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  • 一种测试系统,包括马达装置、驱动装置、周边装置与测试装置。测试装置用以产生多个测试参数以对马达装置、驱动装置与周边装置进行测试,且测试装置确认马达装置、驱动装置与周边装置各自的测试状态。
  • 本发明公开了一种应用于基因测序设备中的电机的稳定性测试方法及相关设备。该方法包括:生成电机全行程位移的电控指令,加载电控指令关联的电控配置项,电控配置项包括:全行程中电机的n个移动点位、电机到达移动点位后当前位置查询次数m和电机编号;根据电...
  • 本发明提供一种直线驱动牵引系统测试装置,包括:若干个电机定子段组件;每一电机定子段组件包括两个电机定子、一个电子开关柜和两个转接柜;两个电机定子包括第一电机定子和第二电机定子,两个转接柜包括第一转接柜和第二转接柜,第一转接柜和第二转接柜上均...
  • 本发明涉及磁控柱上断路器监测技术领域,具体为一种磁控柱上开关合闸磁力监测系统及方法,通过传感器对合闸状态下的磁控操作机构进行磁场感知得到采样数字信号;将采样数字信号还原得到磁通密度,并引入非线性补偿获得随时间变化的瞬时磁通密度值;通过基准值...
  • 本发明公开了一种开关设备测试系统及方法。其中,该系统包括:开关设备试验台以及云平台,开关设备试验台用于基于测试信号测试待测开关设备并获取对待测开关设备的测试结果,并向云平台发送测试结果;云平台用于接收并存储开关设备试验台发送的测试结果。开关...
  • 本发明公开一种地铁用无极继电器模拟验证联锁采集驱动的方法,包括:配置无极继电器底座、无极继电器模拟触点、无极继电器模拟线圈;无极继电器底座包括第一模拟线圈触点、第二模拟线圈触点以及八组模拟无极继电器触点组,每组模拟无极继电器触点组包括前触点...
  • 本发明公开了一种多路输入切换系统及其开关黏连检测方法,其中,所述方法包括:获取每一路电压输入源的电压并判断是否异常;若所述电压输入源的电压异常,则向异常路所述电压输入源连接的电控开关组发出第一断开指令,并向一非异常路所述电压输入源连接的电控...
  • 本发明公开了一种用于永磁断路器的缺陷检测系统及其检测方法,属于永磁断路器检测领域,其包括回转平台和设置在回转平台上的上料模组,以及设置在回转平台周围的检测模组和取料模组;检测模组位于上料模组和取料模组之间的位置处;检测模组包括立柱和设置在立...
  • 本发明提供一种电子机械开关式测量装置的触发调节方法及调节装置,属于测量设备技术领域,触发调节方法包括:获取电子机械开关式测量装置中导电触点开关的导通电阻采集数据,并根据导通电阻采集数据获取电子机械开关式测量装置的当前触发状态;根据当前触发状...
  • 本发明实施例提供一种多断口断路器的状态校正方法及系统,属于输电运维技术领域。所述方法包括:获取所述多断口断路器的每个断口的历史变化状态值;将每两个断口的历史变化状态值进行关联;基于关联后的历史变化状态值计算对应的同步率;依据所述同步率确定每...
  • 本发明公开了一种抗干扰强的多路开关量检测方法,涉及低压电动机控制技术领域,该方法包括:通过第一直流电源供电连接外部控制开关,当开关闭合后,控制电流流经由两级RC低通滤波器,并输入至光耦隔离电路;光耦输入端并联瞬态电压抑制二极管以抑制高频干扰...
  • 本发明涉及集成电路设计与嵌入式控制系统技术领域,尤其涉及一种FPGA高速动态扫描装置及方法。所述方法包括以下步骤:在FPGA片内存储区按单向回环顺序写入扫描链路,其中,扫描链路长度与半导体测试探针阵列触点总数或LED显示阵列行列通道总数相等...
  • 本发明涉及运算放大器测试技术领域,公开了用于建立时间测试的装置、方法和介质,装置包括:第一信号源模块,用于发出第一阶跃信号;反相模块,用于接收第一阶跃信号,基于反相运算放大器,对第一阶跃信号进行相位反转,输出第一反相信号;第二信号源模块,用...
  • 本申请涉及压板监测领域,其具体地公开了一种压板智能在线监测装置,其包括压板监测传感器、汇聚节点、管理单元和网络设备。为解决现有压板监测技术信息维度单一、无法识别亚健康状态的问题,本申请的关键在于采用能够采集连续模拟量读数的压板监测传感器,采...
  • 本申请涉及一种基于共封装系统的信号检测方法。所述方法包括:基于共封装系统的光接口获取光学测试信号、对共封装系统中的光接口和电接口之间的器件进行互连性建模,确定光接口和电接口之间的等效模型、基于等效模型确定光接口和电接口之间的表征信号传输特性...
  • 本发明公开了一种多功能三温探针台设备,涉及半导体测试技术领域,多功能三温探针台设备包括上料台、下料台、三温探针测试台以及转移装置;上料台的顶部设置有扩晶环蓝膜上料模组和膜盒上料模组;上料台和下料台沿横向间隔设置,下料台的顶部设置有扩晶环蓝膜...
  • 本发明提出一种芯片调试系统与方法,平台调试控制器监测目标开发板的电源轨状态,在确定待测芯片上电成功后,监测中央处理器的状态,在确定中央处理器启动成功并完成操作系统加载后,向上位机反馈待测芯片启动成功;上位机在待测芯片启动成功后,向平台调试控...
  • 本申请涉及一种测试设备。该测试设备包括安装架、针床、第一测试机构、第二测试机构和切换机构。针床设于安装架。针床用于放置待测试件。第一测试机构固接于针床内,第一测试机构被配置为与待测试件电连接,用于对待测试件进行功能测试。第二测试机构可升降地...
  • 本发明公开了功率驱动芯片的自动测试系统,具体涉及自动化测试技术领域,包括动态测试控制模块、多层级并行测试模块、异常功率检测模块和安全验证诊断模块。本发明基于可编程电子负载与数字信号处理器协同工作,验证芯片在不同工况下的动态响应能力,并生成极...
  • 本发明涉及电子主板检测技术领域,特别是涉及一种电子主板自动化检测设备,包括底板,底板的上侧设置有下检测机构、上检测机构和配合检测机构。本发明设置上检测机构和配合检测机构,即可实现了电子主板检测的高度自动化与柔性化,大幅提升了检测效率,降低了...
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