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最新专利技术
  • 一种基于电容分压原理的阀侧套管在线监测装置
    一种基于电容分压原理的阀侧套管在线监测装置_南京九维测控科技有限公司_202511188061.X
    本发明公开了一种基于电容分压原理的阀侧套管在线监测装置， 属于电力技术领域， 包括分压器FYQ和监测器CJY， 解决了实时在线采集阀侧套管运行过程中泄漏电流和局部放电等关键绝缘参数的技术问题， 本发明采用电容分压原理， 输出信号与一次电压无...
    2026-02-02
  • 一种电弧故障检测方法
    一种电弧故障检测方法_上海正泰电源系统有限公司_202511220738.3
    本发明公开了一种电弧故障检测方法， 包括：实时采集逆变器的直流侧电流；当确定直流侧电流为拉弧信号时， 执行第一操作和第二操作中的至少一种：第一操作：向逆变器发送调制切换指令， 使逆变器从第一调制方式切换为第二调制方式， 并再次确定直流侧电流...
    2026-02-02
  • 一种母线绝缘层检测设备
    一种母线绝缘层检测设备_山西壶化集团股份有限公司_202511223755.2
    本发明涉及绝缘检测技术领域， 公开了一种母线绝缘层检测设备， 包括：检测台， 设置有台面， 台面上方设置有透明罩壳， 透明罩壳前侧开放且设置有翻盖， 检测台前侧设置有控制面板和供压模组， 后侧设置有接地模组， 台面上设置有母线布置模组和沙点...
    2026-02-02
  • 直流电缆样品多次快速充放电试验装置及方法
    直流电缆样品多次快速充放电试验装置及方法_广东电网有限责任公司阳江供电局_202511229376.4
    本发明公开了一种直流电缆样品多次快速充放电试验装置及方法， 涉及直流电缆技术领域；装置包括样品腔和试验电路， 样品腔中设置有高压电极， 试验电路包括交流源、变压器、半波整流电路、高压继电器和控制电路；本发明通过对高压继电器的通断时序控制， ...
    2026-02-02
  • 基于频段分析与参数条件判断的故障电弧检测方法及系统
    基于频段分析与参数条件判断的故障电弧检测方法及系统_南京米特科技股份有限公司_202511232890.3
    本发明涉及电气安全检测技术领域， 具体涉及基于频段分析与参数条件判断的故障电弧检测方法及系统， 该方法包括：根据设定的采集周期对电流信号进行采集， 对采集到的每个周期的电流数据进行电流数据预处理；预处理完成后对电流数据进行特征提取， 根据提...
    2026-02-02
  • 一种IGBT模块的绝缘失效定位装置及方法
    一种IGBT模块的绝缘失效定位装置及方法_株洲中车时代半导体有限公司_202410322089.7
    本发明提供一种IGBT模块的绝缘失效定位装置及方法。所述装置包括：压装单元用于对置放在所述黑盒装置内的IGBT模块进行压装；高压源用于对置放在所述黑盒装置内的IGBT模块进行电压；侦测单元用于采用光敏拍照的方式对所述IGBT模块内部产生的拉...
    2026-02-02
  • 半导体器件的温度测试系统和温度调节方法
    半导体器件的温度测试系统和温度调节方法_华为数字能源技术有限公司_202410366521.2
    本申请公开了一种半导体器件的温度测试系统和温度调节方法， 温度测试系统包括变温控制装置、测试电路板和温度检测电路；测试电路板用于与待测半导体器件连接， 测试电路板设置于变温控制装置内部；温度检测电路与测试电路板连接， 待测半导体器件具有温度...
    2026-02-02
  • 测试装置和界面电阻率的检测方法
    测试装置和界面电阻率的检测方法_华为技术有限公司_202410392604.9
    本申请实施例提供一种测试装置和界面电阻率的检测方法， 涉及半导体领域。该测试装置用于对待测样品进行检测。该测试装置包括：样品台， 设置于样品台上的图像检测装置、第一探测装置和第二探测装置；测试装置还包括：电流源、电压检测装置和处理器， 电流...
    2026-02-02
  • 一种基于频率特征量的永磁同步电机驱动器故障诊断方法
    一种基于频率特征量的永磁同步电机驱动器故障诊断方法_国网湖北省电力有限公司随州供电公司_202410473419.2
    本发明属于故障诊断领域， 公开了一种基于频率特征量的永磁同步电机驱动器故障诊断方法， 本发明包括：根据电流采样频率fs和三相电流采样值ia， ib， ic, 计算得到三相电流偏导数iaf， ibf， icf；计算三相电流的幅值im， 并定义...
    2026-02-02
  • 晶圆的测试方法、设备和存储介质
    晶圆的测试方法、设备和存储介质_华虹半导体(无锡)有限公司_202510811683.7
    本申请公开了一种晶圆的测试方法、设备和存储介质， 涉及半导体器件测试技术领域， 包括：获取PCM参数， PCM参数是对目标晶圆进行WAT测试得到的参数；根据PCM参数， 通过查询预设的映射关系确定trim电路档位， 预设的映射关系是PCM参...
    2026-02-02
  • 一种基于多元热敏电参数的功率器件结温监测方法
    一种基于多元热敏电参数的功率器件结温监测方法_杭州曦诺未来科技有限公司_202510986754.7
    本发明公开了一种基于多元热敏电参数的功率器件结温监测方法， 该方法将功率器件的动态特性与功率电路进行一体化建模， 考虑寄生参数、驱动参数、运行参数和温度等因素的影响， 对器件的开关时间、电压电流变化率等热敏参数变化规律进行分析；根据动态模型...
    2026-02-02
  • 一种纳秒量级延时的晶体管可靠性测试系统及方法
    一种纳秒量级延时的晶体管可靠性测试系统及方法_中天微(天津)电子科技有限公司_202511171475.1
    一种纳秒量级延时的晶体管可靠性测试系统及方法， 属于晶体管测试技术领域。该测试系统分为3部分：分别是电压应力值及应力时长控制模块、电流控制模块、硬开关瞬态及导通电阻测试模块。分别用来控制待测晶体管所受漏极电压应力值及漏极电压应力时长；硬开关...
    2026-02-02
  • 一种半导体导电的试验装置
    一种半导体导电的试验装置_赵燃_202511211039.2
    本发明公开了一种半导体导电的试验装置， 涉及半导体试验技术领域。本发明包括透明球组件， 所述透明球组件的内腔设置有行星齿轮组， 所述透明球组件的底部设置有托座机构， 所述透明球组件的表面设置有标记组件， 所述透明球组件包括上球体， 所述上球...
    2026-02-02
  • 研究叠层光电器件的纳秒时间分辨电激励瞬态光谱系统
    研究叠层光电器件的纳秒时间分辨电激励瞬态光谱系统_吉林大学_202510941960.6
    本发明涉及一种研究叠层光电器件的纳秒时间分辨电激励瞬态光谱系统， 属于瞬态吸收光谱技术领域。瞬态光谱采集部分利用信号发生器输出脉冲电压信号触发光电器件， 结合连续白光光源、光谱仪等元件获取光谱信息以确定合适波长；载流子动力学探测部分通过验证...
    2026-02-02
  • 降低测试误差的测试载具及电路板组件的测试方法
    降低测试误差的测试载具及电路板组件的测试方法_宁波环球广电科技有限公司_202410357440.6
    一种降低测试误差的测试载具及电路板组件的测试方法。测试载具用以承载一电路板组件。电路板组件包含一电路板及设置于电路板的一侧的一热源。测试载具包含一壳体以及至少一导热件。壳体具有用以容纳至少部分的电路板的一容置空间。至少一导热件设置并热耦接于...
    2026-02-02
  • 空调主板测试方法、测试设备、控制装置及存储介质
    空调主板测试方法、测试设备、控制装置及存储介质_青岛海尔空调电子有限公司_202410371922.7
    本申请涉及测试技术领域， 具体提供一种空调主板测试方法、测试设备、控制装置及存储介质， 旨在解决现有技术中测试多种类型主板效率低下的技术问题。为此目的， 本申请的空调主板测试方法包括：判断待测主板所属的类型， 其中， 类型至少包括外机板和内...
    2026-02-02
  • 多级钳位测试装置及测试系统
    多级钳位测试装置及测试系统_华为数字能源技术有限公司_202410381403.9
    本申请提供了一种多级钳位测试装置及测试系统， 该测试装置包括多级钳位电路、测试板和连接器件， 测试板包括控制电路和多个继电器；控制电路用于控制多个继电器进行通断， 以切换测试装置的测试回路；各级钳位电路分别用于对各级钳位电路所在位置的电压进...
    2026-02-02
  • 用于并行RF收发器测试和特性分析的系统和方法
    用于并行RF收发器测试和特性分析的系统和方法_德州仪器公司_202510338808.9
    本申请案涉及用于并行RF收发器测试和特性分析的系统和方法。一种测试系统(100)包含：测试仪器(102)， 其具有信号端子(103)；分配器(104)， 其具有连接到所述信号端子(103)的分配器输入和多个分配器输出(105、106、107...
    2026-02-02
  • 晶圆检查装置、卡盘位置测定方法及标靶
    晶圆检查装置、卡盘位置测定方法及标靶_株式会社东京精密_202510343430.1
    本发明提供一种晶圆检查装置、卡盘位置测定方法及标靶， 其提高吞吐量。晶圆检查装置(10)具备：探针卡(21)；卡盘(22)， 能使晶圆(W)与探针卡(21)电连接；保持部(23)， 用于保持卡盘(22)；标靶， 设置在卡盘(22)上；和拍摄...
    2026-02-02
  • 图像传感器处理方法和分析方法
    图像传感器处理方法和分析方法_上海季丰电子股份有限公司_202510711339.0
    本发明公开了图像传感器处理方法和分析方法， 图像传感器处理方法中， 所述图像传感器包括依次设置的滤光片、DAF膜、裸片和封装基板， 所述方法包括：在图像传感器样品的滤光片和打线之间的封装材料上开设腐蚀槽；将酸液加入所述腐蚀槽， 使DAF膜暴...
    2026-02-02
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