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最新专利技术
  • 一种车辆电磁阀的测试系统
    一种车辆电磁阀的测试系统_苏州双歌电子有限公司_202512054793.6
    一种车辆电磁阀的测试系统，涉及车辆零部件技术领域，包括气体输入回路和电磁阀回路，所述气体输入回路能够与电磁阀回路连通，所述电磁阀回路包括至少一个电磁阀，当所述电磁阀的数量为两个或两个以上时，所述电磁阀之间并联，所述气体输入回路与所述电磁阀回...
    2026-04-04
  • 一种真空断路器合成试验的延弧装置、方法和试验系统
    一种真空断路器合成试验的延弧装置、方法和试验系统_西安高压电器研究院股份有限公司_202511992394.8
    本申请公开了一种真空断路器合成试验的延弧装置、方法和试验系统，延弧装置包括：N个延弧电路和控制器，N为大于等于2的整数；每个延弧电路包括依次串联的开关、点火球隙、电容器和电阻，N个延弧电路并联在被试断路器的两端；控制器控制N个延弧电路的开关...
    2026-04-04
  • 一种高压点火球隙间距确定方法及相关装置
    一种高压点火球隙间距确定方法及相关装置_西安高压电器研究院股份有限公司_202511969294.3
    本发明公开了一种高压点火球隙间距确定方法及相关装置，包括：获取点火球的原始环境温度、原始环境湿度、原始高压点火球隙间距、原始充电电压和点火球动作时延，根据点火球动作时延选取预设时延范围内的环境温度、环境湿度、高压点火球隙间距和充电电压，根据...
    2026-04-04
  • 一种基于运行电气参数时间解析的换流阀多光谱巡检方法
    一种基于运行电气参数时间解析的换流阀多光谱巡检方法_上海欣能信息科技发展有限公司_202511910554.X
    本发明公开了一种基于运行电气参数时间解析的换流阀多光谱巡检方法，通过实时采集换流阀电压电流波形相位等参数，动态生成多光谱成像设备巡检策略，同步触发可见光、红外和紫外成像设备在关键相位窗口采集图像，经预处理、配准融合和AI缺陷识别后，进一步闭...
    2026-04-04
  • 一种机械式直流断路器的合成试验回路和方法
    一种机械式直流断路器的合成试验回路和方法_华中科技大学_202511906415.X
    本申请属于直流断路器开断试验领域，具体公开了一种机械式直流断路器的合成试验回路和方法。本申请通过控制回路各开关的控制时序相互配合，电压源LC支路与调频支路振荡出等效恢复电压，相较于现有合成试验合路，等效出与直流断路器实际开断时更加相符的电流...
    2026-04-04
  • 一种配电柜断路器监测装置
    一种配电柜断路器监测装置_江苏爱博电气有限公司_202511866066.3
    本发明涉及断路器测试领域，尤其涉及一种配电柜断路器监测装置，包括检测台，检测台上端沿长度方向设置有滑轨，滑轨上适配滑动安装有滑板，滑板上依次排列滑动安装有若干断路器主体，检测台顶端固设有固定架，固定架内部两侧对称设置有定位组件，定位组件用于...
    2026-04-04
  • 断路器弹簧操动机构的状态监测装置及状态监测方法
    断路器弹簧操动机构的状态监测装置及状态监测方法_国网山西省电力有限公司太原供电分公司_202511842934.4
    本发明涉及电力设备监测技术领域，提供了一种断路器弹簧操动机构的状态监测装置及状态监测方法，该装置包括TENG模块，MEMS压力传感器和控制模块；TENG模块包括联动件，第一固定件，TENG单元和第二固定件；联动件的触发端和联动端通过拐轴连接...
    2026-04-04
  • 测试电路和电路测试方法
    测试电路和电路测试方法_华为技术有限公司_202411311171.6
    本申请提供了一种测试电路和电路测试方法，应用于待测试电路，待测试电路包括伪随机向量生成器和K个扫描链，测试电路包括随机常量生成器、低功耗控制器和第一多路选择器，随机常量生成器用于生成第一测试向量；低功耗控制器用于生成低功耗控制信号，低功耗控...
    2026-04-04
  • 测试用例生成方法、设备、介质和产品
    测试用例生成方法、设备、介质和产品_上海壁仞科技股份有限公司_202511940962.X
    本发明涉及芯片技术领域，提供一种测试用例生成方法、设备、介质和产品，方法包括：利用第一层激励生成模块生成约束序列；将约束序列传递至第二层激励生成模块，并在第二层激励生成模块中配置用于指示优先使用约束序列的控制标识；在控制标识处于有效状态的情...
    2026-04-04
  • 基于异构振荡器阵列的三维物理量解耦监测系统及方法
    基于异构振荡器阵列的三维物理量解耦监测系统及方法_中山大学_202610195203.3
    本申请公开了基于异构振荡器阵列的三维物理量解耦监测系统及方法，涉及集成电路技术领域，系统包括：异构传感器阵列、双混频信号处理链、预分频器、选择器、时分复用硬件统计加速器以及解耦算法模块。本申请通过设计异构传感器阵列，包括逻辑主导的老化敏感振...
    2026-04-04
  • 一种电源芯片生产检测装置及检测方法
    一种电源芯片生产检测装置及检测方法_广州市力驰微电子科技有限公司_202610068690.7
    本发明公开了一种电源芯片生产检测装置及检测方法，包括：检测台，检测台顶端设置有输送带限位板，输送带限位板端部内侧均通过轴连接有从动辊，从动辊外侧滚动连接有输送带主体，输送带主体表面设置有芯片放置模具，芯片放置模具顶端吻合放置有电源芯片主体，...
    2026-04-04
  • 一种芯片电性参数在线智能校准方法及系统
    一种芯片电性参数在线智能校准方法及系统_苏州芯钛半导体科技有限公司_202512045014.6
    本发明提供了一种芯片电性参数在线智能校准方法及系统，涉及参数校准技术领域，方法包括：对目标芯片进行物理状态感知，得到多模态状态数据；进行实时工作场景识别；调用历史时序状态序列；进行电性参数动态偏差预测，输出目标参数预测偏差值；基于时序违例事...
    2026-04-04
  • 一种低阻值CAF测试系统及方法
    一种低阻值CAF测试系统及方法_广东微谱标准技术有限公司_202511975043.6
    本发明公开了一种低阻值CAF测试系统及方法，包括多个测试回路，每个所述测试回路均包括测试接口，多个所述测试回路用于对多个待测对象进行测试；阻值切换单元，所述阻值切换单元与所述测试回路相串联，所述阻值切换单元包括多种不同阻值的保护电阻；控制单...
    2026-04-04
  • 一种用于PCBA检测的多层测试架装置
    一种用于PCBA检测的多层测试架装置_上海丸旭电子科技有限公司_202511972696.9
    本发明公开了一种用于PCBA检测的多层测试架装置，包括矩口层架、在矩口层架内部自上而下等间距活动安装的多个载件台以及安装在矩口层架顶端并用于带动多个载件台同步活动的电动进出组件，所述矩口层架表面的一侧安装有和电动进出组件输入端保持电性连接的...
    2026-04-04
  • 一种阵列式自适应插针测试系统
    一种阵列式自适应插针测试系统_重庆金康动力新能源有限公司_202511944891.0
    本申请涉及一种阵列式自适应插针测试系统，包括视觉定位系统、插针系统、压力控制系统以及计算机系统、测试装置；视觉定位系统将PCB电路板的表面图像传输至计算机系统，计算机系统基于此生成各测试点位的矩阵坐标并传输至插针系统；插针系统基于矩阵坐标对...
    2026-04-04
  • 一种线路板测试装置
    一种线路板测试装置_惠州鸿鑫智控科技有限公司_202511925914.3
    本发明公开了一种线路板测试装置，涉及线路板技术领域，包括测试机构，所述测试机构的内部设置有校准机构，所述测试机构的背面设置有翻转机构，所述校准机构的底部与测试机构的内部固定连接；所述测试机构包括底板，所述底板的顶部固定连接有支撑杆，所述支撑...
    2026-04-04
  • 一种电子板卡检测装置
    一种电子板卡检测装置_中国人民解放军海军工程大学_202511904307.9
    本发明公开了一种电子板卡检测装置，包括进料传送部件和出料传送部件，进料传送部件和出料传送部件之间固定设有底座，底座一侧设有测试主机和显示屏，测试主机连接有多插槽适配器，底座上部设有与进料传送部件上表面持平的中转辊，底座上部固定设有连接有插拔...
    2026-04-04
  • 电路故障检测装置、嵌入式系统和电路的故障检测方法
    电路故障检测装置、嵌入式系统和电路的故障检测方法_杭州华澜微电子股份有限公司_202511649145.9
    本申请公开了一种电路故障检测装置、嵌入式系统和电路的故障检测方法，属于电子领域。该电路故障检测装置包括：中断管理模块、中断统计模块和故障判决模块；所述中断管理模块与所述中断统计模块耦接，所述中断统计模块与所述故障判决模块耦接；其中，所述中断...
    2026-04-04
  • 一种芯片测试系统
    一种芯片测试系统_深圳米飞泰克科技股份有限公司_202511640149.0
    本申请涉及集成电路测试领域，提供一种芯片测试系统，用于测试位于基板上的多个芯片，芯片测试系统包括：定位设备、测试PCB板、测试座以及测试设备；定位设备用于定位基板；测试座包括多个第一测试位，多个第一测试位的排列方式与多个芯片的排列方式相同，...
    2026-04-04
  • 半导体芯片的调测方法、芯片及存储介质
    半导体芯片的调测方法、芯片及存储介质_广州芯之联科技有限公司_202511598745.7
    本申请提出了半导体芯片的调测方法、芯片及存储介质，属于芯片加工技术领域，该方法包括：初始化第一半导体芯片中的端口复用选择模块和DFT功能电路；响应于确定来自于测试平台的目标测试指令的测试类型为DFT测试，将端口复用选择模块中与目标测试指令对...
    2026-04-04
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