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最新专利技术
  • 一种高压断路器燃弧监测系统及方法
    一种高压断路器燃弧监测系统及方法_巨邦集团有限公司_202511240931.3
    本发明公开了一种高压断路器燃弧监测系统及方法， 涉及电力设备运行状态检测技术领域， 包括以下步骤：S1， 在统一时间基准下同步采集燃弧光谱信号与电磁干扰矢量数据， 并进行初级差分处理， 生成稳定基面信号；S2， 将稳定基面信号输入干扰识别模...
    2026-01-28
  • 海上风电低频断路器状态监测方法、装置、终端及介质
    海上风电低频断路器状态监测方法、装置、终端及介质_广东电网有限责任公司珠海供电局_202511229816.6
    本申请公开了一种海上风电低频断路器状态监测方法、装置、终端及介质， 本方案基于海上风电场现场装配的数据传感器件， 采集低频断路器的监测数据， 包括针对低频断路器测量的机械状态、电气状态等状态类监测数据和低频断路器运行环境的环境类监测数据， ...
    2026-01-28
  • 一种负极继电器粘连检测电路及方法
    一种负极继电器粘连检测电路及方法_福州西诚科技股份有限公司_202511183002.3
    本发明公开一种负极继电器粘连检测电路及方法， 包括控制单元、检测单元、第一固体继电器以及第一主负继电器；所述控制单元的输出端与所述第一固体继电器的前级输入端连接；所述控制单元的检测端与检测单元的后级输出端连接；所述检测单元的前级输出端与所述...
    2026-01-28
  • 基于带载状态下的电客车继电器综合检测试验系统
    基于带载状态下的电客车继电器综合检测试验系统_郑州地铁集团有限公司运营分公司_202511125545.X
    本发明提供一种基于带载状态下的电客车继电器综合检测试验系统， 包括：触点测试板卡， 用于对某个被测继电器的某个触点进行测试， 测试的项目包括触点阻值， 常开触点绝缘阻值， 常闭触点绝缘阻值、常开触点吸合时间， 常开触点释放时间， 常闭触点吸...
    2026-01-28
  • 一种断路器回路模拟装置
    一种断路器回路模拟装置_国网河北省电力有限公司邯郸市永年区供电分公司_202511110515.1
    本发明公开了一种断路器回路模拟装置， 其特征在于， 接线端子J1的引脚1与第一电源模块的引脚1连接， 引脚2与第一电源模块的引脚2连接， 引脚3通过合闸中间继电器模块与第一电源模块的引脚2连接， 引脚4通过分闸中间继电器模块与第一电源模块的...
    2026-01-28
  • 燃料电池系统开关检测方法及燃料电池系统
    燃料电池系统开关检测方法及燃料电池系统_罗伯特·博世有限公司_202410398996.X
    一种用于燃料电池系统的开关检测方法包括在燃料电池系统的直流电压转换器上电或下电过程中执行的下述检测步骤：打开直流电压转换器与动力电池之间供电线路中的开关；记录供电线路中的开关上游侧电压和开关下游侧电压；在设定的时段内将开关上游侧电压和开关下...
    2026-01-28
  • 基于ICAP复用与双路径注入的FPGA故障注入平台、装置及方法
    基于ICAP复用与双路径注入的FPGA故障注入平台、装置及方法_北京深维科技有限公司_202510898193.5
    本发明公开了一种基于ICAP复用与双路径注入的FPGA故障注入平台、装置及方法， 通过引入多路复用器MUX， 在SEM IP与HWICAP IP之间动态切换ICAP访问控制权， 实现ICAP接口的资源共享， 避免了重复占用FPGA的关键配置...
    2026-01-28
  • 芯片测试方法、装置、服务器、存储介质和程序产品
    芯片测试方法、装置、服务器、存储介质和程序产品_中国电信股份有限公司技术创新中心_202511004837.8
    本申请涉及一种芯片测试方法、装置、服务器、存储介质和程序产品。所述方法包括：通过可视化界面接收测试请求；所述测试请求中包括待测试芯片的型号信息和需求信息；基于所述型号信息、所述需求信息和预设知识库， 确定对所述待测试芯片进行测试的提示词；所...
    2026-01-28
  • 用于电路板的测试装置
    用于电路板的测试装置_苏州元脑智能科技有限公司_202511293178.4
    本申请提供了一种用于电路板的测试装置， 包括：箱体包括相对设置的第一安装板和第二安装板；驱动机构包括第一驱动部件；传动部件与第一驱动部件的驱动端连接；承载部件设于第一安装板， 包括移动件和承载件， 移动件与传动部件传动连接， 承载件设于移动...
    2026-01-28
  • 探针针座及晶圆测试设备
    探针针座及晶圆测试设备_成都云绎智创科技有限公司_202511256831.X
    本发明公开了一种探针针座及晶圆测试设备， 涉及晶圆测试技术领域， 探针针座包括调节座、线缆固定器以及压力传感器；调节座的沿横向的一侧设置有摆臂；线缆固定器包括相互连接的安装支架和夹线结构， 安装支架与调节座连接， 夹线结构形成供第一线缆穿过...
    2026-01-28
  • 半导体老炼测试电路及方法
    半导体老炼测试电路及方法_上海华岭申瓷集成电路有限责任公司_202511191983.6
    本发明公开了一种半导体老炼测试电路及方法， 属于集成电路技术领域， 该半导体老炼测试电路， 包括三温测试区域， 待测芯片内SIP封装有互连的FPGA、Flash和DDR器件， 待测芯片的内部还集成有功能老化模块， 用于功能老化测试， 配置接...
    2026-01-28
  • 一种基于激光修调的DC-DC电路可测性测试方法及装置
    一种基于激光修调的DC-DC电路可测性测试方法及装置_中国电子科技集团公司第五十八研究所_202511162062.7
    本发明公开一种基于激光修调的DC‑DC电路可测性测试方法及装置， 属于芯片测试领域。本发明通过配置电路移位寄存器， 控制电路进入测试模式， 使得内部上下功率管工作于恒定导通或者关断状态， 通过施加电流激励信号， 即可实现导通阻抗的测试；在测...
    2026-01-28
  • 芯片的漏电流测试装置及方法
    芯片的漏电流测试装置及方法_苏州盛科通信股份有限公司_202511069078.3
    本发明公开了一种芯片的漏电流测试装置及方法， 漏电流测试装置包括芯片测试座， 接口模块和控制模块；芯片测试座上集成有温控单元和电流采集单元；接口模块与芯片测试座信号连接， 用于获取待测芯片的实时温度和实时电流参数， 并反馈至控制模块；控制模...
    2026-01-28
  • 一种氮化镓半导体芯片集成封装测试夹治具
    一种氮化镓半导体芯片集成封装测试夹治具_广东芯思迈半导体有限公司_202511027793.0
    本发明涉及测试夹治具技术领域， 具体涉及一种氮化镓半导体芯片集成封装测试夹治具， 包括基座， 基座的顶部安装有测试电路板， 基座和测试电路板的表面搭接有芯片放置座， 芯片放置座的顶端通过连接机构卡接有连接框， 连接框的顶部搭接有顶盖， 顶盖...
    2026-01-28
  • 一种边发射激光器芯片的测试装置及系统
    一种边发射激光器芯片的测试装置及系统_武汉云岭光电股份有限公司_202511011081.X
    本发明提供了一种边发射激光器芯片的测试装置， 包括测试机构、控温机构、温度探测反馈机构、探针加电机构和电控组件；所述控温机构连接于测试机构的下方， 所述温度探测反馈机构连接于控温机构下方， 所述探针加电机构连接于温度探测反馈机构下方， 所述...
    2026-01-28
  • 一种制冷型红外探测器杜瓦的管脚测试装置及测试方法
    一种制冷型红外探测器杜瓦的管脚测试装置及测试方法_浙江拓感科技有限公司_202511008998.4
    本发明涉及杜瓦测试技术领域， 具体提供了一种制冷型红外探测器杜瓦的管脚测试装置及测试方法， 包括：控制器；PCB测试板， 与控制器， 以及待测杜瓦的各个管脚相连接；PCB测试板设置有用于连接各个管脚的多个集成线路， 集成线路的触点与待测杜瓦...
    2026-01-28
  • 电压切换电路、测试方法、测试驱动器以及电压切换系统
    电压切换电路、测试方法、测试驱动器以及电压切换系统_上海季丰电子股份有限公司_202511002975.2
    本申请提供一种电压切换电路、测试方法、测试驱动器以及电压切换系统， 涉及电路设计技术领域。其中， DCDC转换器的使能引脚与测试驱动器的第一驱动输出端电连接、开关节点引脚与第一电感的一端电连接， 第一电感的另一端与各电压切换单元的输出端电连...
    2026-01-28
  • 一种控温换气系统及老化测试设备
    一种控温换气系统及老化测试设备_长迈半导体(成都)有限公司_202510993222.6
    本发明提供了一种控温换气系统及老化测试设备， 涉及半导体测试技术领域， 本发明提供的控温换气系统包括第一传感器、第二传感器、风机和控制器， 第一传感器、第二传感器和风机均与控制器连接；第一传感器配置为检测设备内的臭气浓度， 第二传感器配置为...
    2026-01-28
  • 一种霍尔采集电路的测试装置及系统
    一种霍尔采集电路的测试装置及系统_浙江绿源电动车有限公司_202510975051.4
    本发明公开了一种霍尔采集电路的测试装置及系统。该装置包括：霍尔输出信号模拟模块、供电正检测模块、供电负检测模块、控制模块及通信模块；霍尔输出信号模拟模块用于根据控制模块输出的脉冲指令输出脉冲霍尔信号至待测霍尔采集电路以使待测霍尔采集电路通过...
    2026-01-28
  • 集成电路测试方法及系统
    集成电路测试方法及系统_深圳市乾益电子科技有限公司_202510902462.0
    本发明涉及集成电路测试技术领域， 尤其涉及一种集成电路测试方法及系统。所述方法包括以下步骤：对待测集成电路进行上电操作， 并进行探针接触标准比较， 生成探针接触质量评定码；根据探针接触质量评定码进行探针通道分配处理， 并进行磁场激励频段分析...
    2026-01-28
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