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  • 本申请提供了多物理场耦合的SGT MOS可靠性分析平台及方法, 涉及半导体技术领域, 所述平台包括:结构层拆分模块, 对SGT MOS器件进行结构层拆分;独立系数矩阵构建模块, 导入每个物理场下损伤状态样本数据;耦合物理场定义模块, 定义耦...
  • 本申请属于集成电路设计验证技术领域, 具体揭示了一种基于动态QoS调控的SoC性能验证方法、装置、介质及设备, 包括:对芯片架构进行解析, 获取芯片资源映射表;基于所述芯片资源映射表构建自动化验证环境并进行测试;根据目标应用场景并基于所述芯...
  • 本公开涉及半导体制造技术领域, 具体涉及一种版图检测方法及装置, 方法包括:根据待检测版图中不同区域内膜层信息, 获取不同区域的器件类型;获取真值表中器件类型的器件结构定义信息;获取设计规则手册中器件类型的设计规则信息;根据器件结构定义信息...
  • 本发明涉及集成电路设计技术领域, 特别涉及一种焊球管理系统和方法。所述焊球管理系统包括:信息获取模块:用于从输入的设计版图中获取焊球层和端口层, 端口层包括多个端口;焊球创建模块:用于在焊球层上基于预设创建模式创建焊球;焊球连接模块:用于将...
  • 本发明提供一种芯片仿真测试中的失效定位方法、装置及程序产品, 涉及芯片测试技术领域。该方法包括:获取对待测芯片进行仿真测试时失败的测试用例;提取测试用例的数据包序列, 并从数据包序列中提取目标数据包序列段;基于目标数据包序列段对待测芯片进行...
  • 本发明涉及功率半导体器件设计技术领域, 尤其涉及一种屏蔽栅沟槽MOSFET的建模方法及系统。所述方法包括以下步骤:选取屏蔽栅沟槽结构的特征点关键位置, 其中特征点关键位置包括拐角、边缘和中心, 通过二维模拟计算特征点关键位置的电场强度, 生...
  • 本发明公开了一种陶瓷电路板生产参数优化方法及装置, 涉及图像数据处理技术领域。该种陶瓷电路板生产参数优化方法, 包括以下步骤:缺陷特征识别与第一生产参数优化;特征点提取与第二生产参数优化;重合度量化与第三生产参数优化。本发明通过导热条件下的...
  • 本发明公开一种基于动态规划的芯片线路详细布局优化方法, 在芯片电路布线的时序驱动的详细布局流程中, 包括步骤:将初始晶体管位置静态时序分析, 识别出关键路径上的负slack区域, 并以此区域为目标开展启发式优化;自适应搜索窗口界定:根据单元...
  • 本发明涉及焊球阵列优化技术领域, 一种玻璃基板FC‑BGA封装中低翘曲焊球阵列优化方法及系统, 包括:确认出玻璃基板及多个焊球, 设计初步阵列布局, 创建三维几何模型, 对三维几何模型进行热加载模拟, 得到多个热应力分布云图, 对多个热应力...
  • 本发明公开了一种油浸式变压器电‑磁路耦合模型的快速计算系统及方法, 系统包括:磁路模型构建模块、电路模型构建模块和耦合计算模块;所述磁路模型构建模块用于确定变压器的物理参数, 并基于所述物理参数构建油浸式变压器的磁路模型;所述电路模型构建模...
  • 本发明涉及EDA算法设计领域, 特别涉及一种时钟树聚类方法、系统、设备、介质及产品。时钟树聚类方法步骤如下:输入初始时钟树, 提取待驱动元件的位置与电容参数, 基于元件位置构建最小生成树;删除树中长度大于聚类代价f的边, 得生成树集合。将生...
  • 本发明公开一种自适应标准框调整与通孔优化的快速布线方法, 包括步骤:对芯片区域进行初始化划分, 获得初始化区域;对初始化区域拥塞评估操作;判断拥塞评估结果是否达到可再次划分的条件, 若达到二次划分的条件则将此划分区域进行区域分类, 然后再次...
  • 本申请提供了一种总线网络的总线间距确定方法、装置、设备及介质, 包括:基于总线宽度以及DRC规则对总线网络中的信号线的初始布线参数进行配置, 确定出初始采样点集合;对初始采样点集中的每一组候选布线参数配置的各信号线的信号延迟进行并行仿真处理...
  • 本发明涉及电子设计自动化技术领域, 特别是涉及基于深度遍历的网络环路检测方法、电子设备及存储介质, 其通过获取目标网络下的节点集合和边集合, 为每个节点构建邻接表并遍历获取环路队列, 并进行标准化处理, 去除重复的环路, 得到所有不重复的标...
  • 本申请涉及一种基于真空蚀刻的PCB精密线路侧蚀抑制方法, 包括:从印制电路板设计文件中获取线路特征数据, 构建包含坐标位置和特征数值的多维参数矩阵;根据多维参数矩阵中的线路特征变量, 采用回归分析算法建立蚀刻液流速的计算模型;通过计算模型生...
  • 本发明涉及汽车电路计算机辅助设计技术领域, 本发明公开了一种汽车电路系统逻辑图生成方法和系统, 所述方法包括:定义整车所有电器零件的接口信息, 将所述接口信息中的各个基础信息通过ID方式进行关联;根据所述接口信息自动生成电路系统逻辑图中的电...
  • 本发明的目的是提供一种计算符合条件的器件数量的方法及系统, 该方法包括:获取版图信息;获取需要计算数量的器件信息;根据所述版图信息和所述需要计算数量的器件信息计算符合条件的器件数量。本发明能够提升版图执行效率, 减小不必要操作步骤, 可在不...
  • 本申请提供了一种电路板测试点确定方法及电子设备, 可以应用于电路板技术领域。该电路板测试点确定方法包括:测试点确定程序获取针对目标电路板的设计数据, 其中, 设计数据包括至少一个走线网络的物理信息;针对任一走线网络, 在任一走线网络的名称与...
  • 本发明提供了一种减少二极管反向漏电流的方法及系统, 通过将电极末端设计为多级阶梯结构, 延长电势变化的物理路径, 使电场梯度分布更为平缓;同时在主电极外围设置电隔离的环形辅助电极, 并施加中间电势, 引入横向电场分量, 与纵向电场叠加后重构...
  • 本发明公开了基于演化算法的PCB板布局优化方法、系统、设备及介质, 涉及电子设计自动化领域, 方法包括:S1:获取PCB板生成的初始布局;S2:判断迭代次数是否大于等于最大迭代次数;S3:若是, 则结束;S4:若否, 则根据当前布局产生随机...
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