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最新专利技术
  • 一种EFA领域芯片缺陷定位的高透玻璃卡盘
    一种EFA领域芯片缺陷定位的高透玻璃卡盘_上海矽弼半导体科技有限公司_202511285954.6
    本发明公开了一种EFA领域芯片缺陷定位的高透玻璃卡盘， 包括玻璃主板， 玻璃主板的内腔设置有高透玻璃， 高透玻璃的表面设置有玻璃压环， 玻璃主板的底部分别开设有滑动槽和对称的安装槽， 且滑动槽的内腔通过弹簧滑动套接有调节块， 安装槽的内腔螺...
    2026-03-23
  • 输出阻抗校准方法、电路及集成电路产品
    输出阻抗校准方法、电路及集成电路产品_合肥芯存半导体有限公司_202511258976.3
    本公开提供了一种输出阻抗校准方法、电路及集成电路产品， 涉及集成电路技术领域。该方法包括：响应于多个并联支路中的第一支路导通， 确定待测产品的第一输出阻抗， 第一输出阻抗包括第一支路的第一电阻和因探针测试导致的第一接触电阻；响应于多个并联支...
    2026-03-23
  • 一种基于FPC生产的多板通电测试装置及方法
    一种基于FPC生产的多板通电测试装置及方法_同扬光电(江苏)有限公司_202511241771.4
    本发明公开了一种基于FPC生产的多板通电测试装置及方法， 涉及FPC生产检测设备技术领域， 包括设置于老化炉内的老化炉料架以及设置于老化炉料架上的多个料板， 料板上设置有多个电路板， 多个电路板均通过电信号与老化炉电性连接， 料板和电路板之...
    2026-03-23
  • 一种便于调控温度的芯片测试装置
    一种便于调控温度的芯片测试装置_东莞平晶微电子科技有限公司_202511091009.2
    本发明公开了一种便于调控温度的芯片测试装置， 涉及芯片测试技术领域， 包括底板和测试组件；底板：下侧固定有连接框架， 所述连接框架上侧的后端固定有支撑框架， 所述支撑框架的上侧安装有蓄水组件， 所述蓄水组件的内部安装有水循环组件， 所述蓄水...
    2026-03-23
  • 一种集成电路芯片错开双轨串测测试装置
    一种集成电路芯片错开双轨串测测试装置_福州派利德电子科技有限公司_202510997262.8
    本申请涉及芯片测试的技术领域， 公开了一种集成电路芯片错开双轨串测测试装置， 包括：机架， 机架沿芯片的输送方向设置有测试装置， 测试装置包括第一测试工位和第二测试工位；第一竖向输送通道， 安装于机架上且位于第一测试工位处；第二竖向输送通道...
    2026-03-23
  • 基于多通道信号分析的PCB音频电路半自动测试系统及方法
    基于多通道信号分析的PCB音频电路半自动测试系统及方法_长沙幻音科技有限公司_202510975230.8
    本发明涉及电子电路测试技术领域， 具体公开了基于多通道信号分析的PCB音频电路半自动测试系统及方法， 所述方法包括以下步骤：基于预先设置的架构关系配置半自动测试电路；生成不同的测试信号， 不同的测试信号至少存在一种不同的信号参数；基于正常P...
    2026-03-23
  • 一种用于集成电路的晶圆封装测试方法
    一种用于集成电路的晶圆封装测试方法_新乡芯悦达科技有限公司_202510920271.7
    本发明涉及晶圆测试领域， 尤其涉及一种用于集成电路的晶圆封装测试方法， 包括， 根据所处的晶圆测试需求状态确定是否进行参考关联分析， 以及， 是否进行区域参考分析；参考关联分析时， 根据径向分布关联指数以及环向分布关联指数确定初始分析数据集...
    2026-03-23
  • 基于故障识别的电路控制方法、装置、设备及存储介质
    基于故障识别的电路控制方法、装置、设备及存储介质_广东电网有限责任公司惠州供电局_202510919895.7
    本申请实施例提供一种基于故障识别的电路控制方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取电路的当前运行数据；其中， 当前运行数据表征当前时刻下电路的运行状态；基于预设的至少两个故障识别模型， 对当前运行数据进行特征提取处理， 得到电路的故障信...
    2026-03-23
  • 全自动扫码-烧录-测试电源电路板程序设备
    全自动扫码-烧录-测试电源电路板程序设备_深圳市新威尔电子有限公司_202510908528.7
    本发明提供了一种全自动扫码‑烧录‑测试电源电路板程序设备， 包括机架组件、机罩组件、扫码‑烧录机械手组件、测试工装组件、防护板、控制操作面板组件， 本发明的有益效果在于：该设备能够全自动完成测试电路PCB板的夹紧定位， 探针自动对准板子上的...
    2026-03-23
  • 一种测试仪、负载板及排线检测系统
    一种测试仪、负载板及排线检测系统_深圳米飞泰克科技股份有限公司_202510903548.5
    本申请适用于电子电路技术领域， 提供了一种测试仪、负载板及排线检测系统， 测试仪配置有第一处理器、显示装置、多个测试站、以及与每个所述测试站各自连接的驱动电源， 每个测试站与负载板其中一个测试工位通过排线连接， 每个测试工位各自连接有保护电...
    2026-03-23
  • 一种操作板的自动测试系统和自动测试方法
    一种操作板的自动测试系统和自动测试方法_长园深瑞继保自动化有限公司_202510865902.X
    本申请属于电力电子技术领域， 提供一种操作板的自动测试系统和测试方法， 本系统包括测试管理机、程控直流源、程控开入开出装置、模拟断路器， 测试管理机分别与程控直流源、程控开入开出装置通信连接， 程控直流源给操作板提供操作电源， 程控开入开出...
    2026-03-23
  • 车载PCB主板自动化测试方法及系统
    车载PCB主板自动化测试方法及系统_惠州市泰升电子有限公司_202510844694.5
    本发明涉及主板测试技术领域， 公开了一种车载PCB主板自动化测试方法及系统， 其中， 该方法包括：采集PCB主板的多维环境应力原始数据集；对多维环境应力原始数据集进行特征提取和归一化处理， 得到五维状态向量集；基于五维状态向量集对PCB主板...
    2026-03-23
  • 一种T型三电平逆变器IGBT开路故障与电流传感器故障的诊断方法
    一种T型三电平逆变器IGBT开路故障与电流传感器故障的诊断方法_济源市北辰电力勘测设计有限公司_202510641658.9
    本发明公开了一种T型三电平逆变器IGBT开路故障与电流传感器故障的诊断方法， 属于逆变器故障诊断技术领域， 用以解决三电平T型逆变器IGBT开关管与传感器发生故障时的诊断与定位；包括以下步骤：分别对T型三电平逆变器IGBT开路故障和电流传感...
    2026-03-23
  • 一种集成自动化测试及烧录的一体设备
    一种集成自动化测试及烧录的一体设备_安徽中科中涣智能装备股份有限公司_202510617069.7
    本发明提出一种集成自动化测试及烧录的一体设备， 控制主机被配置为运行测试控制程序， 测试控制程序包括：通过扫码装置获取待测PCB板的唯一标识信息以激活测试序列；执行至少包括固件烧录、电阻参数检测、电压参数检测及应用程序烧录和实时记录设备全生...
    2026-03-23
  • 芯片测试系统
    芯片测试系统_晶晨半导体(上海)股份有限公司_202410433129.5
    一种芯片测试系统， 包括：多路选择单元， 包括多个输入节点和至少一个输出节点， 所述多个输入节点分别与待测芯片的第一型待测引脚耦接， 所述输出节点与测试单元耦接， 适于根据选择控制信号选择性地将多个所述输入节点之一与所述输出节点之一耦接， ...
    2026-03-23
  • 双电接触测试引脚
    双电接触测试引脚_德州仪器公司_202410394526.6
    本申请案的实施例涉及双电接触测试引脚。本发明提供一种用于电子装置测试设备的测试组件(200)， 并且所述测试组件包含接触主体(202)， 所述接触主体具有界定于其中的至少一个细长开口(206)， 其中所述至少一个细长开口(206)在所述接触...
    2026-03-23
  • 适配于SiC功率器件循环使用场景的在线监测系统
    适配于SiC功率器件循环使用场景的在线监测系统_江苏赛立科博半导体有限公司_202511178025.5
    本发明涉及轨道交通领域， 且公开了适配于SiC功率器件循环使用场景的在线监测系统， 通过实时采集SiC功率器件的关键运行参数， 当采集参数超过预设警戒阈值时， 判断是否需要进行后续失效趋势预测， 基于采集到的运行参数构建器件性能变化曲线， ...
    2026-03-23
  • 功率半导体板级测试系统及方法
    功率半导体板级测试系统及方法_泮芯科技(上海)有限公司_202511121998.5
    本发明公开了一种功率半导体板级测试系统及方法， 属于功率半导体器件测试技术领域。该系统创新性地将无功老化测试与动态特性测试集成于单一测试平台， 通过模块化设计解决了传统分站测试存在的效率低、成本高的问题。系统包括：测试工位配备的多功能测试头...
    2026-03-23
  • 一种二极管恒流老化设备及其测试方法
    一种二极管恒流老化设备及其测试方法_浙江杭可仪器有限公司_202511072503.4
    本发明公开一种二极管恒流老化设备， 包括测试副箱和测试主箱， 所述的测试主箱位于测试副箱一侧， 所述的测试主箱与测试副箱之间设有侧箱板， 所述的测试主箱上设有控制箱， 所述的测试主箱和测试副箱上均设有电源箱和测试柜， 所述的电源箱和测试柜通...
    2026-03-23
  • 一种碳化硅功率MOSFET早期失效筛选方法及系统
    一种碳化硅功率MOSFET早期失效筛选方法及系统_安徽安芯电子科技股份有限公司_202510981479.X
    本发明提供一种碳化硅功率MOSFET早期失效筛选方法及系统， 涉及功率管质检技术领域。所述方法包括根据碳化硅功率MOSFET的规格信息和栅氧化层厚度， 通过电流电压扫描方式， 确定栅极检测电压；根据不同温度下的漏极电流和栅极电压的关系曲线，...
    2026-03-23
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