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最新专利技术
  • 一种融合激光轮廓扫描与视觉成像的坐标测量系统及方法
    一种融合激光轮廓扫描与视觉成像的坐标测量系统及方法_杭州中测科技有限公司_202511673124.0
    本发明涉及精密测量技术领域，具体公开了一种融合激光轮廓扫描与视觉成像的坐标测量系统及方法，包括：获取待测物体的激光轮廓扫描数据和视觉成像数据，对所述激光轮廓扫描数据进行多源数据配准，将不同扫描视角的三维点云数据对齐到统一坐标系中，获取配准后...
    2026-04-23
  • 一种运动矢量标定方法和装置
    一种运动矢量标定方法和装置_天津大学_202512004305.0
    本发明公开了一种运动矢量标定方法和装置，包括：根据激光条纹图像和轮廓数据获取激光交线形成的特征交点集合；根据特征交点集合获取线激光轮廓仪与辅助相机的序列位姿关系；根据序列位姿关系构建包含移动模组待标定参数的优化目标函数，通过非线性优化算法最...
    2026-04-23
  • 一种基于线结构光的微观检测系统
    一种基于线结构光的微观检测系统_清华大学_202610098514.8
    本公开涉及一种基于线结构光的微观检测系统，包括：阵列光源模块、线结构光输出模块、以及线结构光聚焦模块，其中，线结构光输出模块包括光纤阵列；阵列光源模块，用于出射初始阵列光；线结构光输出模块，用于利用光纤阵列对初始阵列光进行调整，输出初始线结...
    2026-04-23
  • 一种光栅投影相位轮廓术标定的方法
    一种光栅投影相位轮廓术标定的方法_北京博视像元科技有限公司_202610175466.8
    本发明公开一种光栅投影相位轮廓术标定的方法，涉及结构光测量技术领域，包括：建立投影仪分辨率像素与可编程条纹周期的相位映射关系，生成LUT相位查找表；以相机图像中心线作为起始相位基准，并从LUT相位查找表中搜索出与起始相位基准误差最小的分辨率...
    2026-04-23
  • 一种复合折射透镜装配对齐检测方法
    一种复合折射透镜装配对齐检测方法_中国科学院高能物理研究所_202512019022.3
    本发明公开了一种复合折射透镜装配对齐检测方法，其步骤包括：1)对于安装有复合折射透镜的透镜夹持机构，以复合折射透镜为底端将安装有多片透镜的透镜夹持机构放置在一个平面上，在复合折射透镜的一侧放置一光源、另一侧放置一成像单元；2)利用光源发出的...
    2026-04-23
  • 一种圆柱壳体同心度检验设备及方法
    一种圆柱壳体同心度检验设备及方法_南京贝特环保通用设备制造有限公司_202610074272.9
    本发明属于电机技术领域，尤其是涉及一种圆柱壳体同心度检验设备及方法，包括计算显示集成、外壳体、活动板，计算显示集成固定在外壳体的上端，外壳体呈圆柱状，外壳体的侧面开设有检测口，检测口的内壁设有一组第一抽拉轨，活动板两侧与第一抽拉轨连接，检测...
    2026-04-23
  • 检测设备及其同轴度的测量方法
    检测设备及其同轴度的测量方法_深圳市中图仪器股份有限公司_202610075937.8
    本公开描述一种检测设备及其同轴度的测量方法，检测设备包括配置为获取测量工件的拍摄图像的拍摄镜头、以及配置为承载测量工件的承载平台，同轴度包括拍摄镜头的光轴与承载平台的垂直度、以及光轴的倾斜方向，测量方法包括利用拍摄镜头对位于承载平台的测量工...
    2026-04-23
  • 影像测量设备
    影像测量设备_深圳市中图仪器股份有限公司_202610075938.2
    本公开描述一种影像测量设备，包括用于承载测量工件的承载平台、用于获取测量工件的拍摄图像的拍摄镜头、以及与拍摄镜头同轴的光源，影像测量设备配置为基于拍摄图像获取与测量工件相匹配的目标图像，基于目标图像获取目标图形，基于目标图像和目标图形计算光...
    2026-04-23
  • 一种多芯圆铜线截面积视觉检测装置及方法
    一种多芯圆铜线截面积视觉检测装置及方法_浙江科技大学_202610335293.1
    本发明属于金属导线自动识别技术领域，公开了一种多芯圆铜线截面积视觉检测装置及方法，方法包括：沿轴向裁切预设长度的多芯圆铜线，使圆铜线细丝离散分布于检测装置的载物台；通过装置上的摄像头检测识别圆铜线细丝的总根数及单根的直径；基于圆铜线细丝的总...
    2026-04-23
  • 瓷砖平整度测试设备及方法
    瓷砖平整度测试设备及方法_佛山喀视科技有限公司_202411451394.2
    本发明涉及一种瓷砖平整度测试设备及方法。其中，瓷砖平整度测试设备，通过使用多个沿第一方向排列的激光传感器构成激光扫描阵列，实现了在瓷砖表面上密集的激光投射。每个激光传感器投射的激光束在瓷砖表面形成光点，由于传感器的精密布置，各个光点在第一方...
    2026-04-23
  • 测量系统、方法、装置、设备、介质及产品
    测量系统、方法、装置、设备、介质及产品_香港理工大学_202510791505.2
    本公开提供一种测量系统、方法、装置、设备、介质及产品，属于光学技术领域。该系统包括：扩束器，用于将扩束后的光束到达位于第一预定位置的被测样品生成第一透射光束和第一反射光束；缩束器；位于第一位置的接收器，用于接收第一透射光束生成被测样品的第一...
    2026-04-23
  • 一种多线结构光的光平面高精度快速标定方法及系统
    一种多线结构光的光平面高精度快速标定方法及系统_北京科技大学_202512034116.8
    本发明公开了一种多线结构光的光平面高精度快速标定方法及系统，属于结构光三维测量技术领域，该方法包括：获取待标定的多线结构光系统中的相机参数；其中，所述相机参数包括相机的内参矩阵、畸变系数矩阵以及外参矩阵；选取主激光线；其中，所述主激光线为待...
    2026-04-23
  • 基于结构光三维点云的GIS壳体法兰面平面度在线检测方法
    基于结构光三维点云的GIS壳体法兰面平面度在线检测方法_中科力祥科技股份有限公司_202610335628.X
    本发明涉及数据处理技术领域，更具体地，本发明涉及基于结构光三维点云的GIS壳体法兰面平面度在线检测方法，该方法包括：利用扫描仪对GIS壳体法兰面进行全周扫描，获取包含若干采样点的初始三维点云集合，获取每个采样点的自适应搜索半径，并基于所述自...
    2026-04-23
  • 用于工件的设计特征的尺寸检测方法、控制装置和尺寸检测系统
    用于工件的设计特征的尺寸检测方法、控制装置和尺寸检测系统_华晨宝马汽车有限公司_202411443112.4
    本发明涉及一种用于工件的设计特征的尺寸检测方法，包括：查明工件组件是否进入尺寸检测区，其中，所述工件组件包括托盘和布置在托盘上的工件；如果查明工件组件已进入尺寸检测区，则促使第一致动装置带动用于工件组件的支承装置转移到支承位置，使得支承装置...
    2026-04-23
  • 柱塞滑靴组件内轮廓测量方法、装置、设备及存储介质
    柱塞滑靴组件内轮廓测量方法、装置、设备及存储介质_潍柴动力股份有限公司_202610339029.5
    本申请公开了一种柱塞滑靴组件内轮廓测量方法、装置、设备及存储介质，向柱塞滑靴组件的内轮廓空间内加入液体，获取内轮廓空间内的液体加入量和内轮廓空间内的压力，并建立液体加入量和压力的映射关系，其中，内轮廓空间包括包压部和球头部之间的间隙、球头孔...
    2026-04-23
  • 焊接状态的确定方法、装置、介质、电子设备及程序产品
    焊接状态的确定方法、装置、介质、电子设备及程序产品_合肥协鑫集成新能源科技有限公司_202411440761.9
    本公开涉及焊接状态的确定方法、装置、介质、电子设备及程序产品，其中，包括：获取光伏接线盒在焊接汇流条前汇流条与锡块的高度和；从俯视角度对焊接汇流条后的光伏接线盒进行检测，得到第一X射线，并根据第一X射线图，确定光伏接线盒在焊接汇流条后的焊接...
    2026-04-23
  • 一种基于双频天线的冰层厚度传感器及测量方法
    一种基于双频天线的冰层厚度传感器及测量方法_南京信息工程大学_202610352160.5
    本发明公开了一种基于双频天线的冰层厚度传感器及测量方法，属于射频传感技术领域，旨在解决单频微波相位检测法量程小、过渡区误判和抗环境干扰能力较差的问题。所述传感器包括金属外壳、射频板、核心控制板、双频微带贴片天线、双频信号发生器、功分电路、幅...
    2026-04-23
  • 一种扫描电子显微镜三维形貌测量方法及其测量系统
    一种扫描电子显微镜三维形貌测量方法及其测量系统_华东师范大学_202610081223.8
    本发明公开了一种扫描电子显微镜三维形貌测量方法及其测量系统，其特点是该方法采用定向聚焦的方法，对目标结构的顶部和底部进行分离聚焦与测量，并通过清晰度评价函数，得到目标结构的三维形貌参数；系统包括：位移样品台系统、电子束成像系统和图像处理算法...
    2026-04-23
  • 一种基于InSAR和深度学习自注意力模型的复杂场景形变监测和分类方法
    一种基于InSAR和深度学习自注意力模型的复杂场景形变监测和分类方法_马培峰_202311557560.2
    本发明涉及形变监测技术领域，具体涉及一种基于InSAR和深度学习自注意力模型的复杂场景形变监测和分类方法，包括以下步骤：利用改进的联合PS点和DS点的InSAR提取技术，依靠SRTM DEM图像的辅助，生成形变干涉图；创建Delaunay三...
    2026-04-23
  • 一种基于虚实孔径相结合的天线形变在轨微波测量方法
    一种基于虚实孔径相结合的天线形变在轨微波测量方法_西安空间无线电技术研究所_202511859821.5
    本发明一种基于虚实孔径相结合的天线形变在轨微波测量方法。综合考虑空间环境、设备包络与重量、设备宽覆盖扫描能力、测量精度等因素，在微波测量技术的基础上，利用时分正交波形与虚拟孔径扩展技术，可在有限的空间包络下获得尽可能大的观测孔径，同时，考虑...
    2026-04-23
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