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最新专利技术
  • 一种用于检测铝铬合金中氢含量的检测方法
    一种用于检测铝铬合金中氢含量的检测方法_宁波江丰电子材料股份有限公司_202511155501.1
    本发明涉及一种用于检测铝铬合金中氢含量的检测方法， 所述检测方法包括(1)将待测铝铬合金分割成尺寸为毫米级的试样；(2)将所述试样置于混合酸溶液中进行酸洗处理；随后将试样置于水中进行水洗处理， 得到处理后试样；所述混合酸溶液包括盐酸和水；(...
    2025-12-30
  • 一种耐火材料受热应变应力测试装置及其测试方法
    一种耐火材料受热应变应力测试装置及其测试方法_洛阳市谱瑞慷达耐热测试设备有限公司_202511014633.2
    本发明属于耐火材料测试技术领域， 具体涉及一种耐火材料受热应变应力测试装置及其测试方法， 包括加热炉、测量架、垫板及被测试样；被测试样通过垫板被测量架的两块夹板固定， 加热炉用于对被测试样进行加热；所述测试装置设置有外形测量装置， 该外形测...
    2025-12-30
  • 一种基于二维核磁的页岩热解游离烃S1校正方法
    一种基于二维核磁的页岩热解游离烃S1校正方法_中国石油天然气股份有限公司_202410447525.3
    本发明属于非常规油气地质评价研究领域， 公开了一种基于二维核磁的页岩热解游离烃S1校正方法， 通过二维核磁共振流体识别、分步热解、常规热解、测井资料建模等方法的综合使用， 对原始地层条件下的游离烃量进行预测， 所得到的数值更为准确， 更好的...
    2025-12-30
  • 一种确定过量硅含量的方法
    一种确定过量硅含量的方法_山东科技大学_202510727992.6
    本发明涉及地质学系统算法领域， 具体涉及一种过量硅的确定方法， 包括：样本筛选与数据处理、动态弹性网络回归建模、陆源碎屑硅Si碎屑计算与过量硅Si过量修正等， 本发明设定Si碎屑的计算模型， 引入TOC作为协变量， 捕捉碎屑硅与有机质的联系...
    2025-12-30
  • 荧光X射线分析装置以及用于该荧光X射线分析装置的电源装置
    荧光X射线分析装置以及用于该荧光X射线分析装置的电源装置_株式会社岛津制作所_202510444796.8
    一种荧光X射线分析装置以及用于该荧光X射线分析装置的电源装置。荧光X射线分析装置具备X射线管、检测器、电源装置以及控制装置。X射线管包括灯丝和靶， 向试样照射初级X射线。检测器检测从试样产生的次级X射线。电源装置包括：生成管电压的高压电源部...
    2025-12-30
  • 物料成分分析的校准方法、设备和存储介质
    物料成分分析的校准方法、设备和存储介质_深圳市科尔达智能装备有限公司_202511326416.7
    本申请公开了一种物料成分分析的校准方法、设备和存储介质， 涉及自动化分析技术领域， 所述方法包括：基于所述第一伽马探测器的探测数据解析出的第一伽马能谱， 于参数库中匹配得到物料参数；基于所述第二伽马探测器的采集数据解析出的第二伽马能谱特征峰...
    2025-12-30
  • 物料水分在线监测系统的控制方法、设备和存储介质
    物料水分在线监测系统的控制方法、设备和存储介质_深圳市科尔达智能装备有限公司_202511326417.1
    本申请公开了一种物料水分在线监测系统的控制方法、设备和存储介质， 涉及物料水分监测技术领域， 所述方法包括：启动中子发生器组件， 在中子发生器组件启动时长大于或者等于预热预设时长时， 开启中子探测器组件和伽马探测器；基于中子探测器组件的检测...
    2025-12-30
  • 一种基于全光谱拟合的萤石矿快速识别和定量方法
    一种基于全光谱拟合的萤石矿快速识别和定量方法_天津海关化矿金属材料检测中心_202511153118.2
    本发明公开了一种基于全光谱拟合的萤石矿快速识别和定量方法， 方法包括：获取待测样品；通过XRD检测模块对待测样品进行检测， 确定第一矿物的矿物种类和第一矿物占比；通过单波长X荧光检测模块对待测样品进行检测， 确定第一元素的元素种类和元素含量...
    2025-12-30
  • 样品支撑网格辨识
    样品支撑网格辨识_FEI公司_202510453139.X
    本文的实施方案涉及一种用于样品支撑件辨识的方法。一种系统可包括存储计算机可执行组件的存储器和执行计算机可执行组件的处理器。这些计算机可执行组件可包括：成像组件， 该成像组件捕获包括材料层的未知样品支撑件的图像；和匹配组件， 该匹配组件基于该...
    2025-12-30
  • 基于脉冲快中子的物料成分分析方法、设备和存储介质
    基于脉冲快中子的物料成分分析方法、设备和存储介质_深圳市科尔达智能装备有限公司_202511326413.3
    本申请公开了一种基于脉冲快中子的物料成分分析方法、设备和存储介质， 本申请涉及物料成分分析技术领域， 所述基于脉冲快中子的物料成分分析方法包括：于当前脉冲周期内， 根据第一时间窗口采集瞬发射线信号， 以及根据第二时间窗口采集缓发射线信号；基...
    2025-12-30
  • 一种方便校准的X射线谱仪罗兰圆测试装置
    一种方便校准的X射线谱仪罗兰圆测试装置_安徽国科仪器科技有限公司_202511023578.3
    本发明提供一种方便校准的X射线谱仪罗兰圆测试装置， 包括底板， 所述底板顶面固定有底盘， 底板顶面设置有晶体组件， 晶体组件外壁套接有固定箱， 固定箱内部贯穿设置有旋转机构， 晶体组件一侧连接有连板， 旋转机构顶端转动连接于连板底面， 旋转...
    2025-12-30
  • 一种定量区分孔隙及吼道的方法及系统
    一种定量区分孔隙及吼道的方法及系统_中国石油天然气股份有限公司_202410437640.2
    本发明公开了一种定量区分孔隙及吼道的方法及系统， 涉及石油天然气勘探技术领域， 包括：S1、对洗油和烘干处理后的样品进行CT扫描和图像处理软件处理， 获取样品内部全部孔隙及吼道的体积信息；S2、测定样品润湿性， 如果为水润湿样品， 则用高压...
    2025-12-30
  • 一种管道检测用探伤装置及使用方法
    一种管道检测用探伤装置及使用方法_荆州市永成无损检测有限公司_202511157708.2
    本发明提供了一种管道检测用探伤装置， 包括移动组件， 移动组件包括圆筒， 圆筒上设有滚轮；圆筒内设有可转动的连接筒， 连接筒内可拆卸连接有定向机， 定向机的射线发射部位于圆筒和连接筒外， 圆筒上固定有用于驱动连接筒转动的一号电机。本发明无需...
    2025-12-30
  • 一种利用微波加热的透射电子显微镜原位测试芯片与测试方法
    一种利用微波加热的透射电子显微镜原位测试芯片与测试方法_复旦大学_202511015801.X
    本发明涉及一种利用微波加热的透射电子显微镜原位测试芯片与测试方法， 所述测试芯片包括：硅基片；位于所述硅基片中心的窗口区， 其具有能透过电子束的透明薄膜；微波感应区， 其设于所述透明薄膜上；以及设置在微波感应区上并用于放置待观测样品的观察区...
    2025-12-30
  • 一种使用柔性结构传热的透射电子显微镜低温样品杆
    一种使用柔性结构传热的透射电子显微镜低温样品杆_复旦大学_202511015800.5
    本发明涉及一种使用柔性结构传热的透射电子显微镜低温样品杆， 包括：液氮杜瓦罐；样品杆， 其包括具有前后贯通的中空腔体的样品杆身、导热棒、柔性传热绳， 所述导热棒的一端伸入所述液氮杜瓦罐内部， 另一端则伸入所述样品杆身内部， 所述柔性传热绳的...
    2025-12-30
  • 一种集成电路的开封分析方法
    一种集成电路的开封分析方法_日月新检测科技(苏州)有限公司_202510907005.0
    本发明公开了一种集成电路的开封分析方法， 步骤一：确认镭射区域：将集成电路放入镭射机台， 将X射线图导入镭射机台的操作软件内， 拖动X射线图与集成电路背面图像重合；步骤二：镭射去除塑封体：定位集成电路需镭射区域并进行镭射， 直至底座露出， ...
    2025-12-30
  • 一种微波法原油水分测定仪校准装置及校准方法
    一种微波法原油水分测定仪校准装置及校准方法_山东省计量科学研究院_202510995878.1
    本发明涉及原油水分测定仪技术领域， 且公开了一种微波法原油水分测定仪校准装置及校准方法， 包括机架和贮存筒， 所述机架上安装有输送带， 所述机架上还设置有测定机构、限位机构和输出机构。本发明可对装载有已知含水率原油的贮存筒依次进行输送， 便...
    2025-12-30
  • 一种基于双光路相位偏折术的透明件缺陷检测方法及系统
    一种基于双光路相位偏折术的透明件缺陷检测方法及系统_上海帆声图像科技有限公司_202511239792.2
    本发明公开了一种基于双光路相位偏折术的透明件缺陷检测方法及系统， 属于光学检测技术领域。该系统包括相机、反射光源、分光镜、背透光源和处理单元。检测方法包括首次测量、产品翻转、再次测量以及缺陷综合分析与分类。通过反射式测量获取产品表面的深度图...
    2025-12-30
  • 一种蓝玻璃检测方法及其系统
    一种蓝玻璃检测方法及其系统_徐州威聚电子材料有限公司_202511021130.8
    本发明公开了一种蓝玻璃检测方法及其系统， 包括基于蓝玻璃缺陷类型、应力分布， 配置动态自适应照明；基于动态自适应照明生成明场光源、暗场光源以及偏振场光源， 并进行曝光， 获取三个光源图像；同步采集明场光源、暗场光源以及偏振场光源图像， 获取...
    2025-12-30
  • 光学膜的检查装置、检查方法以及制造方法
    光学膜的检查装置、检查方法以及制造方法_日东电工株式会社_202510436382.0
    本发明提供一种能够高精度地检测光学膜可能产生的裂纹等缺陷的光学膜的检查装置。检查装置(100)具备：配置在光学膜(10)的法线方向的一侧， 对光学膜照射光的第一光源(1)以及第二光源(2)；配置在另一侧， 通过拍摄光学膜来生成拍摄图像的拍摄...
    2025-12-30
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