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最新专利技术
  • 故障定位方法、装置、电子设备及存储介质
    故障定位方法、装置、电子设备及存储介质_广东高域科技有限公司_202410314748.2
    本申请提供了一种故障定位方法、装置、电子设备及存储介质， 该方法包括：通过电源模块对连接的被测模块进行上电处理， 并运行被测模块， 其中， 被测模块中包括多个插桩代码；在被测模块处于上电状态的过程中， 获取被测模块中的多个插桩代码的运行结果...
    2026-02-14
  • 屏幕保护器的检测方法、系统及电子设备
    屏幕保护器的检测方法、系统及电子设备_荣耀终端股份有限公司_202410331897.X
    本申请涉及终端技术领域， 提供一种屏幕保护器的检测方法、系统及电子设备， 该方法包括：响应于对触控屏的第一区域的触控操作， 获取触控屏的第二区域的目标触控数据， 第一区域与第二区域对应且彼此间隔；根据目标触控数据确定电子设备是否安装屏幕保护...
    2026-02-14
  • 装配检查方法、系统、装置、计算机设备和存储介质
    装配检查方法、系统、装置、计算机设备和存储介质_中科可控信息产业有限公司_202410370171.7
    本申请涉及一种装配检查方法、系统、装置、计算机设备和存储介质。所述方法应用于主板， 所述主板包括多个接口， 每个接口对应一个背板标识， 所述背板标识用于识别唯一的硬盘背板， 所述方法包括：接收硬盘背板发送的第一背板标识， 所述第一背板标识表...
    2026-02-14
  • 测试系统、方法、装置和计算机设备
    测试系统、方法、装置和计算机设备_中科可控信息产业有限公司_202410370256.5
    本申请涉及一种测试系统、方法、装置和计算机设备。所述测试系统：上位机、电子负载机以及测试板卡， 所述上位机与所述电子负载机和所述测试板卡分别连接， 且所述电子负载机和所述测试板卡连接， 所述测试板卡还用于与服务器中的待测试元件连接。其中， ...
    2026-02-14
  • 测试治具、方法、装置、计算机设备和存储介质
    测试治具、方法、装置、计算机设备和存储介质_中科可控信息产业有限公司_202410370553.X
    本申请涉及一种测试治具、方法、装置、计算机设备和存储介质。所述测试治具包括BMC和示波器；所述BMC， 用于根据客户端接收到的控制操作， 输出使能信号， 所述控制操作用于指示待测试的信号类型， 所述使能信号用于控制输入待测试的高速串行计算机...
    2026-02-14
  • 测试方法、系统、装置、计算机设备和存储介质
    测试方法、系统、装置、计算机设备和存储介质_中科可控信息产业有限公司_202410370558.2
    本申请涉及一种测试方法、系统、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：在检测到服务器处于系统关机状态时， 通过所述服务器的主板的供电电源使能信号控制所述服务器下电并上电；在所述服务器上电后， 驱动所述服务器系统开机、自检以及在自检完成后系...
    2026-02-14
  • 一种性能测试方法、设备、存储介质及计算机程序产品
    一种性能测试方法、设备、存储介质及计算机程序产品_杭州阿里云飞天信息技术有限公司_202410371764.5
    本申请实施例提供一种性能测试方法、设备、存储介质及计算机程序产品。在本申请实施例中， 若存在与第一存储设备历史流量行为相似的第二存储设备， 且在满足同一流量需求信息时， 第二存储设备所需的流量回放时长短于第一存储设备所需的流量回放时长， 则...
    2026-02-14
  • 适配器及其自保护方法
    适配器及其自保护方法_歌尔智能科技有限公司_202510671605.1
    本发明提供一种适配器及其自保护方法， 其中的适配器自保护方法包括：接收来自所述掉落检测模块的检测结果；根据所述检测结果判断所述设备主体是否达到预设掉落条件；当判定所述设备主体达到预设掉落条件时， 控制所述导电柱收容至所述收纳槽内。本发明提供...
    2026-02-14
  • 用于零终端的动态自适应测试方法、系统及电子设备
    用于零终端的动态自适应测试方法、系统及电子设备_西安万像电子科技有限公司_202510762046.5
    本公开实施例是关于用于零终端的动态自适应测试方法、系统及电子设备， 该方法包括：根据零终端上报的历史测试数据确定各测试项的历史失败率和历史平均耗时， 历史测试数据包括历史耗时、历史测试时间和历史测试结果；获取各测试项对应的故障严重等级， 并...
    2026-02-14
  • 基于AI模型的自动解析芯片参数数值的方法
    基于AI模型的自动解析芯片参数数值的方法_无锡宇宁智能科技有限公司_202510833843.8
    本发明公开了一种基于AI模型的自动解析芯片参数数值的方法， 包括如下步骤：a、获取芯片规格书的样本组；b、基于所述芯片规格书生成规格书对应的Json模板， 并基于所述样本组中的芯片规格书及对应的Json模板生成输入‑输出样本对并形成AI模型...
    2026-02-14
  • 芯片测试方法、装置、设备及存储介质
    芯片测试方法、装置、设备及存储介质_杭州长川科技股份有限公司_202510875277.7
    本申请公开了一种芯片测试方法、装置、设备及存储介质， 通过对并行测试项的资源配置信息进行配置合规检测， 得到第一检测结果， 并行测试项为测试过程中需并行执行的测试项， 资源配置信息用于指示并行测试项的硬件资源配置情况；响应于第一检测结果指示...
    2026-02-14
  • 一种芯片原型验证方法、设备、介质和产品
    一种芯片原型验证方法、设备、介质和产品_山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司_202511164091.7
    本发明公开了一种芯片原型验证方法、设备、介质和产品， 涉及集成电路验证技术领域， 包括：在芯片原型验证平台中， 将多核芯片的中央处理器核心动态划分为第一核组和第二核组；通过核间通信代理对第一核组与第二核组进行数据交互， 以得到验证控制指令；...
    2026-02-14
  • 一种设备检测方法及电子设备
    一种设备检测方法及电子设备_苏州元脑智能科技有限公司_202511172950.7
    本申请公开了一种设备检测方法及电子设备， 涉及计算机领域， 获取客户端筛选出的测试任务和对应的设备程序用例集；测试任务包括设备健康检查任务和设备程序用例的用例测试任务；对目标设备的设备环境感知信息进行配置检查， 在配置检查结果表征正常时执行...
    2026-02-14
  • 诊断组件管控方法、电子设备、存储介质及程序产品
    诊断组件管控方法、电子设备、存储介质及程序产品_苏州元脑智能科技有限公司_202511178660.3
    本申请公开了一种诊断组件管控方法、电子设备、存储介质及程序产品， 涉及计算机技术领域。本申请将诊断软件中程序语言划分为多个测试项， 将所述测试项对应的程序语言封装为底层组件， 实现底层组件可单独使用， 设置压测工具中的底层组件的获取方式为通...
    2026-02-14
  • 一种磁盘阵列数据泄露的检测方法、产品、设备及介质
    一种磁盘阵列数据泄露的检测方法、产品、设备及介质_浪潮电子信息产业股份有限公司_202511188337.4
    本申请公开了一种磁盘阵列数据泄露的检测方法、产品、设备及介质， 涉及计算机技术领域， 包括获取审计日志内容信息， 对审计日志内容信息进行操作行为的数据泄露检测， 得到第一检测结果；在第一检测结果为不存在数据泄露风险的情况下， 获取磁盘阵列系...
    2026-02-14
  • 测试链路异常定位装置、系统、方法、设备、介质及程序
    测试链路异常定位装置、系统、方法、设备、介质及程序_苏州元脑智能科技有限公司_202511190977.9
    本申请公开了一种测试链路异常定位装置、系统、方法、设备、介质及程序， 涉及计算机技术领域， 包括在测试链路异常时， 处理组件向每个节点设备的第一寄存器写入第一使能位， 每个节点设备响应第一使能位进入低功耗模式， 以在低功耗转换过程中暴露出测...
    2026-02-14
  • 一种服务器检测方法和电子设备
    一种服务器检测方法和电子设备_苏州元脑智能科技有限公司_202511207178.8
    本申请公开了一种服务器检测方法和电子设备， 涉及服务器硬件检验技术领域， 包括自动获取生命周期管理数据无需跨系统手动切换操作， 并基于这些数据自动确定目标测试指引文件， 无需人工判断或筛选测试方案；目标测试指引文件提供统一的量化测试标准， ...
    2026-02-14
  • 处理器核心检测方法、设备、存储介质及程序产品
    处理器核心检测方法、设备、存储介质及程序产品_苏州元脑智能科技有限公司_202511220315.1
    本发明公开了一种处理器核心检测方法、设备、存储介质及程序产品， 涉及计算机测试技术领域， 包括基于多个预设方法分别对核心数量的读取和检测， 确定核心数量测试结果；若核心数量测试结果为测试通过， 则基于对各个核心的第一压力测试， 确定第一压力...
    2026-02-14
  • 探针卡的存储芯片的测试方法、检测电路及系统
    探针卡的存储芯片的测试方法、检测电路及系统_深圳市道格特科技有限公司_202511156576.1
    本申请公开了一种探针卡的存储芯片的测试方法、检测电路及系统， 涉及半导体测试技术领域， 公开了检测电路， 包括：控制模块和以太网模块， 控制模块包括联合测试行动组接口， 联合测试行动组接口与以太网模块连接， 控制模块的测试控制端用于与存储芯...
    2026-02-14
  • 基于FPGA的模块原型验证装置、方法、设备及存储介质
    基于FPGA的模块原型验证装置、方法、设备及存储介质_牛芯半导体(深圳)有限公司_202511227679.2
    本申请的实施例揭示了一种基于FPGA的模块原型验证装置、方法、设备及存储介质， 该装置包括FPGA板卡、FMC子卡和上位机， FPGA板卡包括信号发生器、待测试模块、物理层模块、第二预设接口模块、解帧模块和缓存模块；所述待测试模块包括数字下...
    2026-02-14
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