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最新专利技术
  • 一种超声波局放检测辅助贴合设备及其工作方法
    一种超声波局放检测辅助贴合设备及其工作方法_国网山东省电力公司烟台供电公司_202511698231.9
    本发明涉及一种超声波局放检测辅助贴合设备及其工作方法，属于变电站设备检测技术领域。设备包括夹件，所述夹件用于安装传感器，还包括磁吸座、弹簧座、缓冲弹簧和底座，磁吸座中间设有通孔，夹件以能够沿轴向移动的方式安装在所述通孔内；底座上设有导向孔，...
    2026-04-20
  • 一种用于放电诊断的开关柜检测方法及系统
    一种用于放电诊断的开关柜检测方法及系统_澳希电力金具有限公司_202511779409.2
    本发明涉及开关柜检测技术领域，具体公开了一种用于放电诊断的开关柜检测方法，包括以下步骤：步骤S1：在柜外侧设置振动发射点，内侧设置接收点，通过发射预设强度的检测振动信号并比较接收强度，计算出振动信号在柜体中的振动衰减值；步骤S2：基于该衰减...
    2026-04-20
  • 基于紫外色度的绝缘子串放电严重程度评估方法及装置
    基于紫外色度的绝缘子串放电严重程度评估方法及装置_国网江西省电力有限公司电力科学研究院_202511802506.9
    本发明公开了一种基于紫外色度的绝缘子串放电严重程度评估方法及装置，属于绝缘子检测技术领域。该方法核心在于，通过采集绝缘子串的紫外图像，经预处理后计算多帧图像的均值色度矩阵，进而生成色度差分矩阵及其非零边界的索引矩阵；通过分析索引矩阵的特征，...
    2026-04-20
  • 一种绝缘电缆绝缘状态在线监测方法及装置
    一种绝缘电缆绝缘状态在线监测方法及装置_武汉比邻科技发展有限公司_202511809339.0
    本申请涉及电力设备状态监测技术领域，尤其涉及一种绝缘电缆绝缘状态在线监测方法及装置，方法包括：获取电缆电流数据和电缆本体温湿度数据，根据所述电缆电流数据筛选异常电流数据，并获取所述异常电流数据的频域特征；生成绝缘电缆异常特征数据，构建异常电...
    2026-04-20
  • 一种IGBT驱动器测试装置及其使用方法
    一种IGBT驱动器测试装置及其使用方法_中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂)_202511091148.5
    本发明公开了一种IGBT驱动器测试装置及其使用方法，包括测试板；所述测试板的一端设有支撑组件和测试控制组件，所述支撑组件对驱动板进行支撑，使驱动板与测试板之间存在一定间隙，测试板上设有连接组件与驱动板的信号端连接，所述测试控制组件与连接组件...
    2026-04-20
  • 一种氮化镓器件电流崩塌测试设备
    一种氮化镓器件电流崩塌测试设备_中科空间半导体科技(北京)有限公司_202511481296.8
    本发明涉及氮化镓电流崩塌测试设备技术领域，具体地涉及一种氮化镓器件电流崩塌测试设备，包括屏蔽保护结构和检测处理结构，所述检测处理结构上翻转设有屏蔽保护结构。功率器件分析仪通过限位保护部件与氮化镓器件连接，进行氮化镓器件的电流崩塌测试工作，功...
    2026-04-20
  • 一种铟磷异质结双极晶体管高频特性提取方法
    一种铟磷异质结双极晶体管高频特性提取方法_南通大学_202511494219.6
    本申请提供了一种铟磷异质结双极晶体管高频特性提取方法，包括：获取不同尺寸InP HBT的S参数测试数据；基于测试S参数和InP HBT的T型小信号等效电路模型，提取元件参数；获取射频情况下的正向电流增益和单向功率增益；构建频率提取模型；获取...
    2026-04-20
  • 一种基于半导体功率器件的全自动插件系统
    一种基于半导体功率器件的全自动插件系统_杭州高坤电子科技股份有限公司_202511500241.7
    本申请涉及一种基于半导体功率器件的全自动插件系统，属于电子器件检测的领域，其包括机架、储料机构、上料机构、温度循环机构和转运机构，储料机构设置在机架上且用于存储待检测的半导体功率器件，上料机构设置在机架上且用于将储料机构上待检测的半导体功率...
    2026-04-20
  • 测量曲线的特征识别方法、系统和SMU
    测量曲线的特征识别方法、系统和SMU_上海概伦电子股份有限公司_202511566574.X
    本申请公开一种测量曲线的特征识别方法、系统和SMU，可以获取各个滑动窗口中测量曲线的振幅指数；根据当前滑动窗口的振幅指数和上一个滑动窗口的振幅指数计算振幅升降指数；获取用于描述各个滑动窗口的曲线振动频率特征的振频指数；根据当前滑动窗口的振频...
    2026-04-20
  • 一种用于隔离器件的全自动化寿命测试系统
    一种用于隔离器件的全自动化寿命测试系统_威凯检测技术有限公司_202511608581.1
    本发明公开了一种用于隔离器件的全自动化寿命测试系统，属于半导体器件可靠性测试领域，包括：系统主机，用于提供测试环境并承载多个测试通道；高低压隔离转换模块，与每个测试通道对应设置，用于在各通道的高压老化回路与绝缘电阻测量回路之间进行切换；实时...
    2026-04-20
  • 基于集成气体传感器的IGBT器件健康状态在线监测系统及方法
    基于集成气体传感器的IGBT器件健康状态在线监测系统及方法_天水师范大学_202511659043.5
    本申请提供一种基于集成气体传感器的IGBT器件健康状态在线监测系统及方法，涉及半导体功率器件可靠性监测技术领域。此装置通过在IGBT器件内部集成MEMS气体传感器来检测IGBT内部材料老化释放的特征气体，结合信号处理与分析模块实现对IGBT...
    2026-04-20
  • 一种基于氧化镓单晶的高压功率器件测试方法
    一种基于氧化镓单晶的高压功率器件测试方法_深圳市朗帅科技有限公司_202511814807.3
    本发明公开了一种基于氧化镓单晶的高压功率器件测试方法，涉及半导体测试技术领域，包括，利用高压测试夹具执行零点采样与漂移判断，获取漏电基线和等效寄生电导，并通过寄生电容校准与时基对齐生成校准数据包；依据校准数据包动态搜索护环最优偏置电位，开展...
    2026-04-20
  • 功率模块的测试工况管控方法及装置
    功率模块的测试工况管控方法及装置_长川半导体(深圳)有限公司_202511821389.0
    本申请涉及一种功率模块的测试工况管控方法及装置，该方法包括：在功率模块的测试工况编辑阶段，获取编辑的工况文件；工况文件中包括多个档位的测试电流值和对应的预设持续时长；针对多个档位中每个当前档位的测试电流值，预测基于测试电流值测试时压接处的稳...
    2026-04-20
  • 一种IGBT器件损耗评估方法与相关装置
    一种IGBT器件损耗评估方法与相关装置_成都森未科技有限公司_202511822366.1
    本发明提出一种IGBT器件损耗评估方法与相关装置，对目标仿真电路的工况进行配置，并运行目标仿真电路，获取通态状态下目标仿真电路中各个IGBT器件的第一类参数，获取开通过程和关断过程中目标仿真电路中各个IGBT器件的第二类参数将IGBT器件的...
    2026-04-20
  • 基于瞬态热行为的结温监测模型的构建方法及系统
    基于瞬态热行为的结温监测模型的构建方法及系统_浙江大学_202511823278.3
    本发明公开一种基于瞬态热行为的结温监测模型的构建方法及系统，结温监测模型包括若干个子模型，各子模型对应的校准电流互不相同，校准电流为单脉冲电流；依次将各子模型作为目标子模型，构建目标子模型的方法包括以下步骤：向保持导通状态的目标功率器件施加...
    2026-04-20
  • 电路板生产线路测试装置
    电路板生产线路测试装置_深圳市普林电路有限公司_202511294872.8
    本发明涉及电路板测试技术领域，公开了一种电路板生产线路测试装置，包括安装台、探针测试仪、夹持台，所述探针测试仪与所述安装台活动相连，所述夹持台包括第一摇杆、第一夹持块、第二摇杆、第二夹持块；第一摇杆与第一夹持块的一端通过轴承相连，第二摇杆与...
    2026-04-20
  • 开短路测试程序自动化生成方法、系统及开短路测试机
    开短路测试程序自动化生成方法、系统及开短路测试机_胜达克半导体科技(上海)股份有限公司_202511309385.4
    本发明涉及半导体测试技术领域，尤其是指开短路测试程序自动化生成方法、系统及开短路测试机，所述方法包括：基于开短路测试机与待测芯片进行硬件连接的测试通道，生成通道映射表以明确芯片引脚与测试机通道对应关系；对映射表中每路芯片引脚执行多维度分类，...
    2026-04-20
  • 一种基于温度冲击机制的芯片校准方法及系统
    一种基于温度冲击机制的芯片校准方法及系统_北京煋源科技有限公司_202511354987.1
    本发明涉及芯片测试与校准的技术领域，公开了一种基于温度冲击机制的芯片校准方法及系统；所述芯片校准方法，应用于芯片全温校准设备，具体包括以下步骤：S101：获取上位机的芯片校准请求构建温度冲击环境完成调节，再进行温度冲击循环，在温度冲击过程中...
    2026-04-20
  • 一种测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
    一种测试方法、装置、电子设备及可读存储介质_奇瑞新能源汽车股份有限公司_202511365573.9
    本申请提供了一种测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，属于车载测试技术领域，该方法包括：将待测车载终端配置于带有转毂的环境仓中，若满足第一条件，则基于待测车载终端的测试需求确定环境仓中各个测试模式的配置参数；确定待测车载终端的测试模块和各...
    2026-04-20
  • 基于逻辑深度优化的可测试性设计测试点协同迭代方法
    基于逻辑深度优化的可测试性设计测试点协同迭代方法_桂林电子科技大学_202511375138.4
    本发明提供一种基于逻辑深度优化的可测试性设计的测试点协同迭代优化方法，属于集成电路数字芯片扫描链测试领域。本发明为解决电路进行自动测试向量生成时测试覆盖率过低的问题而提供的一种测试点优化设计方法。所述核心方法包括：通过Tessent工具从原...
    2026-04-20
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