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  • 本发明公开了一种基于周期性微纳结构的分布式建筑形变检测方法,包括以下步骤:步骤S1、制作光子晶体;步骤S2、将光子晶体用柔性环氧树脂附着于建筑物的表面,进行固化;步骤S3、无人机靠近光子晶体收集反射出的光谱信号;步骤S4、通过光谱映射模型计...
  • 本发明涉及一种长大隧道变形智能监测系统与方法,包括多维光纤传感网络、数据采集与解调单元、数据处理与智能分析中心及安全预警模块,多维光纤传感网络包括分布式线型光纤传感系统、光纤光栅传感元件和光纤惯性测量单元,分布式线型光纤传感系统用于隧道纵向...
  • 本发明属于光纤分布式传感技术领域,公开了一种高可靠性光纤光栅形变测量方法,其包括:通过在机翼前梁侧立面或上下表面布设沿翼展方向延伸的光纤光栅对,获取各位置的应变信息。在此基础上,基于材料力学中弯矩‑形变关系和结构信息对机翼弯曲形变进行解算,...
  • 本申请涉及巷道形变监测方法技术领域,具体涉及一种三维激光扫描的巷道变形监测装置及监测方法,所述三维激光扫描的巷道变形监测方法,包括:激光扫描仪、控制器、数据采集模装置、无线传输模块、定位模块,单轨道和移动组件,单轨道设置在巷道内,且移动组件...
  • 本发明公开了基于光纤传感器监测的地铁隧道形变分析系统,涉及地铁隧道形变监测技术领域,解决了现有技术中,干扰因素难以分离,列车高频振动、温度往复浮动、渗水侵蚀等多源干扰相互叠加,导致应变数据失真的技术问题,具体为通过多参数(应变、温度、湿度、...
  • 本发明提供了一种无缝钢管制造用外径检测设备,包括:辊式输送机、基座、旋转机构、光学检测机构、驱动机构和对向推动机构;该设备整个检测过程可实时记录并追溯全周向的测量数据,为质量控制与产品品质改进提供全面可靠的参考依据,配合辊式输送机的连续输送...
  • 本发明涉及橡胶检测技术领域,具体地说,涉及橡胶件质量检测装置及其检测方法。其包括检测分度盘,检测分度盘的外周依次设置有支架和两个升降装置,支架上设置有激光测径传感器,激光测径传感器悬设于振动盘送料器的上方,用于对经过的橡胶件进行直径测量;升...
  • 本发明公开了一种球面波前半径动态优化测量方法及系统,属于光学测量技术领域。旨在解决现有方法依赖高精度硬件或物理标记、测量精度不足的问题。方法包括:获取干涉图并提取含理论偏差与加工误差的面形信息;消除调整误差;基于几何关系构建以球面波前半径为...
  • 本发明公开了一种检测纸的厚度的激光测量装置,包括:机柜,所述机柜内部底端设置有H形架;框壳,所述框壳设置在机柜内部底端,所述框壳右侧开设有滑槽;伺服电机,所述伺服电机设置在框壳顶面;螺杆,所述螺杆贯穿且转动安装在框壳内部顶端;环架,所述环架...
  • 本发明属于光通信无源器件检测技术领域,涉及光纤连接器端面研磨精度的在线光学检测方法及系统。其方法包括:获取待测光纤连接器端面的高度数据,计算高度数据的梯度场;基于梯度场中各像素点在局部窗口内的统计特征确定各像素点的微观波动指数;根据各像素点...
  • 本发明提供一种汽轮机叶片厚度的测量方法及装置。所述方法包括:按照预设扫描参数对汽轮机叶片进行扫描,得到第一点云数据;对所述第一点云数据进行点云预处理,得到第二点云数据;对所述第二点云数据进行粗配准处理,得到第三点云数据;对所述第三点云数据进...
  • 本发明公开了一种厚度测量装置及厚度测量方法。厚度测量装置包括测试平台、激光发射模块、激光接收模块和控制模块。测试平台用于承载待测样品;激光发射模块分别发射探测激光至测试平台和待测样品,探测激光经测试平台漫反射后形成反射激光入射至激光接收模块...
  • 本发明属于光学薄膜测量技术领域,具体涉及一种石英基底光学薄膜厚度的测量方法及系统。本发明包括获取石英基底的表面坐标模型,并将薄膜区域划分为平行测量区域与非平行测量区域;对所述两类区域分别执行平行测量与非平行测量,以获取共同构成原始厚度数据的...
  • 本发明涉及激光测量技术领域,特别是涉及一种金属板材厚度测量用激光测量装置和方法,一种金属板材厚度测量用激光测量装置,包括底座、翻板和转板,翻板设有两个,每个翻板包括推板、缓冲板和预接组件,推板和缓冲板均转动设置于底座且两者的转动轴线重合,转...
  • 本发明涉及薄膜厚度检测技术领域,提供一种薄膜厚度检测装置,包括检测台,所述检测台的顶部安装有支撑架,所述支撑架的内部开设有避让槽,所述避让槽的内侧壁开设有滑槽,所述支撑架的顶部固定连接有支撑板,所述支撑架的顶部安装有防护罩,所述防护罩的外壁...
  • 本发明涉及光学检测技术领域,提供一种基于瞬态吸收的薄膜厚度测试系统,包括光源模块、分光模块、激发模块、延迟模块、探测模块、样品模块、采集模块和数据处理模块;光源模块用于发射激光;分光模块用于将激光分成两路;激发模块用于利用一路激光产生激发光...
  • 本发明涉及晶圆特征测量技术领域,公开了一种基于高光谱的晶圆薄膜厚度评估系统,包括光学模块,用于通过高光谱仪器对所述晶圆薄膜的各子区域发射照射光,数据采集模块,用于采集所述晶圆薄膜的各子区域的反射光,并根据采集的反射光构建上表面反射光集合与下...
  • 本发明公开了一种漆包线漆膜厚度检测方法及系统,涉及漆膜厚度检测技术领域,包括在生产线上的第一工位,对行进中的漆包线进行非接触式高速圆周扫描,获取漆包线表面形貌的完整连续数据流;将所述数据流转化为沿漆包线长度方向的一维表面特征序列,并基于预设...
  • 本发明涉及一种用于电子组件的生产线的制造机。制造机包括:(a)机架;(b)制造工具,制造工具直接或间接地可移动地或空间固定地安装在机架上;和(c)光学检查系统,光学检查系统直接或间接地可移动地或空间固定地安装在机架上。光学检查系统具有:(c...
  • 本申请属于测试测量技术领域,具体涉及一种基于结构化轮廓线的紧固件尺寸测量方法及系统。该方法包括:将标定块放置在检测平台上进行图像采集,将标定块的上边缘线作为基准线;取下标定块,并将紧固件放置在检测平台上进行图像采集;从紧固件图像的外轮廓上提...
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