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最新专利技术
  • 蛋白质序列生成方法、装置、电子设备及存储介质
    蛋白质序列生成方法、装置、电子设备及存储介质_北京百度网讯科技有限公司_202510733049.6
    本申请公开了蛋白质序列生成方法、装置、电子设备及存储介质， 涉及计算机技术领域， 尤其涉及生物计算、深度学习等人工智能领域。具体实现方案为：获取靶蛋白构象；根据靶蛋白构象， 生成对接蛋白质骨架构象；根据对接蛋白质骨架构象， 生成候选对接蛋白...
    2026-03-18
  • 复合物的结构预测方法、模型训练方法及相关设备
    复合物的结构预测方法、模型训练方法及相关设备_北京百度网讯科技有限公司_202510732969.6
    本公开提供了一种复合物的结构预测方法、模型训练方法及相关设备， 涉及人工智能技术领域， 具体为深度学习和生物计算等技术领域。方案为：获取生物分子序列组合；其中， 生物分子序列组合是根据指定的多个生物分子序列进行序列组合得到的；预测生物分子序...
    2026-03-18
  • 蛋白质数据的处理方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品
    蛋白质数据的处理方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品_腾讯科技(深圳)有限公司_202410384373.7
    本申请提供了一种蛋白质数据的处理方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品；方法包括：根据第一蛋白质与第二蛋白质的不同姿态， 从多个维度对第一蛋白质与第二蛋白质的第一网格数据进行填充， 得到每个姿态分别对应多个维度的第二网格数据；基于每个姿态...
    2026-03-18
  • 蛋白质晶体的相位恢复方法及装置
    蛋白质晶体的相位恢复方法及装置_安徽元构生物科技有限公司_202510888849.5
    本发明提供一种蛋白质晶体的相位恢复方法及装置， 方法包括：将初始电子密度图作为待优化电子密度图， 翻转待优化电子密度图中低于密度阈值的电子密度值， 得到翻转电子密度图， 以基于初始电子密度图， 对翻转电子密度图的翻转结构因子进行改造， 得到...
    2026-03-18
  • 一种株水平病原微生物示踪的识别方法、装置及终端
    一种株水平病原微生物示踪的识别方法、装置及终端_哈尔滨工业大学(深圳)(哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院)_202510878942.8
    本发明公开了一种株水平病原微生物示踪的识别方法、装置及终端， 方法包括：获取目标检测数据， 所述目标检测数据为在目标污水处理厂全流程阶段提取的污水数据；对所述目标检测数据进行预处理， 得到目标组装基因组；对所述目标组装基因组进行可视化分析及...
    2026-03-18
  • 低钠酸菜发酵智能预测模型的确定方法、应用方法及装置
    低钠酸菜发酵智能预测模型的确定方法、应用方法及装置_上海交通大学_202510825217.4
    本申请公开了一种低钠酸菜发酵智能预测模型的确定方法、应用方法及装置， 涉及食品工业智能建模与发酵品质控制领域， 该预测模型的确定方法包括：获取历史酸菜发酵过程中的关键时间点数据；将关键时间点理化与质量安全数据归一化处理， 且按照发酵初期、中...
    2026-03-18
  • 存储设备的测试方法及装置
    存储设备的测试方法及装置_浪潮电子信息产业股份有限公司_202511236566.9
    本申请公开了一种存储设备的测试方法及装置， 涉及存储设备测试技术领域， 包括：根据接收到的测试请求控制待测存储设备在队列深度集合中所包括的参考队列深度下执行测试任务；检测所述待测存储设备在所述参考队列深度下的设备操作参数和延迟参数， 得到具...
    2026-03-18
  • 基于带外测试的SSD盘可靠性验证方法及存储设备
    基于带外测试的SSD盘可靠性验证方法及存储设备_北京忆恒创源科技股份有限公司_202511233441.0
    本公开涉及一种基于带外测试的SSD盘可靠性验证方法及存储设备， 属于NVMe固态存储设备的测试领域。所述方法包括：统计SSD盘支持的命令集， 并确定其待测试状态， 命令集至少包括SSD带外支持的命令集；基于其待测试状态， 分别确定对应的验证...
    2026-03-18
  • 一种用于测试存储设备读写性能的主机平台、系统及方法
    一种用于测试存储设备读写性能的主机平台、系统及方法_合肥康芯威存储技术有限公司_202511198810.7
    本发明提供一种用于测试存储设备读写性能的主机平台、系统及方法， 该主机平台包括：配置解析模块， 用于获取配置文件， 并解析其中的内容；事务处理模块， 用于根据配置解析模块解析的内容创建测试命令， 并以主机时钟加命令引脚的方式发送给存储设备端...
    2026-03-18
  • 存储芯片整合测试系统
    存储芯片整合测试系统_京隆科技(苏州)有限公司_202511178375.1
    本发明公开了一种存储芯片整合测试系统， 包括测试容器、测试载板、电性测试模块和多个功能测试模块， 所述测试容器设置有温度可调的测试腔体；所述测试载板放置于所述测试腔体内， 用于插置待测的存储芯片；所述功能测试载板连接至测试载板， 用于对插置...
    2026-03-18
  • 一种存储设备质量检测方法、装置、电子设备及存储介质
    一种存储设备质量检测方法、装置、电子设备及存储介质_济南迈威智能科技有限公司_202510896653.0
    本申请公开了一种存储设备质量检测方法、装置、电子设备及存储介质， 涉及计算机技术领域， 包括以存储块为缺陷检测单位， 对存储块中每个比特位的读写错误情况进行统计， 即生成错误比特位分布图， 最后通过分析错误比特位分布图表征的存储块缺陷范围，...
    2026-03-18
  • 一种基于FRT表的测试方法、装置、设备及存储介质
    一种基于FRT表的测试方法、装置、设备及存储介质_济南迈威智能科技有限公司_202510889594.4
    本公开提供了一种基于FRT表的测试方法、装置、设备及存储介质， 涉及计算机技术领域。方法包括：生成测试序列；测试序列能够覆盖FRT表中的电压组合；基于测试序列， 确定测试模式；测试模式为索引模式或全域模式；基于测试模式和测试序列， 在FRT...
    2026-03-18
  • 一种半导体测试结构及其制造方法
    一种半导体测试结构及其制造方法_长鑫科技集团股份有限公司_202510837613.9
    本公开实施例提供了一种半导体测试结构及其制造方法， 其中， 半导体测试结构包括：测试阵列区， 包括阵列排布的测试有源区。沿第一方向排列的多个测试导电线组， 每个测试导电线组包括相邻设置的两条测试导电线以及连接两条测试导电线的第一端的连接部，...
    2026-03-18
  • 测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品
    测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品_长鑫闵科存储技术(上海)有限公司_202510788299.X
    本公开公开了一种测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品， 该测试方法包括：在第一时钟频率下， 通过第一写命令向待测芯片的第一地址写入第一数据；在第二时钟频率下， 向待测芯片发送至少一个第一读命令和第二写命令， 且至少一个第一读命令和第二...
    2026-03-18
  • 芯片测试方法、设备及存储器芯片
    芯片测试方法、设备及存储器芯片_长鑫闵科存储技术(上海)有限公司_202510787280.3
    本公开实施例公开了一种芯片测试方法、设备及存储器芯片。芯片测试方法包括：进入压缩读写测试模式， 通过待测芯片的测试焊盘向第一目标地址选中的存储单元写入测试数据；进入正常读写测试模式， 在待测芯片内部， 将测试数据通过数据焊盘进行预设次数的内...
    2026-03-18
  • 一种存储芯片、修复方法及相关设备
    一种存储芯片、修复方法及相关设备_华为技术有限公司_202410389982.1
    本申请涉及芯片技术领域， 尤其涉及一种存储芯片、修复方法及相关设备， 该芯片中MBIST电路通过存储映射器与多个RAM中的每个RAM耦合；MBIST电路， 用于对多个RAM中的每个RAM进行检测， 并向存储映射器发送修复信息；修复信息用于指...
    2026-03-18
  • 一种故障器件修复方法、装置、电子设备及介质
    一种故障器件修复方法、装置、电子设备及介质_浙江驰拓科技有限公司_202410362354.4
    本申请公开一种故障器件修复方法、装置、电子设备及介质， 涉及存储芯片测试技术领域， 用于修复存储芯片中的故障器件， 针对当前存储芯片良率低的问题， 提供一种故障器件修复方法， 通过对寄存器进行数据读写以确定其中的故障器件；之后， 通过对故障...
    2026-03-18
  • 一种基于LDPC码译码特性降低TLC型NAND闪存读取时延的方法
    一种基于LDPC码译码特性降低TLC型NAND闪存读取时延的方法_哈尔滨工业大学_202510592413.1
    本发明提出一种基于LDPC码译码特性降低TLC型NAND闪存读取时延的方法， 属于固态储存技术领域， 本发明解决TLC型NAND闪存在使用寿命的中后期， 当读取数据的可靠性下降时， LDPC码面临严重的译码时延的问题， 包括：根据LDPC译...
    2026-03-18
  • 安全内置自测试(BIST)
    安全内置自测试(BIST)_英特尔公司_202510374168.7
    描述了用于安全内置自测试的技术。一些示例包括：安全测试模式生成器， 用于使用伪随机函数(PRF)电路系统来生成安全测试模式；扫描导出散列引擎， 用于对要被测试的电路的扫描导出进行散列；以及比较电路， 用于将经散列的扫描导出与已知值进行比较以...
    2026-03-18
  • 一种硬盘故障检测方法、系统及相关装置
    一种硬盘故障检测方法、系统及相关装置_华为技术有限公司_202410372570.7
    本申请提供一种硬盘故障检测方法、系统及相关装置， 其中， 存储设备包含至少一个多端口设备， 每个多端口设备连接至少一个硬盘， 检测设备对存储设备中的每个多端口设备进行以下处理：对连接同一个多端口设备的每个硬盘进行逐个访问， 在检测到存在硬盘...
    2026-03-18
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