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  • 本发明涉及电机参数测量技术领域, 公开了一种电机参数测量系统及其使用方法, 包括智能测量模块、数据处理模块、大数据分析模块、5G通讯模块、智能监测模块、表格制作模块和智能分析模块, 智能测量模块用于实时采集电动摩托车电机的各项参数, 参数包...
  • 本发明涉及电力诊断技术领域, 具体为基于实时数据监测的断路器操作单元智能诊断系统, 系统包括:电流突变识别模块、响应模式提取模块、轨迹趋势拟合模块、异常延续筛选模块、状态演化诊断模块。本发明中, 通过对永磁操动机构在合分操作过程中的电流帧序...
  • 本发明涉及电子器件测试技术领域, 尤其涉及基于多元化融合分析的高频高速开关测试系统, 包括多元化测试中心、测试执行单元、获取响应单元、递进测试单元、区域定位单元、程度划分和标签获取单元以及测试反馈单元;本发明初步从测试前提条件角度进行初步分...
  • 本申请实施例提供一种高压隔离开关健康状态的预测方法、装置、介质及产品, 应用于信息技术领域。方法包括:获取高压隔离开关在预设时间段内产生的电流数据, 对电流数据进行数据处理, 得到测量动作电流参数;在测量动作电流参数高于预设动作电流参数时,...
  • 本发明涉及断路器寿命预测系统的技术领域, 具体涉及一种基于机器学习的断路器寿命预测系统, 该系统包括断路器本体分析模块、环境分析模块、控制模块、性能判断模块和通信模块;断路器本体分析模块用于分析且得出断路器本体的相关信息;环境分析模块用于分...
  • 本发明公开了一种对断路器的综合性能进行评估的方法及系统, 其中方法包括:基于断路器中每种运行状态的监测数据计算每种运行状态的关键特征参量, 对所述断路器的每种运行状态进行监测, 获取每种运行状态的状态监测值;基于每种运行状态的状态监测值以及...
  • 本发明涉及真空断路器电寿命监测技术领域, 尤其是指一种真空断路器在线监测系统及其监测方法。通过在每组真空断路器上安装节点模块, 可通过节点模块内的燃弧传感器检测真空断路器是否出现燃弧, 并且将燃弧出现和熄灭节点传输至单片机, 单片机通过计时...
  • 本发明属于电力技术领域, 公开了一种GIS隔离开关卡涩状态判断方法, 其特征在于判断方法包含以下步骤:构建由电机驱动的机械系统的传递函数的步骤, 转化为传递函数的形式并化简的步骤, 反向描绘传递函数响应曲线的步骤, 卡涩缺陷辨识的步骤。本发...
  • 本发明提出一种通用型配电网柱上智能终端模拟断路器, 包括由主控制器和断路器模拟装置组成的智能终端, 所述主控制器和云服务器之间设有通讯模块, 所述主控制器接收云服务器的模拟信号生成控制信号, 所述断路器模拟装置接收控制信号进行断路器状态模拟...
  • 本发明公开了一种边界扫描测试结构, 其用于电路板卡接口互联测试, 测试平台主控单元和被测主板仅通过测试主控和数据回传JTAG通道进行数据交互。本发明取消了传统边界扫描测试结构中的多路回传JTAG线, 能减少连接器、线束及EMI故障点, 进而...
  • 本发明公开了一种边界扫描测试结构及方法, 所述边界扫描测试结构, 其用于电路板卡接口互联测试, 测试平台主控单元和被测主板仅通过JTAG通道进行数据交互;在每个被测插槽的信号线中选取3根信号线作为测试控制和数据回传通道;测试控制和数据回传通...
  • 本申请提供了一种数字时钟抖动测量电路及测量方法。该测量电路包括:延时单元, 包括边沿检测单元以及彼此串联连接的多个粗颗粒度延时单元和多个细颗粒度延时单元, 延时单元接收待测信号并生成第一时钟信号和第二时钟信号;调节控制单元, 被配置为通过控...
  • 本申请提供了一种数字时钟抖动测量电路和测量方法。该测量电路包括:延时模块, 所述延时模块接收待测时钟信号并生成第一时钟信号和第二时钟信号, 第一时钟信号和第二时钟信号之间的相位差为一个时钟周期;测量模块, 所述测量模块包括采样单元、振荡器控...
  • 本申请提供一种晶圆三维模型电路连通性测试方法、设备、介质及程序产品, 晶圆三维模型包括多个结构单元, 方法包括:建立材料属性映射表, 记录导电属性信息;基于材料属性映射表, 识别各结构单元的构成材料并添加反映导电属性的标签;设置至少两个虚拟...
  • 本发明公开了一种多Pitch可调四面扎针设备, 旨在提供一种结构简单、设置有独立调整机构, 配合视觉定位系统多面独立可调探针测试的多Pitch可调四面扎针设备。本发明包括机台、探针调整模组以及传送矫正模组, 四组组所述探针调整模组设置在所述...
  • 本发明提供了一种基于脉冲激光协同扫描的芯片辐照损伤识别系统及方法, 所述系统包括:脉冲激光输出模块和协同控制模块;脉冲激光输出模块用于将多路脉冲激光光源输出的激光光路耦合为单条激光光路;系统包括脉冲激光辐照状态和损伤识别状态, 协同控制模块...
  • 本公开提供了一种芯片导向治具、测试插座及测试装置, 芯片导向治具用于与测试插座配合进行芯片定位安装, 芯片导向治具包括基体、导向结构和第一对准补偿结构, 导向结构设置于基体, 导向结构限定出引导芯片进入测试插座的导向通道, 导向结构被设置为...
  • 本发明涉及PCBA测试装置技术领域, 具体为一种生产线PCBA全自动测试装置, 包括:支撑箱、支撑架、按压组件、检测组件、承载板和显示屏。支撑箱上表面与支撑架固定连接, 支撑架顶部一侧设置按压组件, 下侧安装检测组件, 底部另一侧固定承载板...
  • 本发明公开了I C集成电路可靠性测试机及测试方法, 属于电路测试技术领域。本发明的I C集成电路可靠性测试机, 包括机架, 所述机架内安装有传送组件, 机架的两侧均固定支撑座, 支撑座上固定安装安装组件, 安装组件上安装测试组件, 机架的上...
  • 本申请公开了一种集成电路芯片高温防氧化测试装置, 涉及分选设备的技术领域, 包括机体, 机体沿芯片传输路径依次衔接设置有进料装置、加热装置、缓存装置、保温装置、测试装置以及冷却装置;流道, 有多个且分别设置于加热装置、缓存装置、保温装置、测...
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