,定位工装包括第一工装本体和压合组件;第一工装本体设有至少一个定位腔,定位腔设有用于热界面片以及压头进出的第一开口,定位腔的侧壁设有相对设置...
  • 本发明涉及一种现场耐压试验用终端出线杆连接装置及方法,用于连接终端出线杆进行现场耐压试验,包括:绝缘杆、脱开器、电动机械爪、夹具电极、磁吸接头和摄像头,脱开器可拆卸安装在绝缘杆的顶部,电动机械爪安装在脱开器上,电动机械爪的夹爪上连接有夹具电...
  • 本发明公开了一种轴承电腐蚀测试装置, 包括 : 底座和轴承安装平台, 轴承安装平台两端分别设有前端盖和后端盖, 轴承安装平台包括转轴; 所述后端盖上设有后辅助板, 后端盖上设有第二装配槽, 第二装配槽与第三装配槽中均装有第二紧固栓, 后辅助...
  • 本发明涉及电流传感与测试技术领域,具体地说,涉及一种带温度补偿功能的模块化智能电流探针结构及其应用,包括基座,其顶面上设有若干电流传感机构,电流传感机构包括由外到内依次设置的探针座、主体探针以及采样探针。该带温度补偿功能的模块化智能电流探针...
  • 本发明公开了一种弱电工程用检测设备,包括测电笔,测电笔包括测电握持主体、安装罩板和检测头,安装罩板固定在测电握持主体的一端,检测头可拆卸安装于安装罩板内侧,测电握持主体外壁且位于安装罩板内侧位置处固定连接有接触电极片。本发明通过在测电握持主...
  • 本发明公开一种探针及探针卡。所述探针包括用于与待测晶圆接触的晶圆接触端和用于与测试机接触的测试机接触端,所述晶圆接触端和所述测试机接触端至少一者设置有散热结构。基于上述设置,所述散热结构能有效加强散热,减少局部热量堆积,进而降低接触端烧损风...
  • 本申请公开探针及探针卡测试系统。探针包括下盖板段、中间段和上盖板段。中间段相对的两端分别连接下盖板段和上盖板段,且中间段比上盖板段和下盖板段粗。由此,下盖板段和上盖板段比中间段细而增加阻抗,使得下盖板段、中间段和上盖板段的阻抗相等或者尽可能...
  • 本发明提供一种探针卡组件及测试装置。所述探针卡组件包括探针卡、电路板和吹气组件,其中:所述探针卡与所述电路板组装,包括探针头。所述吹气组件包括多个出气孔,多个所述出气孔朝向所述探针头的植针区域。通过设置所述吹气组件,且吹气组件的多个出气孔朝...
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