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最新专利技术
  • 一体式无局放耐压试验装置及局部放电检测方法
    一体式无局放耐压试验装置及局部放电检测方法_武汉摩恩智能电气有限公司_202511304174.1
    本发明提供一种一体式无局放耐压试验装置及局部放电检测方法， 该装置集成了可编程的高压测试模块、包含电学与声学传感器的多模态传感器组件， 以及信号采集处理模块。测试时， 高压模块对被测设备施加高压， 多模态传感器同步采集设备产生的电学与声学脉...
    2026-03-25
  • 移动式飞机全机雷电试验装置
    移动式飞机全机雷电试验装置_合肥航太电物理技术有限公司_202511318466.0
    本发明涉及飞机测试技术领域， 公开了移动式飞机全机雷电试验装置， 包括移动高压方舱、移动监测方舱、充电系统、剩余电荷放电单元、雷电波形发生系统， 充电系统对雷电波形发生系统的高压电容组进行能量注入， 充能完成后， 通过移动监测方舱的测控端控...
    2026-03-25
  • 弧光接地故障光电同步检测方法及其应用
    弧光接地故障光电同步检测方法及其应用_昆明理工大学_202511323323.9
    本申请涉及继电保护技术领域， 尤其涉及一种弧光接地故障光电同步检测方法及其应用。区别于传统的阈值启动， 引入光信号转换的电流信号与故障相电流的波形相似度作为判据， 在同时满足光强转换信号过大， 以及光转换信号与相电流信号相似度较高时， 判断...
    2026-03-25
  • 一种超长距离电缆故障监测方法及系统
    一种超长距离电缆故障监测方法及系统_广东亿能电力股份有限公司_202511331402.4
    本发明公开了一种超长距离电缆故障监测方法及系统， 属于电力系统安全监测领域， 所述方法包括：获取电缆的局部放电高频暂态信号、高光谱遥感影像及大气参数数据， 对局部放电高频暂态信号进行相空间重构， 构建混沌特征；基于大气参数对高光谱影像进行大...
    2026-03-25
  • 一种LD泵浦模块绝缘检测电路
    一种LD泵浦模块绝缘检测电路_中国工程物理研究院应用电子学研究所_202511299318.9
    本发明涉及LD泵浦模块绝缘检测方案设计技术领域， 具体涉及一种LD泵浦模块绝缘检测电路。包括可调电源、信号注入模块及上位机。通过可调电源驱动泵浦模块内激光二极管至低阻态， 消除其非线性特性对检测的阻碍；信号注入模块向正极‑外壳、负极‑外壳双...
    2026-03-25
  • 一种基于热耦合的热阻测试方法、电路及设备
    一种基于热耦合的热阻测试方法、电路及设备_合肥工业大学_202510664899.5
    本发明公开了一种基于热耦合的热阻测试方法、电路及设备， 方法包括：首先构建包含待测器件的热阻测试电路；然后基于所述热阻测试电路， 确定所述待测器件的温度耦合状态；最后根据所述待测器件的温度耦合状态， 确定热耦合的热阻。本发明中的热阻测试电路...
    2026-03-25
  • 栅源短路的SiC MOS器件失效分析方法及相关设备
    栅源短路的SiC MOS器件失效分析方法及相关设备_航天科工防御技术研究试验中心_202510683677.8
    本申请提供一种栅源短路的SiC MOS器件失效分析方法及相关设备， 其中， 失效分析方法响应于确定源极和漏极的功能特性无异常情况， 基于碳化硅材料特性与MOS器件失效机理， 针对栅极与源极的短路故障的原因进行分析， 包括以下步骤：通过干燥芯...
    2026-03-25
  • 一种基于电压跟随器的可寻址测试电路
    一种基于电压跟随器的可寻址测试电路_上海交通大学_202510899112.3
    本发明公开了一种基于电压跟随器的可寻址测试电路， 其包括：寻址电路， 用于接收地址信号， 并根据地址信号进行译码；开关电路阵列， 包括VD信号开关阵列以及VG信号开关阵列；VD信号开关阵列根据译码结果选通对应的开关单元， 被选通的开关单元将...
    2026-03-25
  • 功率开关器件瞬态过流能力测试电路
    功率开关器件瞬态过流能力测试电路_西安长峰机电研究所_202510921632.X
    本发明是一种功率开关器件瞬态过流能力测试电路， 该电路包括：驱动控制电路， 所述驱动控制电路包括：CPU、数字隔离器和驱动器；被测功率开关器件， 所述被测功率开关器件的栅极和所述驱动器的第一输出端连接；第一电感， 第一和第二功率开关器件， ...
    2026-03-25
  • 基于器件关断延时的碳化硅MOSFET老化状态结温在线监测方法
    基于器件关断延时的碳化硅MOSFET老化状态结温在线监测方法_东南大学_202510929328.X
    本发明公开一种基于器件关断延时的碳化硅MOSFET老化状态结温在线监测方法， 包括如下步骤：步骤1， 构建健康状态下目标SiC MOSFET关断延时和结温映射关系曲线， 此时流过目标SiC MOSFET的电流为设定值；步骤2， 采集老化状态...
    2026-03-25
  • 一种老化板平均入炉控制方法与系统
    一种老化板平均入炉控制方法与系统_合肥沛顿存储科技有限公司_202510945630.4
    本发明公开了一种老化板平均入炉控制方法与系统， 解决了测试任务不均衡带来的测试进度不同步、等待超时、测试中断甚至设备宕机等严重问题。通过引入动态分配算法与负载均衡控制， 本发明能够自动生成排布方案和实时监测板位分布， 确保各测试区域的任务负...
    2026-03-25
  • 基于数据驱动的功率半导体故障预警方法及系统
    基于数据驱动的功率半导体故障预警方法及系统_深圳市美浦森半导体有限公司_202510981202.7
    本发明涉及电力电子设备监测技术领域， 一种基于数据驱动的功率半导体故障预警方法及系统， 包括：接收功率半导体的故障预警指令， 基于所述故障预警指令确认出故障预警系统， 基于功率半导体获取电气评估节点， 基于预设的电气监测时段、预设的电气监测...
    2026-03-25
  • 一种碳化硅功率MOSFET早期失效筛选方法及系统
    一种碳化硅功率MOSFET早期失效筛选方法及系统_安徽安芯电子科技股份有限公司_202510981479.X
    本发明提供一种碳化硅功率MOSFET早期失效筛选方法及系统， 涉及功率管质检技术领域。所述方法包括根据碳化硅功率MOSFET的规格信息和栅氧化层厚度， 通过电流电压扫描方式， 确定栅极检测电压；根据不同温度下的漏极电流和栅极电压的关系曲线，...
    2026-03-25
  • 一种二极管恒流老化设备及其测试方法
    一种二极管恒流老化设备及其测试方法_浙江杭可仪器有限公司_202511072503.4
    本发明公开一种二极管恒流老化设备， 包括测试副箱和测试主箱， 所述的测试主箱位于测试副箱一侧， 所述的测试主箱与测试副箱之间设有侧箱板， 所述的测试主箱上设有控制箱， 所述的测试主箱和测试副箱上均设有电源箱和测试柜， 所述的电源箱和测试柜通...
    2026-03-25
  • 功率半导体板级测试系统及方法
    功率半导体板级测试系统及方法_泮芯科技(上海)有限公司_202511121998.5
    本发明公开了一种功率半导体板级测试系统及方法， 属于功率半导体器件测试技术领域。该系统创新性地将无功老化测试与动态特性测试集成于单一测试平台， 通过模块化设计解决了传统分站测试存在的效率低、成本高的问题。系统包括：测试工位配备的多功能测试头...
    2026-03-25
  • 适配于SiC功率器件循环使用场景的在线监测系统
    适配于SiC功率器件循环使用场景的在线监测系统_江苏赛立科博半导体有限公司_202511178025.5
    本发明涉及轨道交通领域， 且公开了适配于SiC功率器件循环使用场景的在线监测系统， 通过实时采集SiC功率器件的关键运行参数， 当采集参数超过预设警戒阈值时， 判断是否需要进行后续失效趋势预测， 基于采集到的运行参数构建器件性能变化曲线， ...
    2026-03-25
  • 双电接触测试引脚
    双电接触测试引脚_德州仪器公司_202410394526.6
    本申请案的实施例涉及双电接触测试引脚。本发明提供一种用于电子装置测试设备的测试组件(200)， 并且所述测试组件包含接触主体(202)， 所述接触主体具有界定于其中的至少一个细长开口(206)， 其中所述至少一个细长开口(206)在所述接触...
    2026-03-25
  • 芯片测试系统
    芯片测试系统_晶晨半导体(上海)股份有限公司_202410433129.5
    一种芯片测试系统， 包括：多路选择单元， 包括多个输入节点和至少一个输出节点， 所述多个输入节点分别与待测芯片的第一型待测引脚耦接， 所述输出节点与测试单元耦接， 适于根据选择控制信号选择性地将多个所述输入节点之一与所述输出节点之一耦接， ...
    2026-03-25
  • 一种集成自动化测试及烧录的一体设备
    一种集成自动化测试及烧录的一体设备_安徽中科中涣智能装备股份有限公司_202510617069.7
    本发明提出一种集成自动化测试及烧录的一体设备， 控制主机被配置为运行测试控制程序， 测试控制程序包括：通过扫码装置获取待测PCB板的唯一标识信息以激活测试序列；执行至少包括固件烧录、电阻参数检测、电压参数检测及应用程序烧录和实时记录设备全生...
    2026-03-25
  • 一种T型三电平逆变器IGBT开路故障与电流传感器故障的诊断方法
    一种T型三电平逆变器IGBT开路故障与电流传感器故障的诊断方法_济源市北辰电力勘测设计有限公司_202510641658.9
    本发明公开了一种T型三电平逆变器IGBT开路故障与电流传感器故障的诊断方法， 属于逆变器故障诊断技术领域， 用以解决三电平T型逆变器IGBT开关管与传感器发生故障时的诊断与定位；包括以下步骤：分别对T型三电平逆变器IGBT开路故障和电流传感...
    2026-03-25
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