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最新专利技术
  • 基于大语言模型的文书智能撰写系统
    基于大语言模型的文书智能撰写系统_浪潮云信息技术股份公司_202510824030.2
    本发明公开了基于大语言模型的文书智能撰写系统， 属于自然语言处理与智能办公交叉技术领域， 本发明要解决的技术问题为如何实现文书撰写全流程的智能化、标准化和高效化， 提高文书撰写效率和准确率， 技术方案为：该系统包括输入层、核心层和输出层；输...
    2025-12-25
  • 用于自动提供与输入到实体的内容相关联的格式内容建议的方法、装置及计算机程序产品
    用于自动提供与输入到实体的内容相关联的格式内容建议的方法、装置及计算机程序产品_元平台公司_202510323522.3
    提供了用于自动提供与输入到实体的内容相关联的格式内容建议的方法、装置及计算机程序产品以及一种用于提供一个或多个推荐内容格式或建议内容格式的系统和方法。该系统可以分析通过用户界面输入或采集的与用户相关联的一项或多项内容。该系统还可以实施包括训...
    2025-12-25
  • 长文本处理方法、装置、设备和介质
    长文本处理方法、装置、设备和介质_腾讯科技(深圳)有限公司_202410392175.5
    本申请提供了长文本处理方法、装置、设备和介质， 涉及人工智能技术领域， 可以应用于云技术、人工智能、智慧交通、辅助驾驶等场景， 方法包括获取目标长文本的关键词序列和词权重信息， 关键词序列包括目标长文本对应的多个关键词且基于目标长文本的文本...
    2025-12-25
  • 文本处理方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品
    文本处理方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品_腾讯科技(深圳)有限公司_202410391250.6
    本申请提供了一种文本处理方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品；方法包括：获取待转换语言风格的第一文本；获取与目标语言风格对应的风格化词典， 其中， 风格化词典是基于目标对象的无风格语料和有风格语料生成的；基于风格化词典中...
    2025-12-25
  • 一种汉字顺序确定方法、装置、设备及介质
    一种汉字顺序确定方法、装置、设备及介质_星环信息科技(上海)股份有限公司_202510894749.3
    本发明公开了一种汉字顺序确定方法、装置、设备及介质， 涉及计算机技术领域。该汉字顺序确定方法包括：获取待排序汉字的汉字编码；根据汉字编码、字符编码数组及拼音数组， 确定待排序汉字的拼音位置序号；根据拼音位置序号对待排序汉字进行排序。通过汉字...
    2025-12-25
  • 电子病历智能编码方法和装置、系统、存储介质
    电子病历智能编码方法和装置、系统、存储介质_京卫智云(上海)科技有限公司_202510881427.5
    本发明公开一种电子病历智能编码方法和装置、系统、存储介质， 包括：对电子病历文本、医学影像及结构化检验数据分别进行实体抽取、特征编码及同态加密传输；根据预处理后的数据， 通过动态知识融合编码引擎进行多模态特征对齐、ICD语义映射及实时医保规...
    2025-12-25
  • 表格导出预览方法及装置
    表格导出预览方法及装置_北京华航唯实工业软件科技有限公司_202510719787.5
    本申请实施例提供一种表格导出预览方法及装置， 方法包括：通过引入DPI修正因子、缩放反向补偿因子以及视口偏移修正因子对窗口宽度百分比公式进行加权修正；将用户操作环境参数输入加权后得到的窗口宽度加权计算公式得到预览图片宽度， 根据预览图片宽度...
    2025-12-25
  • 文档处理方法和装置， 以及终端设备
    文档处理方法和装置， 以及终端设备_杭州睿真科技有限公司_202510880041.2
    本申请公开了一种文档处理方法和装置， 以及终端设备， 其中该文档处理方法包括：获取文档的图像；对文档的图像进行识别， 得到文本信息， 该文本信息包括文本块的内容和位置信息；基于文本块的位置信息， 将文本块的内容映射到配置区域中， 其中配置区...
    2025-12-25
  • 集成电路版图层次的检查方法及系统
    集成电路版图层次的检查方法及系统_合肥晶合集成电路股份有限公司_202511273307.3
    本发明公开了一种集成电路版图层次的检查方法及系统， 其中方法包括以下步骤：获取集成电路所有层的第一真值表， 根据该第一真值表对其中不同类型的器件进行分类；根据同一类型器件在种子层区域中的第一类特定层规则， 对版图进行检查， 得到确认后的第一...
    2025-12-25
  • 一种芯片验证方法及系统
    一种芯片验证方法及系统_格创通信(浙江)有限公司_202511249239.7
    本申请公开了一种芯片验证方法及系统， 涉及芯片仿真验证技术领域。该方法为：从获取到的测试用例中解析出测试场景特征；根据预先设置的场景特征与配置特征之间的对应关系， 确定与所述测试场景特征相匹配的目标配置特征；将所述目标配置特征输出至所述芯片...
    2025-12-25
  • 一种设备故障预测管理方法及系统
    一种设备故障预测管理方法及系统_芝麻(广州)智能科技有限公司_202511191536.0
    本申请涉及故障预测的技术领域， 公开了一种设备故障预测管理方法及系统， 所述方法包括获取目标设备的电气原理图以创建电气模拟模型， 接收用电参数评估算法并载入至电气模拟模型；基于检测周期获取目标设备的指标检测数据， 结合各指标检测数据对应的时...
    2025-12-25
  • 待测设计的验证方法、验证环境的搭建方法、验证环境及芯片验证装置
    待测设计的验证方法、验证环境的搭建方法、验证环境及芯片验证装置_飞腾信息技术有限公司_202510987091.0
    本申请涉及芯片验证技术领域， 公开了一种待测设计的验证方法、验证环境的搭建方法、验证环境及芯片验证装置。该验证方法包括， 在接收到测试激励标识的情况下， 通过激励生成组件获取测试激励标识对应的目标配置文件；通过解析组件对目标配置文件进行参数...
    2025-12-25
  • 一种验证环境的构建方法、验证方法及系统
    一种验证环境的构建方法、验证方法及系统_飞腾信息技术有限公司_202510987090.6
    本申请涉及芯片验证领域， 公开了一种验证环境的构建方法、验证方法及系统， 其中， 所述验证环境的构建方法包括：建立待验证部件和各个总线功能模型的连接关系， 并在相匹配的总线功能模型和代理模型之间建立通信连接；对软件端环境内的各个所述代理模型...
    2025-12-25
  • 基于集总模型的低噪声放大器堆叠集成结构及其设计方法
    基于集总模型的低噪声放大器堆叠集成结构及其设计方法_中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))_202510922892.9
    本发明公开了一种基于集总模型的低噪声放大器堆叠集成结构及其设计方法， 所述方法包括：进行多级晶体管放大器原理电路设计；确定采用CMOS工艺并与放大电路同平面设计的集总元件以及采用三维集总模型并起到层间连结和堆叠作用的集总元件；使用仿真软件，...
    2025-12-25
  • PCB信号完整性分析方法、装置、设备及存储介质
    PCB信号完整性分析方法、装置、设备及存储介质_深圳市谦亨电子有限公司_202510894977.0
    本申请提供了一种PCB信号完整性分析方法、装置、设备及存储介质， 该方法包括：根据PCB的设计参数建立PCB的有限元模型， 有限元模型包括：空腔结构、顶部流胶形状和结构区域；获取有限元模型的电磁场数据， 电磁场数据包括：电磁场强度分布和特征...
    2025-12-25
  • 半导体器件版图及设计方法
    半导体器件版图及设计方法_上海华力集成电路制造有限公司_202510890747.7
    本发明提供了一种半导体器件版图及设计方法， 包括：在自动布局布线工具中， 放置核心模块， 核心模块包括多个连接端口， 核心模块的时钟单元与逻辑单元至少具有一定距离；设置顶层金属层， 顶层金属层位于核心模块的上方， 在顶层金属层内形成电源环；...
    2025-12-25
  • 一种基于频谱特征和插入损耗偏差的高带宽S参数矢量拟合方法
    一种基于频谱特征和插入损耗偏差的高带宽S参数矢量拟合方法_电子科技大学_202510884647.3
    本发明公开了一种基于频谱特征和插入损耗偏差的高带宽S参数矢量拟合方法， 属于集成电路技术领域。本发明所述方法基于频谱特征和插入损耗偏差对集成电路的全仿真频段S参数进行离散；为每个离散频段创建对应的运算并行池及运算核心；对于每个运算核心， 矢...
    2025-12-25
  • 一种基于遗传算法的电子电路能效优化设计方法
    一种基于遗传算法的电子电路能效优化设计方法_西安艾格斯电子科技有限公司_202510876085.8
    本发明公开了一种基于遗传算法的电子电路能效优化设计方法， 包括如下步骤：S1、对待优化的电子电路进行建模， 形成混合型染色体并初始化遗传算法种群；S2、基于遗传算法种群构建适应度函数；S3、对当前种群执行选择操作， 适应性高的子代代替父代；...
    2025-12-25
  • 半导体设计版图的设计规则检查方法、设备、介质与产品
    半导体设计版图的设计规则检查方法、设备、介质与产品_东方晶源微电子科技(上海)有限公司_202510875854.2
    本发明提供了一种半导体设计版图的设计规则检查方法、设备、介质与产品。其中半导体设计版图的设计规则检查方法包括：获取半导体设计版图中设计图形的个体包围盒；使用预设网格对半导体设计版图进行划分， 预设网格中的每个单元格配置有相应的标识；根据个体...
    2025-12-25
  • 电路设计中的芯片布局质量检查方法和装置
    电路设计中的芯片布局质量检查方法和装置_华为技术有限公司_202410418154.6
    本申请提供了一种电路设计中的芯片布局质量检查方法和装置， 该方法包括：接收用户输入的芯片设计信息和质量检查选项， 所述芯片设计信息包括芯片中多个块的形状、所述多个块的位置、所述多个块之间的连接关系、多个单元的形状和所述多个单元之间的连接关系...
    2025-12-25
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