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最新专利技术
  • 一种基于电流波形反馈的线缆间歇性故障检测方法及系统
    一种基于电流波形反馈的线缆间歇性故障检测方法及系统_中国人民解放军海军工程大学_202511331039.6
    本发明属于信号检测技术领域， 公开了一种基于电流波形反馈的线缆间歇性故障检测方法及系统， 其中系统包括信息采集模块、数据预处理模块、数据深处理模块、故障检测模块、输出模块、通信模块和储存模块， 方法包括S1、收集电流波形信号；S2、数据预处...
    2025-12-08
  • 一种低压配网漏电故障源的精准定位方法
    一种低压配网漏电故障源的精准定位方法_国网浙江省电力有限公司仙居县供电公司_202511331763.9
    本发明公开了一种低压配网漏电故障源的精准定位方法， 属于电力系统故障诊断技术领域， 其包括采集并计算配电变压器总出线处的电压不平衡度和零序电流值， 基于电压安全阈值和电流安全阈值， 生成初级漏电触发信号， 向线路注入预设频率的特征信号并监测...
    2025-12-08
  • 半导体工艺设备及工艺腔室的状态监测方法
    半导体工艺设备及工艺腔室的状态监测方法_北京北方华创微电子装备有限公司_202410494883.X
    本申请提供一种工艺腔室的状态监测方法， 包括：获取实际工况中工艺腔室内工艺气体的当前电流；在当前电流满足预定条件的情况下， 确定工艺腔室内发生弧光放电；其中， 预定条件包括当前电流大于第一电流阈值， 且当前电流处于供电电源的功率稳定输出阶段...
    2025-12-08
  • 一种高压电缆局部放电监测方法、存储介质及电子装置
    一种高压电缆局部放电监测方法、存储介质及电子装置_江苏北斗银河科技有限公司_202510819256.3
    本申请公开了一种高压电缆局部放电监测方法， 采用基于历史EI序列驱动预测并动态选择滤波策略的监测控制方式， 通过利用预测模型对环境干扰等级进行预测， 并根据干扰等级自适应选择滤波算法， 在边缘节点完成滤波处理并实时更新干扰指数EI， 达到了...
    2025-12-08
  • 一种基于泛在物联网架构的配网架空线路局部放电一体化带电检测系统
    一种基于泛在物联网架构的配网架空线路局部放电一体化带电检测系统_广西电网能源科技有限责任公司_202511318591.1
    本发明适用于配网检测技术领域， 提供了一种基于泛在物联网架构的配网架空线路局部放电一体化带电检测系统， 包括：脉冲信号检测端、边缘网关及云端监测平台；脉冲信号检测端用于检测架空线路的局部放电脉冲信号， 并将所述局部放电脉冲信号传输至边缘网关...
    2025-12-08
  • 一种变压器套管局部放电故障在线监测方法及相关设备
    一种变压器套管局部放电故障在线监测方法及相关设备_西安交通大学_202511338516.1
    本发明属于变压器高压套管的故障在线监测领域， 公开了一种变压器套管局部放电故障在线监测方法及相关设备， 本方法通过直接采集变压器套管呼吸腔内的油位信息、气体温度和压力， 进而计算得到气体体积、气体总量、产气量与产气速率， 无需进行复杂的气体...
    2025-12-08
  • 晶圆量测的方法和装置
    晶圆量测的方法和装置_南亚科技股份有限公司_202410928195.X
    本公开提供一种晶圆量测的装置和方法。该方法包括：产生与多个配方相关联的一测量程序；以及通过执行该测量程序以控制至少一测量元件， 使其根据该些配方来自动测量多个晶圆。
    2025-12-08
  • 一种COOLMOS的电流承载力检测方法及系统
    一种COOLMOS的电流承载力检测方法及系统_浙江广芯微电子有限公司_202511303190.9
    本申请提供了一种COOLMOS的电流承载力检测方法及系统， 涉及电流承载力检测技术领域， 方法包括：通过对待测器件采集得到的热图像集与电气特性数据集进行关联， 得到关联关系；通过关联关系进行电流临界主辅判定点分析， 加权融合得到电流临界点；...
    2025-12-08
  • 半导体故障解析装置
    半导体故障解析装置_浜松光子学株式会社_202510963441.X
    本发明的半导体故障解析装置(1)具备：测试器(2)， 其对半导体器件(100)施加刺激信号；光源(3)， 其产生照射于半导体器件(100)的照射光(L1)；固体浸没式透镜(4)， 其配置于照射光(L1)的光路上；光检测部(5)， 其接受反射...
    2025-12-08
  • 一种磁性芯片制程精准检测全周期低能耗协同优化方法
    一种磁性芯片制程精准检测全周期低能耗协同优化方法_山东大学_202410451005.X
    本发明涉及一种磁性芯片制程精准检测全周期低能耗协同优化方法， 包括：准备样品：选择要进行磁光检测的磁性芯片样品；设置实验装置：搭建焦平面傅里叶变换磁光检测系统， 焦平面傅里叶变换磁光检测系统包括光源、透镜系统、磁场装置、光学检测器；光学信号...
    2025-12-08
  • 用于侦测异常区块的方法、电路板及系统
    用于侦测异常区块的方法、电路板及系统_精英电脑股份有限公司_202410452584.X
    本发明涉及一种用于侦测异常区块的方法、电路板及系统， 该系统包含电路板及使用接口规格的指示装置。该电路板包含电子元件；支持该接口规格的连接端口， 包含第一引脚；以及晶片组， 包含第一通用型输入输出， 该第一通用型输入输出电性连接该第一引脚及...
    2025-12-08
  • 芯片故障诊断方法和装置
    芯片故障诊断方法和装置_华为技术有限公司_202410467207.3
    本申请提供了一种芯片故障诊断方法和装置， 该芯片包括多个门和多个扫描链， 芯片通过全局信号驱动， 全局信号包括使能信号、时钟信号和复位信号中的至少两种， 该方法包括：获取所述全局信号驱动的线路上的所述门与所述扫描链之间的连接关系；获取所述芯...
    2025-12-08
  • 测试数据处理方法、设备及存储介质
    测试数据处理方法、设备及存储介质_上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司_202410473297.7
    本申请提供一种测试数据处理方法、设备及存储介质。该方法包括：获取使用纳米探针对故障芯片进行测试获得的测试数据；使用预设计算模型对测试数据进行处理， 获得故障芯片的工作参数；将故障芯片的工作参数与故障芯片的标准参数进行比较， 并根据比较结果确...
    2025-12-08
  • 一种超导量子芯片线路缺陷测试方法
    一种超导量子芯片线路缺陷测试方法_本源量子计算科技(合肥)股份有限公司_202410477463.0
    本申请公开了一种超导量子芯片线路缺陷测试方法， 属于量子芯片制备技术领域。超导量子芯片线路缺陷测试方法， 用于判断超导量子芯片内的测试线路是否有缺陷， 方法包括：对比基准阻值和测试阻值， 判断测试线路是否有缺陷；其中， 基准阻值为基准线路的...
    2025-12-08
  • 一种激光器芯片的可靠性判定方法和加工方法
    一种激光器芯片的可靠性判定方法和加工方法_武汉光迅科技股份有限公司_202410496150.X
    本发明涉及半导体光电器件领域， 特别是涉及一种激光器芯片的可靠性判定方法和加工方法。主要包括：对于指定结构的测试芯片， 在测试芯片封装前， 对多个测试芯片进行反向电压电流测试， 并根据测试结果对测试芯片的反向电流划分档位；在测试芯片封装后，...
    2025-12-08
  • 测试方法、模块和相关设备
    测试方法、模块和相关设备_晶晨半导体(上海)股份有限公司_202410496990.6
    一种测试方法、模块和相关设备， 所述测试方法包括：使待测芯片工作在对应的负荷条件下；在待测芯片工作在对应的负荷条件下时， 对待测芯片进行测试。本发明技术方案能够提高芯片测试的准确性。
    2025-12-08
  • 底层电路监测方法、终端和存储介质
    底层电路监测方法、终端和存储介质_荣耀终端股份有限公司_202410868801.3
    本申请提供一种底层电路监测方法、终端和存储介质， 涉及终端技术领域， 解决了监测底层电路耗能过多的问题。方法包括：通过电流监测通道和电压监测通道监测被监测模块的运行数据；获取电压监测通道监测的被监测模块的通道电压；在被监测模块的通道电压小于...
    2025-12-08
  • 用于增强积体电路晶片测试的测试插座及其制造方法
    用于增强积体电路晶片测试的测试插座及其制造方法_禾周科技股份有限公司_202411342072.4
    本发明公开了一种用于积体电路(IC)晶片测试的测试插座， 包括一个具有多个通孔的绝缘支撑结构和多个弹性导电柱。这些弹性导电柱部分嵌入在支撑结构中并穿过通孔， 以容纳由于IC封装翘曲和BGA焊球尺寸公差而产生的变化。绝缘支撑结构还包括位于通孔...
    2025-12-08
  • 一种用于封装基板无源测试的装置
    一种用于封装基板无源测试的装置_深圳市联润丰电子科技有限公司_202510900796.4
    本发明涉及半导体制造技术领域， 提出了一种用于封装基板无源测试的装置， 包括底架， 底架包括承载区和装夹区， 装夹区呈圆周状等角度开设有四个径向布置的滑槽， 还包括驱动件和柔性装夹组件， 底架侧部安装有驱动件， 驱动件的工作端安装有非接触式...
    2025-12-08
  • 一种芯片批量化测试装置和方法
    一种芯片批量化测试装置和方法_中国星网网络应用有限公司_202511324659.7
    本发明公开了一种芯片批量化测试装置和方法， 涉及芯片测试领域， 用以提升批量芯片的测试效率。本发明将安装待测芯片的安装槽进行级联， 利用固件指示每一级待测芯片将本级的测试结果连接到先前芯片的测试结果上， 作为后一级芯片的检测数据。上位机控制...
    2025-12-08
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