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最新专利技术
  • 一种超硬X射线的成像系统及成像实验方法
    一种超硬X射线的成像系统及成像实验方法_中国科学院上海高等研究院_202610158871.9
    本发明提供一种超硬X射线的成像系统及成像实验方法，包括沿着超硬X射线传播方向依次排列的多个X射线转化分光机构、以及位于每个X射线转化分光机构各自的下游的分光光路上的独立的透镜耦合技术的X射线成像系统；X射线转化分光机构将超硬X射线转化为可见...
    2026-04-23
  • X射线检测系统
    X射线检测系统_西门子医疗股份公司_202511473239.5
    本发明涉及一种X射线检测系统，其包括检测器单元(3)和信号处理装置(11)，所述检测器单元(3)用于基于检测到的X射线光子生成输入信号(IS)，所述信号处理装置(11)用于处理所述输入信号，其中，所述信号处理装置(11)包括：－用于接收所述...
    2026-04-23
  • 核反应堆的多层结构管材的力学失效行为测试方法及装置
    核反应堆的多层结构管材的力学失效行为测试方法及装置_中广核研究院有限公司_202511863794.9
    本申请公开了一种核反应堆的多层结构管材的力学失效行为测试方法及装置，属于管材原位测试领域。该方法包括步骤：控制加载模块对多层结构管材进行加载，并获取加载过程中多层结构管材承受的载荷的力值曲线；其中，多层结构管材为两层以上结构形式的管材；控制...
    2026-04-23
  • 一种估算原子气室内碱金属量的方法
    一种估算原子气室内碱金属量的方法_中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所_202511965553.5
    本发明涉及量子传感领域，尤其涉及一种估算原子气室内碱金属量的方法。包括：将原子气室放置于氮化硼组件内；在氮化硼组件外表面贴加热片和制冷片TEC，同时在制冷片和加热片贴上PT100用来测定温度；开启加热电源和制冷电源，加热温度控制在120±2...
    2026-04-23
  • 油水两相相对渗透率曲线的检测方法、系统、设备及介质
    油水两相相对渗透率曲线的检测方法、系统、设备及介质_中国石油大学(北京)_202610230724.8
    本申请公开了一种油水两相相对渗透率曲线的检测方法、系统、设备及介质，所属的技术领域为油气田开发技术。所述油水两相相对渗透率曲线的检测方法包括：对岩心样品进行洗油和烘干，对岩心样品抽真空并注入地层水，以使岩心样品达到饱和水状态；在预设油藏温度...
    2026-04-23
  • 一种在线测量三氟化硼络合物体系中硼浓度的装置和方法
    一种在线测量三氟化硼络合物体系中硼浓度的装置和方法_苏州热工研究院有限公司_202610073381.9
    本发明提供一种在线测量三氟化硼络合物体系中硼浓度的装置和方法，涉及硼‑10酸生产技术领域。装置包括中子发射部、流体流通部、中子探测部和数据处理部。中子发射部用于发射热中子束，流体流通部与三氟化硼‑苯甲醚络合物生产工艺的交换精馏塔塔底流体管路...
    2026-04-23
  • 一种煤岩灰分的计算方法、装置、设备及介质
    一种煤岩灰分的计算方法、装置、设备及介质_中国石油化工集团有限公司_202411445002.1
    本申请公开了一种煤岩灰分的计算方法、装置、设备及介质。在上述方法中，首先通过获取全岩矿物X衍射实验数据和目标层位煤岩的X射线元素数据；根据全岩矿物X衍射实验数据，获得煤岩的灰分矿物类型；再利用特征元素占灰分矿物中的质量分数和X射线元素数据，...
    2026-04-23
  • 一种超高温环境下热障涂层表面温度测量方法
    一种超高温环境下热障涂层表面温度测量方法_西南科技大学_202610325972.0
    本发明公开了一种超高温环境下热障涂层表面温度测量方法，包括：获取微区样品，进行热处理；测定样品的晶体结构；依据晶体结构特征衍射峰位，锁定稳定剂浓度含量较高的晶体结构，计算样品中稳定剂浓度；确定稳定剂浓度与温度之间的对应关系；通过数学拟合或热...
    2026-04-23
  • 一种铜板EBSD样品的制备方法
    一种铜板EBSD样品的制备方法_山西轻合科技有限公司_202610228546.5
    本发明公开了一种铜板EBSD样品的制备方法，属于材料微观分析测试技术领域。该方法主要包括以下步骤：样品切取与固定、梯度砂纸研磨、抛光处理、清洗干燥、恒流电解与后处理。该方法能有效去除样品表层的机械损伤层，获得无应变、无划痕、清洁且平整的样品...
    2026-04-23
  • 一种背散射成像系统标定方法及装置
    一种背散射成像系统标定方法及装置_清华大学_202511982001.5
    本发明公开了一种背散射成像系统标定方法及装置，涉及核辐射成像技术领域，其中方法包括：将前准直器笔形束与探测器平面等效为二维平面内的直线，把后准直器狭缝视作固定点，构建射影几何光路映射模型；引入物理能够实现的基准点建立成像系统坐标参考系，将物...
    2026-04-23
  • 石门铷矿床铷的赋存状态和矿床成因分析方法、设备及介质
    石门铷矿床铷的赋存状态和矿床成因分析方法、设备及介质_中国地质大学(北京)_202610347773.X
    本发明公开了石门铷矿床铷的赋存状态和矿床成因分析方法、设备及介质，属于矿床成因分析技术领域，包括：通过计算理论结构参数与实测结构参数的偏差识别结构异常样品，基于应变空间分布的散度特征区分第一应变模式样品和第二应变模式样品，利用同位素分馏峰值...
    2026-04-23
  • 一种X射线衍射成像与实时气体分析方法与装置
    一种X射线衍射成像与实时气体分析方法与装置_中山大学_202512053744.0
    本发明涉及一种X射线衍射成像与实时气体分析方法与装置，包括可拆卸电池模具、嵌入式气路、加热线丝、加热丝供电线、XY位移台底座、质谱仪、充放电设备及隔膜，可拆卸电池模具由电池模具正极壳和电池模具负极壳扣合构成，电池模具正极壳上设有X射线窗口一...
    2026-04-23
  • 一种用于中子飞行时间谱仪的精细准直器调试方法
    一种用于中子飞行时间谱仪的精细准直器调试方法_散裂中子源科学中心_202610140021.6
    本发明公开了一种用于中子飞行时间谱仪的精细准直器调试方法，应用于中子散射科学与技术领域，包括：获取第一衍射样品沿束流方向以第一预设步长运动，不同位置下左、右精细准直器对应的衍射强度，并基于峰值对应位置与束流中心位置的偏差进行粗调试；获取第二...
    2026-04-23
  • 一种稀土金属交换分子筛XRF标准样品的制备方法
    一种稀土金属交换分子筛XRF标准样品的制备方法_中国石油天然气股份有限公司_202411435579.4
    本发明公开了一种稀土金属交换分子筛XRF标准样品的制备方法，该制备方法包括以下步骤：将分子筛在烘箱中干燥，冷却，称取干燥后的分子筛与稀土金属盐或氧化物，添加试剂进行研磨混合；将混合完成后的样品，首先进行真空快速干燥，然后置于烘箱中进行二次干...
    2026-04-23
  • 一种X射线荧光光谱测定回收聚苯乙烯塑料的灰分含量的方法
    一种X射线荧光光谱测定回收聚苯乙烯塑料的灰分含量的方法_中国石油天然气股份有限公司_202411435543.6
    本发明公开了一种X射线荧光光谱测定回收聚苯乙烯塑料灰分含量的方法，包括以下步骤：选取不同灰分含量的回收聚苯乙烯塑料作为标样，利用X射线荧光仪测定塑料的全元素含量，将回收聚苯乙烯塑料的有机成分作为平衡相参与计算，得到塑料的理论灰分，按照灰分含...
    2026-04-23
  • 一种评估钢渣-矿渣-石膏基胶凝材料原料适配性的方法
    一种评估钢渣-矿渣-石膏基胶凝材料原料适配性的方法_北京建筑材料科学研究总院有限公司_202610197199.4
    本发明涉及资源综合利用领域，尤其涉及一种评估钢渣‑矿渣‑石膏基胶凝材料原料适配性的方法。该方法包括：将待鉴定的钢渣粉与矿渣粉按40 : 45的质量比混合，计算混合粉料三元碱度；将待鉴定的钢渣粉、矿渣粉和石膏粉按40：45：15的质量比混合，...
    2026-04-23
  • 一种混凝土结构碱活性骨料反应耐久性评价方法
    一种混凝土结构碱活性骨料反应耐久性评价方法_中国安能集团第一工程局有限公司_202511819187.2
    本发明属于土木工程与建筑材料技术领域，具体而言，涉及一种混凝土结构碱活性骨料反应耐久性评价方法，旨在解决现有在役混凝土结构AAR耐久性评价滞后、周期长及与实际服役状态脱节等问题。本发明从混凝土结构获取服役状态骨料样本，经预处理、再制备成标准...
    2026-04-23
  • 一种CVD硅碳复合材料中硅分布均匀性的评价方法
    一种CVD硅碳复合材料中硅分布均匀性的评价方法_浙江格源硅材料有限公司_202610000205.2
    本发明涉及一种CVD硅碳复合材料中硅分布均匀性的评价方法，包括如下步骤：(S1)获取样品的扫描电镜背散射电子图像和硅元素面分布图；(S2)通过图像分析软件对硅元素面分布图进行二值化处理，统计沉硅颗粒的面积占比ΣSi；(S3)结合样品的碳质量...
    2026-04-23
  • 基于微型光谱成像芯片的阴极荧光系统
    基于微型光谱成像芯片的阴极荧光系统_清华大学_202511996402.6
    本发明提供一种基于微型光谱成像芯片的阴极荧光系统，属于光学检测技术领域，系统包括：光谱成像芯片，用于对来自样品的阴极荧光进行探测；光谱成像芯片包括：微纳结构光谱调制层，包括多个微纳结构子阵列，各微纳结构子阵列具有彼此不同的预设光谱调制函数，...
    2026-04-23
  • 一种用于确定聚合物的交联条件的方法
    一种用于确定聚合物的交联条件的方法_北京怀柔实验室_202610015729.9
    本发明涉及材料交联密度测试领域，公开了一种用于确定聚合物的交联条件的方法，所述的方法包括：S1、将聚合物和交联引发剂混合进行开炼和热压处理，制备掺杂有交联引发剂的未交联聚合物；S2、将所述未交联聚合物在第一交联条件下发生交联反应，并原位测试...
    2026-04-23
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