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最新专利技术
  • 测定装置、测定方法以及计算机可读取记录介质
    测定装置、测定方法以及计算机可读取记录介质_横河电机株式会社_202510642765.3
    本发明涉及一种测定装置、测定方法以及计算机可读取记录介质，测定装置(10)从设置于具有基准标记(M)的电极片(S)的送出方向的各检测仪器，分别收集由各检测仪器检测出的基准标记(M)的检测结果，基于收集到的检测结果，对表示设置各检测仪器的间隔...
    2025-12-04
  • 钢卷卷径和宽度测量方法
    钢卷卷径和宽度测量方法_新余钢铁股份有限公司_202510432630.4
    本发明公开了一种钢卷卷径和宽度测量方法，包括步骤：S1、在冷轧生产线入口处设置拆捆带机器人，拆捆带机器人上设置有检测光栅和激光测距传感器；S2、钢卷移送到拆捆带鞍座位，生产线控制系统将钢卷理论直径和宽度信息发送给机器人控制系统，生产线控制系...
    2025-12-04
  • 一种基于多源信息融合的构件多维度信息测量方法及系统
    一种基于多源信息融合的构件多维度信息测量方法及系统_湖南大学_202511538108.0
    一种基于多源信息融合的构件多维度信息测量方法及系统，方法包括：1、获取形变前的荧光散斑图像、纹理图像，将两张图像均通过离散小波变换分解为低频特征、高频特征；2、对形变前的荧光散斑图像、纹理图像的低频特征进行融合；对形变前的荧光散斑图像、纹理...
    2025-12-04
  • 一种机芯尺寸检测用激光测量设备
    一种机芯尺寸检测用激光测量设备_宝捷时计电子(深圳)有限公司_202511464692.X
    本发明公开了一种机芯尺寸检测用激光测量设备，涉及机芯尺寸检测技术，包括检测平台，以及固定安装于检测平台前端的读数控制器；还包括：所述检测平台的上方设置有检测机构，且检测机构包含有激光检测器；其中，激光检测器呈前后对称的方式向下发射光束，用于...
    2025-12-04
  • 一种用于测量工业立体零件的标准量块
    一种用于测量工业立体零件的标准量块_上海易乓乒智能科技股份有限公司_202511400749.X
    本发明涉及工业立体零件测量技术领域，且公开了一种用于测量工业立体零件的标准量块，包括测量标准块本体和手机软件的测量系统，所述测量标准块本体的外部设置有色块，所述测量标准块本体的外部安装有二维码，所述测量标准块本体的内部固定安装有磁吸块。该用...
    2025-12-04
  • 位置检测装置及连续炉
    位置检测装置及连续炉_天津三环乐喜新材料有限公司_202511277110.7
    本发明属于位置检测技术领域，公开了一种位置检测装置及连续炉，位置检测装置包括固定机构、摆动机构以及检测机构。固定机构沿第一方向设有贯通的通孔，固定机构被配置为安装于固定壁；摆动机构包括转动轴及拨动件，转动轴可转动地穿设于通孔，且转动轴包括位...
    2025-12-04
  • 一种自动识别光学镜片生产模具止转平面的方法与系统
    一种自动识别光学镜片生产模具止转平面的方法与系统_亚琛科技(深圳)有限公司_202511230454.2
    本发明涉及光学镜片制造、电数字数据处理、设计自动化模型等技术领域，提供一种自动识别光学镜片生产模具止转平面的方法与系统。该方法通过机械手将模具置于可旋转凸台上，并利用激光位移传感器在边缘测点采集模具高度信号，结合阈值区间判定执行逆时针寻位与...
    2025-12-04
  • 一种跟踪式激光扫描仪精度校准方法
    一种跟踪式激光扫描仪精度校准方法_中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所_202511195647.9
    本申请涉及激光扫描仪技术领域，尤其涉及一种跟踪式激光扫描仪精度校准方法，包括：从标准块规套装中选取相应厚度的标准块规，通过研合构建间隙模拟试件或阶差模拟试件；使用高精度计量设备采集模拟试件的基准值，驱动待校准的跟踪式激光扫描仪在多个测量位置...
    2025-12-04
  • 跨座式单轨车辆形位检测台及姿态调整方法
    跨座式单轨车辆形位检测台及姿态调整方法_中车南京浦镇车辆有限公司_202511190959.0
    本发明公开了跨座式单轨车辆形位检测台及姿态调整方法，涉及轨道交通检测技术领域，该形位检测台包括：检测台主体，设置为钢制空心梁结构，用于安装待检测单轨车体并提供测量平台；钢板立面，用于布设侧向传感器安装位与布线通道；加强筋板；中心计算模块，设...
    2025-12-04
  • 一种激光跟踪仪靶球反射器防尘装置
    一种激光跟踪仪靶球反射器防尘装置_大连海事大学_202511084292.6
    本发明提供一种激光跟踪仪靶球反射器防尘装置，包括由靠近靶球反射器端向远离靶球反射器端依次设置的缓冲垫圈、舵机框架、防尘挡片和前面板；所述缓冲垫圈的一端与靶球反射器固定连接，所述缓冲垫圈的另一端与舵机框架固定连接，所述舵机框架上部固定连接有舵...
    2025-12-04
  • 一种高辐射水下堆芯围板的形位测量装置及其方法
    一种高辐射水下堆芯围板的形位测量装置及其方法_中核核电运行管理有限公司_202511067630.5
    本申请提供一种高辐射水下堆芯围板的形位测量装置及其方法，该高辐射水下堆芯围板的形位测量装置包括底座、圆周电机及传动机构、主体、适配器、电机及传动机构、升降轨道、连接板、测量模块和控制设备。控制设备用于控制圆周电机及传动机构、升降电机及传动机...
    2025-12-04
  • 一种水下堆内构件筒体形位测量装置及其方法
    一种水下堆内构件筒体形位测量装置及其方法_中核核电运行管理有限公司_202511061911.X
    本申请提供了一种水下堆内构件筒体形位测量装置及其方法，包括控制设备、以及可拆卸连接的升降运动模块和圆周运动模块。控制设备与升降运动模块和圆周运动模块连接，用于控制升降机构通过测量模块支架带动测量模块实现上下动作；控制测量模块采集堆内构件筒体...
    2025-12-04
  • 半导体检测设备的电子束落点位置标定方法以及程序产品
    半导体检测设备的电子束落点位置标定方法以及程序产品_东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司_202511048132.6
    本申请实施例提供了半导体检测设备的电子束落点位置标定方法以及程序产品，方法包括：首先确定目标图形对应的未倾斜检测坐标。基于多个输出参数组，确定多个倾斜后检测坐标。基于未倾斜检测坐标和倾斜后检测坐标以及多个输入参数组，确定函数关系。基于函数关...
    2025-12-04
  • 基于激光测距的位置检测方法、装置、电子设备及介质
    基于激光测距的位置检测方法、装置、电子设备及介质_精伦电子股份有限公司_202510975304.8
    本发明提供一种基于激光测距的位置检测方法、装置、电子设备及存储介质，涉及闸机检测技术领域。其中，基于激光测距传感器，采集检测目标的位置数据；将检测目标的位置数据转换为第一坐标系下的三维坐标系数；获取第一坐标系向第二坐标系转换的转换矩阵；获取...
    2025-12-04
  • 改善的免疫测定
    改善的免疫测定_麦博科技有限公司_202510650063.X
    本发明涉及改善的免疫测定。公开了用于在利用微球的免疫测定的图像中确定微球位置的方法，其中该图像包括多个微球(110)的绘制体，其中该方法的特征在于，该方法包括通过基于观察到的发光(Od)的反卷积和由显微镜观察到的微球(珠粒)的数学表示(b)...
    2025-12-04
  • 广角相机装置和测量系统
    广角相机装置和测量系统_株式会社拓普康_202510633466.3
    提供广角相机装置和能够获取包括三维点云数据的图像的测量系统，所述广角相机装置具有广视角，其中图像的周边部分中的失真较小并且分辨率的劣化较小。广角相机装置包括多个相机2a和2b。相机2a和2b分别包括作为物镜的成像透镜后组10a和10b、作为...
    2025-12-04
  • 一种相位反馈补偿准实时校准的干涉成像装置和成像方法
    一种相位反馈补偿准实时校准的干涉成像装置和成像方法_空天信息大学(筹)_202510995927.1
    本发明涉及一种相位反馈补偿准实时校准的干涉成像装置，属于干涉成像技术领域。所述校准装置包括X/Y方向光路、控制器、线性位移台；X、Y方向光路结构相同，沿光线入射方向均包括依次设置的两路并列的耦合透镜、干涉组件和光电探测组件；所述线性位移台为...
    2025-12-04
  • 白光干涉信号的解调方法、设备、介质及计算机程序产品
    白光干涉信号的解调方法、设备、介质及计算机程序产品_科瑞工业自动化系统(苏州)有限公司_202511529556.4
    本发明涉及光学检测技术领域，具体提供了一种白光干涉信号的解调方法、设备、介质及计算机程序产品，方法包括：利用非均匀快速傅里叶变换处理在波数域上非均匀分布的干涉光强信号数据，得到所述干涉光强信号数据的频谱信息，确定第一光程差；对所述非均匀快速...
    2025-12-04
  • 一种基于FCT设备的端子同心度检测方法
    一种基于FCT设备的端子同心度检测方法_江苏骅盛车用电子股份有限公司_202410623948.6
    本发明公开了一种基于FCT设备的端子同心度检测方法，包括以下步骤：S1)：将端子放入FCT设备接口：将待测试的端子公母端插入接口内；S2)：输入调节参数：根据测试的端子调整相关的系统参数；S3)：使用FCT设备进行检测：使用FCT进行检测判...
    2025-12-04
  • 一种角度检测装置及检测方法
    一种角度检测装置及检测方法_厦门市计量检定测试院_202511518420.3
    公开了一种角度检测装置及检测方法，基于处理芯片所内置的处理程序和各向异性磁电阻的磁场特性，在接收霍尔元件和各向异性磁电阻的电压信号后，本发明所提出的装置和方法能够精准计算角度的偏移量，与现有解决方案相比，本发明所提出的装置和方法通过特定的结...
    2025-12-04
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