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  • 本发明属于变压器高压套管的故障在线监测领域, 公开了一种变压器套管局部放电故障在线监测方法及相关设备, 本方法通过直接采集变压器套管呼吸腔内的油位信息、气体温度和压力, 进而计算得到气体体积、气体总量、产气量与产气速率, 无需进行复杂的气体...
  • 本公开提供一种晶圆量测的装置和方法。该方法包括:产生与多个配方相关联的一测量程序;以及通过执行该测量程序以控制至少一测量元件, 使其根据该些配方来自动测量多个晶圆。
  • 本申请提供了一种COOLMOS的电流承载力检测方法及系统, 涉及电流承载力检测技术领域, 方法包括:通过对待测器件采集得到的热图像集与电气特性数据集进行关联, 得到关联关系;通过关联关系进行电流临界主辅判定点分析, 加权融合得到电流临界点;...
  • 本发明的半导体故障解析装置(1)具备:测试器(2), 其对半导体器件(100)施加刺激信号;光源(3), 其产生照射于半导体器件(100)的照射光(L1);固体浸没式透镜(4), 其配置于照射光(L1)的光路上;光检测部(5), 其接受反射...
  • 本发明涉及一种磁性芯片制程精准检测全周期低能耗协同优化方法, 包括:准备样品:选择要进行磁光检测的磁性芯片样品;设置实验装置:搭建焦平面傅里叶变换磁光检测系统, 焦平面傅里叶变换磁光检测系统包括光源、透镜系统、磁场装置、光学检测器;光学信号...
  • 本发明涉及一种用于侦测异常区块的方法、电路板及系统, 该系统包含电路板及使用接口规格的指示装置。该电路板包含电子元件;支持该接口规格的连接端口, 包含第一引脚;以及晶片组, 包含第一通用型输入输出, 该第一通用型输入输出电性连接该第一引脚及...
  • 本申请提供了一种芯片故障诊断方法和装置, 该芯片包括多个门和多个扫描链, 芯片通过全局信号驱动, 全局信号包括使能信号、时钟信号和复位信号中的至少两种, 该方法包括:获取所述全局信号驱动的线路上的所述门与所述扫描链之间的连接关系;获取所述芯...
  • 本申请提供一种测试数据处理方法、设备及存储介质。该方法包括:获取使用纳米探针对故障芯片进行测试获得的测试数据;使用预设计算模型对测试数据进行处理, 获得故障芯片的工作参数;将故障芯片的工作参数与故障芯片的标准参数进行比较, 并根据比较结果确...
  • 本申请公开了一种超导量子芯片线路缺陷测试方法, 属于量子芯片制备技术领域。超导量子芯片线路缺陷测试方法, 用于判断超导量子芯片内的测试线路是否有缺陷, 方法包括:对比基准阻值和测试阻值, 判断测试线路是否有缺陷;其中, 基准阻值为基准线路的...
  • 本发明涉及半导体光电器件领域, 特别是涉及一种激光器芯片的可靠性判定方法和加工方法。主要包括:对于指定结构的测试芯片, 在测试芯片封装前, 对多个测试芯片进行反向电压电流测试, 并根据测试结果对测试芯片的反向电流划分档位;在测试芯片封装后,...
  • 一种测试方法、模块和相关设备, 所述测试方法包括:使待测芯片工作在对应的负荷条件下;在待测芯片工作在对应的负荷条件下时, 对待测芯片进行测试。本发明技术方案能够提高芯片测试的准确性。
  • 本申请提供一种底层电路监测方法、终端和存储介质, 涉及终端技术领域, 解决了监测底层电路耗能过多的问题。方法包括:通过电流监测通道和电压监测通道监测被监测模块的运行数据;获取电压监测通道监测的被监测模块的通道电压;在被监测模块的通道电压小于...
  • 本发明公开了一种用于积体电路(IC)晶片测试的测试插座, 包括一个具有多个通孔的绝缘支撑结构和多个弹性导电柱。这些弹性导电柱部分嵌入在支撑结构中并穿过通孔, 以容纳由于IC封装翘曲和BGA焊球尺寸公差而产生的变化。绝缘支撑结构还包括位于通孔...
  • 本发明涉及半导体制造技术领域, 提出了一种用于封装基板无源测试的装置, 包括底架, 底架包括承载区和装夹区, 装夹区呈圆周状等角度开设有四个径向布置的滑槽, 还包括驱动件和柔性装夹组件, 底架侧部安装有驱动件, 驱动件的工作端安装有非接触式...
  • 本发明公开了一种芯片批量化测试装置和方法, 涉及芯片测试领域, 用以提升批量芯片的测试效率。本发明将安装待测芯片的安装槽进行级联, 利用固件指示每一级待测芯片将本级的测试结果连接到先前芯片的测试结果上, 作为后一级芯片的检测数据。上位机控制...
  • 本申请涉及芯片检测技术领域, 公开了一种高可靠性电源芯片电路故障检测系统, 包括集成于低压差线性稳压器芯片内的内建自测架构, 内建自测架构设置有基于模式切换控制电路进行切换的第一测试模式和第二测试模式, 以对低压差线性稳压器芯片中误差放大器...
  • 本申请提供了一种芯片绕线方案测试的版图生成方法、装置、设备及介质, 包括:获取芯片设计过程中的绕线区域、待测试绕线方案的总数量以及测试区域宽度;若绕线区域的数量为一个, 确定出绕线区域的中心折线, 基于测试区域所容纳的单组的待测试绕线方案的...
  • 本发明涉及芯片测试技术领域, 公开了一种芯片噪声抗干扰测试系统, 包括第一直流电源、信号发生器、耦合板、评估板和示波器。耦合板上设置有信号输入接头、供电输入接头、滤波电路、电子开关和输出接头。信号输入接头与信号发生器连接, 供电输入接头与第...
  • 本发明公开了一种智能按摩椅电路板检测系统, 本发明涉及按摩椅电路板检测技术领域, 包括采集组件、处理组件、计算组件和分析组件, 其中计算组件包括信号分析模块、负载功率风险模块和电路协同健康模块, 本发明通过动态信号畸变系数、负载自适应功率风...
  • 本发明一种智能型继电保护跳闸矩阵测试装置。解决了现有技术对跳闸矩阵测试重复操作内容多, 测试耗时长, 测试效率低, 无法测试保护装置继电器动作时间与设定是否一致的问题。装置包括采集端和主机端, 采集端包括采集模块和转换模块, 转换模块连接采...
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