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用于数字芯片的智能化测试方法、装置及电子设备
本发明涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种用于数字芯片的智能化测试方法、装置及电子设备。所述方法包括:建立被测芯片模型并执行基准测试;读取并分析响应数据,以提取行为参数;基于行为参数构建测试决策模型,以生成测试序列;基于测试序列进行迭代测试,...
测试装置、板卡、电子设备、测试方法
本公开涉及芯片测试领域,提出一种测试装置、板卡、电子设备、测试方法。装置包括可编程模块、连接可编程模块的外围电路;外围电路用于,向可编程模块输出控制信号;可编程模块用于,执行状态机程序,根据当前测试状态,以及控制信号和/或接收到的应答信号,...
一种半导体晶圆探针检测设备
本发明涉及晶圆检测技术领域,公开了一种半导体晶圆探针检测设备,包括电路板和探针安装组件,探针安装组件设置在电路板上,包括安装架和四组探针阵列组件,四组探针阵列组件设置在安装架上;探针阵列组件包括:多个沿直线间隔分布的探针组件,探针组件包括探...
晶圆测试针压控制方法、系统、电子设备及存储介质
本申请提供一种晶圆测试针压控制方法、系统、电子设备及存储介质,该方法包括:获取为当前测试任务配置的探针卡信息与待测产品信息;基于探针卡信息及待测产品信息,从预建的探针卡综合参数数据库中提取对应的多维参数集合;将多维参数集合输入至预设的针压优...
一种集成电路板检测装置及其使用方法
本发明公开一种集成电路板检测装置及其使用方法,涉及集成电路板检测领域,包括第一机体、检测探头、接料机构和推料机构,第一机体的顶部固定连接有第二机体,检测探头设置于第二机体的内部,检测探头用于对集成电路板进行检测,接料机构位于第一机体的内部,...
一种电控板故障预测与自愈方法及装置
本发明公开了一种电控板故障预测与自愈方法及装置,属于电子设备健康管理领域,方法包括:生成探查激励信号;将探查激励信号注入至电控板的被测电路中,并同步捕获被测电路在探查激励信号与工作信号共同作用下的全域场响应数据;根据全域场响应数据与探查激励...
一种用于检测芯片的检测装置
本发明涉及芯片检测装置技术领域,具体为一种用于检测芯片的检测装置,包括台座,台座的上端固定安装有支撑座,支撑座的上端通过螺栓固定连接有下压推杆,下压推杆的伸缩端固定连接有上压盒,上压盒位于支撑座的内部,支撑盒的内侧底端固定连接有用于放置待检...
一种用于多形状PCBA的自适应对位测试治具
本发明公开了一种用于多形状PCBA的自适应对位测试治具,涉及PCBA测试治具技术领域,包括底座、转台结构和定位调节组件,转台结构安装在底座内,定位调节组件安装在转台结构内,转台结构包括无框电机、旋转台和散热板,无框电机安装在底座的圆形凹槽内...
电路板高温测试风循系统
本发明公开了电路板高温测试风循系统,包括机架、安装于所述机架上的多个测试机构、吹风机构、辅助加热机构;各所述测试机构包括安装于所述机架上的顶部测试治具、安装于所述机架上的升降测试移动模组、安装于所述升降测试移动模组上的底部测试治具;多个所述...
一种芯片传输检测设备及方法
本发明公开了一种芯片传输检测设备及方法,涉及检测设备技术领域。包括设备支架,所述设备支架上设置有传动组件,所述传动组件上设置有输送带,所述输送带上设置有芯片本体;所述设备支架的后侧面固定安装有定位支架,所述定位支架上设置有间歇组件,所述间歇...
一种分布式ATE测试系统与ATE测试设备
本申请适用于半导体测试技术领域,提供了一种分布式ATE测试系统与ATE测试设备,包括:测试引擎,用于发布第一事件至事件总线;第一事件是按照第一测试任务的测试顺序,对第一测试任务拆分后得到的多个事件中的一个事件;第一测试微服务,用于从事件总线...
驱动电路的斜率校准方法、电路、芯片、设备及可读存储介质
本申请公开了一种驱动电路的斜率校准方法、电路、芯片、设备及可读存储介质,其中,该方法包括:在斜率校准阶段,使能频率可调的振荡器,并测量振荡器的输出时钟频率,其中,输出时钟频率由校准码调节;基于输出时钟频率与目标频率范围的比较结果,调整校准码...
一种利用ATE机台高效测试合封芯片的方法
本发明公开一种利用ATE机台高效测试合封芯片的方法,属于芯片测试领域。本发明基于融合人工测试评估板与ATE测试板的测试PCB板,包括如下步骤:对原有的测试软件进行优化;ATE机台给主测芯片和被测芯片重新上电,进入到被测芯片功能模块测试阶段;...
PCB不良单元自动识别方法、装置、系统及介质
本发明涉及PCB检测技术领域,且公开了PCB不良单元自动识别方法,包括以下步骤:图像获取与预识别:通过面阵相机采集待测PCB整板图像,基于模板匹配算法将采集图像与标准良品图像进行仿射变换对齐,对各单元的预设标识区域执行线条特征提取,判定各单...
一种晶圆级惯性器件的动静态测试系统及方法
本发明提供了一种晶圆级惯性器件动静态测试系统及方法,属于惯性器件测试技术领域,系统包括:控制器,被配置为生成测试控制指令;测试信号切换开关,与所述控制器电性连接,响应于测试控制指令选择性地连接至动态测试子系统或静态测试子系统;动态测试子系统...
一种晶振批量测试装置
本发明提供一种晶振批量测试装置,该装置包括真空罐体,用于提供晶振测试环境;位于真空罐体内的晶振批量测试板,用于承载固定多个待测晶振样品;以及位于真空罐体外的稳压电源和频率计数器;所述真空罐体上设置有电源转换头和信号转换头;所述晶振批量测试板...
一种元器件检测方法及装置
本发明提供一种元器件检测方法及装置,其中检测方法包括以下步骤:基于元器件的预设检测需求,对元器件的结构特征和可靠性进行检测,以获得所述元器件的结构特征和可靠性的检测结果;拆卸元器件上壳及线圈,以显露出芯片盖板和封装基板上表面;对所述芯片盖板...
一种手机主板与触摸屏导通测试治具
本发明属于手机主板技术领域,具体的说是一种手机主板与触摸屏导通测试治具, 包括触摸屏导通测试治具本体,弹性置物组件位于触摸屏导通测试治具本体上;伸缩组件用于挤压弹性置物组件上放置的手机主板;将需要测试的手机主板放置在弹性置物组件上,通过控制...
一种用于二极管综合性能的故障检测系统
本发明涉及二极管故障检测领域,尤其涉及一种用于二极管综合性能的故障检测系统,本发明通过获取整流电路对应整桥模块的工作运行数据,以提取整桥模块对应二极管的纹波断失特征;基于纹波断失特征评估二极管的运行失稳表征参数,以对整桥模块进行标记;响应于...
一种桥臂自检电路及方法、存储介质
本发明涉及逆变器技术领域,特别是一种桥臂自检电路及方法、存储介质;包括电源模块、采样控制模块、主控模块以及至少一个自检模块;每一自检模块均包括继电器、运算放大器以及桥臂MOS管,继电器的电压输入端与电源模块的电压输出端连接,继电器的电压输出...
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