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  • 一种基于进化信息与Transformer神经网络算法的MHCll结合肽的设计方法, 涉及蛋白质设计领域, 其包括以下步骤:S1、对每种 MHCII 分子的等位基因及其对应结合肽的 binding core 序列提取其进化信息特征, S2、建...
  • 本申请设计的一种基于预训练语言模型的药物‑靶标相互作用预测方法, 融合了自然语言处理与图神经网络技术, 从药物分子SMILES字符串与蛋白质序列中自动提取上下文语义特征, 并通过构建以药物‑靶标对为节点的图结构, 根据嵌入向量之间的相似度定...
  • 本发明公开了基于迁移学习的ASC斑点适体的预测和生成学习模型的方法, 包括:下载DNA适体数据集;将DNA适体和蛋白质序列分别进行特征编码;使用多尺度残差网络编码器提取高延迟特征表示;进行特征融合;建CNN及注意力机制的计算模型, 完成DN...
  • 本发明公开了一种联合网络药理学和孟德尔随机化分析黄芩素抗胃癌作用的方法, 包括:S1、黄芩素潜在靶点收集;S2、获取暴露数据和结局数据;S3、孟德尔随机化分析, 使用R的”TwoSampleMR”软件包进行MR分析;S4、差异分析;S5、建...
  • 本申请公开了蛋白质序列生成方法、装置、电子设备及存储介质, 涉及计算机技术领域, 尤其涉及生物计算、深度学习等人工智能领域。具体实现方案为:获取靶蛋白构象;根据靶蛋白构象, 生成对接蛋白质骨架构象;根据对接蛋白质骨架构象, 生成候选对接蛋白...
  • 本公开提供了一种复合物的结构预测方法、模型训练方法及相关设备, 涉及人工智能技术领域, 具体为深度学习和生物计算等技术领域。方案为:获取生物分子序列组合;其中, 生物分子序列组合是根据指定的多个生物分子序列进行序列组合得到的;预测生物分子序...
  • 本申请提供了一种蛋白质数据的处理方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品;方法包括:根据第一蛋白质与第二蛋白质的不同姿态, 从多个维度对第一蛋白质与第二蛋白质的第一网格数据进行填充, 得到每个姿态分别对应多个维度的第二网格数据;基于每个姿态...
  • 本发明提供一种蛋白质晶体的相位恢复方法及装置, 方法包括:将初始电子密度图作为待优化电子密度图, 翻转待优化电子密度图中低于密度阈值的电子密度值, 得到翻转电子密度图, 以基于初始电子密度图, 对翻转电子密度图的翻转结构因子进行改造, 得到...
  • 本发明公开了一种株水平病原微生物示踪的识别方法、装置及终端, 方法包括:获取目标检测数据, 所述目标检测数据为在目标污水处理厂全流程阶段提取的污水数据;对所述目标检测数据进行预处理, 得到目标组装基因组;对所述目标组装基因组进行可视化分析及...
  • 本申请公开了一种低钠酸菜发酵智能预测模型的确定方法、应用方法及装置, 涉及食品工业智能建模与发酵品质控制领域, 该预测模型的确定方法包括:获取历史酸菜发酵过程中的关键时间点数据;将关键时间点理化与质量安全数据归一化处理, 且按照发酵初期、中...
  • 本申请公开了一种存储设备的测试方法及装置, 涉及存储设备测试技术领域, 包括:根据接收到的测试请求控制待测存储设备在队列深度集合中所包括的参考队列深度下执行测试任务;检测所述待测存储设备在所述参考队列深度下的设备操作参数和延迟参数, 得到具...
  • 本公开涉及一种基于带外测试的SSD盘可靠性验证方法及存储设备, 属于NVMe固态存储设备的测试领域。所述方法包括:统计SSD盘支持的命令集, 并确定其待测试状态, 命令集至少包括SSD带外支持的命令集;基于其待测试状态, 分别确定对应的验证...
  • 本发明提供一种用于测试存储设备读写性能的主机平台、系统及方法, 该主机平台包括:配置解析模块, 用于获取配置文件, 并解析其中的内容;事务处理模块, 用于根据配置解析模块解析的内容创建测试命令, 并以主机时钟加命令引脚的方式发送给存储设备端...
  • 本发明公开了一种存储芯片整合测试系统, 包括测试容器、测试载板、电性测试模块和多个功能测试模块, 所述测试容器设置有温度可调的测试腔体;所述测试载板放置于所述测试腔体内, 用于插置待测的存储芯片;所述功能测试载板连接至测试载板, 用于对插置...
  • 本申请公开了一种存储设备质量检测方法、装置、电子设备及存储介质, 涉及计算机技术领域, 包括以存储块为缺陷检测单位, 对存储块中每个比特位的读写错误情况进行统计, 即生成错误比特位分布图, 最后通过分析错误比特位分布图表征的存储块缺陷范围,...
  • 本公开提供了一种基于FRT表的测试方法、装置、设备及存储介质, 涉及计算机技术领域。方法包括:生成测试序列;测试序列能够覆盖FRT表中的电压组合;基于测试序列, 确定测试模式;测试模式为索引模式或全域模式;基于测试模式和测试序列, 在FRT...
  • 本公开实施例提供了一种半导体测试结构及其制造方法, 其中, 半导体测试结构包括:测试阵列区, 包括阵列排布的测试有源区。沿第一方向排列的多个测试导电线组, 每个测试导电线组包括相邻设置的两条测试导电线以及连接两条测试导电线的第一端的连接部,...
  • 本公开公开了一种测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品, 该测试方法包括:在第一时钟频率下, 通过第一写命令向待测芯片的第一地址写入第一数据;在第二时钟频率下, 向待测芯片发送至少一个第一读命令和第二写命令, 且至少一个第一读命令和第二...
  • 本公开实施例公开了一种芯片测试方法、设备及存储器芯片。芯片测试方法包括:进入压缩读写测试模式, 通过待测芯片的测试焊盘向第一目标地址选中的存储单元写入测试数据;进入正常读写测试模式, 在待测芯片内部, 将测试数据通过数据焊盘进行预设次数的内...
  • 本申请涉及芯片技术领域, 尤其涉及一种存储芯片、修复方法及相关设备, 该芯片中MBIST电路通过存储映射器与多个RAM中的每个RAM耦合;MBIST电路, 用于对多个RAM中的每个RAM进行检测, 并向存储映射器发送修复信息;修复信息用于指...
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