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最新专利技术
  • 可编程逻辑器件测试方法、云网关器件测试方法及可编程逻辑器件测试装置
    可编程逻辑器件测试方法、云网关器件测试方法及可编程逻辑器件测试装置_云智能资产控股(新加坡)私人股份有限公司_202410524197.2
    本说明书实施例提供可编程逻辑器件测试方法、云网关器件测试方法及可编程逻辑器件测试装置， 可编程逻辑器件测试方法， 应用于仿真平台， 仿真平台用于对可编程逻辑器件进行仿真测试， 包括：确定可编程逻辑器件对应的至少两个测试实例， 其中， 至少两...
    2026-01-27
  • 一种基于近似三模冗余单元的低成本软错误加固方法
    一种基于近似三模冗余单元的低成本软错误加固方法_复旦大学_202510939198.8
    本发明公开了一种基于近似三模冗余单元的低成本软错误加固方法。该方法包括：近似库建立：对待加固电路的基本门单元构建近似门单元， 整体建立近似门单元库；软件建模：获取电路中各标准门单元的基本信息， 依据软错误传播物理模型， 对电路的性能进行评估...
    2026-01-27
  • 一种基于定点的数字谐振抑制滤波器设计方法
    一种基于定点的数字谐振抑制滤波器设计方法_绵阳市五八机器人科技有限责任公司_202510879041.0
    本发明提供了一种基于定点的数字谐振抑制滤波器设计方法， 应用于机器人关节驱动器， 将基于浮点的数字滤波器在不改变其性能前提下修改为基于定点的数字滤波器， 大大降低了计算时间；同样定点DSP芯片下在不降低效果情况下基于定点的数字谐振抑制滤波器...
    2026-01-27
  • 一种复用DFT链作为bootrom的芯片结构
    一种复用DFT链作为bootrom的芯片结构_灿芯半导体(苏州)有限公司_202511350731.3
    本发明公开了一种复用DFT链作为bootrom的芯片结构， 属于芯片设计技术领域， 该芯片结构包括核心、静态随机存储器、系统相关模块和通信相关模块；其中， 核心作为主设备， 而静态随机存储器、系统相关模块和通信相关模块作为从设备；并且核心通...
    2026-01-27
  • 基于大数据分析的芯片测试优化系统和方法
    基于大数据分析的芯片测试优化系统和方法_杭州芯云半导体集团有限公司_202510981031.8
    本申请涉及芯片测试领域， 公开了一种基于大数据分析的芯片测试优化系统和方法， 包括：集成测试模块， 用于根据多种预设场景生成可变测试向量， 并根据多个可变测试向量对芯片进行测试， 得到第一测试结果， 其中， 第一测试结果包括功耗测试结果和性...
    2026-01-27
  • 基于物联网的电流互感器实时状态诊断系统
    基于物联网的电流互感器实时状态诊断系统_浙江硕业电力科技有限公司_202511333124.6
    本发明公开了基于物联网的电流互感器实时状态诊断系统， 涉及电力设备状态诊断技术领域， 包括基准构建模块、扰动激发模块、建模辨识模块、驱动解缠模块、自适整定模块以及闭环控制模块：基准构建模块， 在电流互感器二次绕组回路运行过程中， 建立纳秒级...
    2026-01-27
  • 构建变频负荷聚合模型的方法及装置
    构建变频负荷聚合模型的方法及装置_中国电力科学研究院有限公司_202510701444.6
    一种构建变频负荷聚合模型的方法及装置， 该方法包括：获取变频负荷的实时数据；对变频负荷的实时数据进行时间序列分析， 提取变频负荷的动态变化特征；基于变频负荷的动态变化特征， 识别变频负荷的不同工作模式；以及基于识别出的变频负荷的不同工作模式...
    2026-01-27
  • 一种芯片仿真方法及其装置
    一种芯片仿真方法及其装置_合肥杰发科技有限公司_202510726592.3
    本申请提出一种芯片仿真方法及其装置。芯片仿真方法包括：获取对目标芯片的静态时序分析中的初始延迟数据集以及目标芯片中出现时序违例的违例时序单元；根据违例时序单元对应的建立时间余量和保持时间余量确定目标值；基于目标值修改初始延迟数据集中目标单元...
    2026-01-27
  • 一种高速高精度时序生成器
    一种高速高精度时序生成器_南京邮电大学_202511360999.5
    本发明属于集成电路技术领域， 公开了一种高速高精度时序生成器， 包含通信接口、时钟生成、存储器模块、数字控制模块、边沿定位电路、边沿合并电路及采样电路。该时序生成器通过在存储器中预存测试向量数据， 并由数字控制模块实时调用， 实现对边沿定位...
    2026-01-27
  • 一种门控时钟电路及装置
    一种门控时钟电路及装置_中国人民解放军国防科技大学_202511010403.9
    本发明公开了一种门控时钟电路及装置， 涉及时钟门控应用技术领域， 本方案通过设置若干个信号处理装置， 对应采集并翻转流水线电路中各逻辑电路的运行结束信号的电平， 通过第一逻辑运算电路对翻转后的运行结束信号进行或运算， 并生成流水线电路的运行...
    2026-01-27
  • 门控时钟电路及芯片、电子设备
    门控时钟电路及芯片、电子设备_芯翼信息科技(上海)有限公司_202510974874.5
    本发明提供一种门控时钟电路及芯片、电子设备， 包括信号控制模块和时钟树模块；信号控制模块根据源时钟信号和所有单比特D触发器的输入信号、输出信号， 生成时钟树信号；时钟树模块根据时钟树信号生成多个子时钟信号；当所有单比特D触发器的输入信号和输...
    2026-01-27
  • 一种基于UVM的验证用例的构建方法及系统
    一种基于UVM的验证用例的构建方法及系统_中科芯磁科技(珠海)有限责任公司_202511374165.X
    本发明涉及UVM测试技术领域， 一种基于UVM的验证用例的构建方法及系统， 包括：确认出测试用例目录中的预配置模版文件及模版文件路径， 其中， 预配置模版文件包括：序列类、虚拟序列类及测试类， 且序列类、虚拟序列类及测试类均包含占位符， 接...
    2026-01-27
  • 基于存储器验证参考模型的验证系统及方法
    基于存储器验证参考模型的验证系统及方法_湖南融创微电子股份有限公司_202511362995.0
    本发明涉及基于存储器验证参考模型的验证系统及方法， 通过将存储器的复杂规格集中在验证虚拟存储参考模型中实现， 虚拟存储参考模型利用了面向对象编程的特性， 能够以模块化独立设计高效、准确地描述复杂存储器的各种扇区及寄存器域等复杂结构， 以及保...
    2026-01-27
  • 数据交互的方法及装置、电子设备和存储介质
    数据交互的方法及装置、电子设备和存储介质_北京清微智能科技有限公司_202511349706.3
    本公开公开了数据交互的方法及装置、电子设备和存储介质， 该方法包括：响应于执行指令指定多模块标识参数， 基于多模块标识参数， 确定执行指令指定分组标识参数， 并基于分组标识参数， 响应于执行指令指定目标参数， 确定目标参数的配置类型， 配置...
    2026-01-27
  • 连通性验证方法及装置、电子设备、计算机可读存储介质
    连通性验证方法及装置、电子设备、计算机可读存储介质_摩尔线程智能科技(北京)股份有限公司_202510976019.8
    本公开提供了一种连通性验证方法及装置、电子设备、计算机可读存储介质， 该方法包括：根据目标系统的多个IP核中待验证的信号连接路径的连接属性信息， 生成目标代码， 连接属性信息包括信号连接路径的源信号位置、目标信号位置及传输延迟阈值；将目标代...
    2026-01-27
  • 一种基于矩量法提取曲面导体电容的快速修正方法
    一种基于矩量法提取曲面导体电容的快速修正方法_北京华大九天工业软件研究院有限公司_202510917109.X
    本发明提供了一种基于矩量法提取曲面导体电容的快速修正方法， 包括以下步骤：对每个导体进行离散化；基于矩量法， 得到导体间的互电容及每个导体的自电容；根据每个导体离散化后的表面积和理想表面积， 得到所述每个导体的电容修正因子；基于所述电容修正...
    2026-01-27
  • 版图文件几何数据处理方法、计算机装置及存储介质
    版图文件几何数据处理方法、计算机装置及存储介质_珠海硅芯科技有限公司_202511325478.6
    本发明提供一种版图文件几何数据处理方法、计算机装置及存储介质， 该方法包括获取三维芯片的版图文件， 提取多边形实体和图层信息， 将多边形实体分配至对应的图层容器中， 为每一图层创建独立的R树索引；对多边形实体进行连通性分析， 返回连通组件集...
    2026-01-27
  • 一种验证方法、装置、设备及可读存储介质
    一种验证方法、装置、设备及可读存储介质_济南迈威智能科技有限公司_202511015405.7
    本申请公开了一种验证方法、装置、设备及可读存储介质， 该方法包括：获取对集成电路中目标节点进行测试所得的采样数据；在目标节点派生于目标类的情况下， 结合传入参数和目标类指示标记确定可抛除指定数据的滑窗；利用滑窗从采样数据中获取目标数据；其中...
    2026-01-27
  • 一种基于GRC系统的DUT多功能测试系统及方法
    一种基于GRC系统的DUT多功能测试系统及方法_上海翼铧科技有限公司_202510950014.8
    本发明涉及一种基于GRC系统的DUT多功能测试系统及方法， 该系统包括GRC系统、DDR存储设备、DUT、HOST；所述DUT包括PCIE、P4；所述GRC系统包括：包产生模块， 用于在对P4进行测试时， 生成符合P4处理要求格式的数据包，...
    2026-01-27
  • 芯片制造工艺的评价方法、装置、设备、介质及产品
    芯片制造工艺的评价方法、装置、设备、介质及产品_摩尔线程智能科技(北京)股份有限公司_202510874137.8
    本申请实施例公开了一种芯片制造工艺的评价方法、装置、设备、介质及产品， 涉及芯片制造工艺领域。该方法包括：确定第一制造工艺下， 功能元件的各个元件参数对应的离散概率分布， 离散概率分布用于表征元件参数采用不同第一取值时， 功能元件的元件数量...
    2026-01-27
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