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测量装置的制造及其应用技术
  • 一种北斗测绘的定位系统及方法
    一种北斗测绘的定位系统及方法_洛阳理工学院_202511383160.3
    本发明公开了一种北斗测绘的定位系统及方法，涉及卫星测绘技术领域，构建观测数据池，生成统一时空基准，输出实时坐标，在线修正系统误差，生成三维测绘成果，闭环更新模型，本发明通过多模态融合技术提高定位精度与稳定性，特别在GNSS信号弱的环境下，伪...
    2025-12-14
  • 一种水质检测系统及方法
    一种水质检测系统及方法_华为技术有限公司_202410729580.1
    一种水质检测系统，包括：第一光源，用于向盛放在水体样本池中的待测水样照射波长范围涵盖紫外线和可见光区域的光；第二光源，用于激发待测水样产生发射光；光谱探测器，用于接收发射光的荧光光谱，以及，接收与第一光源相关的透射光的紫外可见光谱；数据处理...
    2025-12-14
  • 一种刹车盘缺陷检测装置
    一种刹车盘缺陷检测装置_苏州恩特德肯智能科技有限公司_202511132180.3
    本发明公开了一种刹车盘缺陷检测装置，包括旋转组件、夹持组件和检测组件，旋转组件包括多个转动轮和驱动电机，多个转动轮的外周面分别与刹车盘的外周面抵接，多个转动轮包括由驱动电机驱动旋转的主动轮以及多个从动轮；夹持组件用于驱动主动轮和从动轮往靠近...
    2025-12-14
  • 一种杯子检测装置
    一种杯子检测装置_四川索牌科技股份有限公司_202423127908.7
    本实用新型提供了一种杯子检测装置，涉及杯子检测设备技术领域，包括支撑主体、翻转机构和检测组件，支撑主体上设置有输送带机构和罩体；翻转机构包括第一支架、球体和负压泵，第一支架设置在支撑主体上，球体为空腔结构，负压泵与球体连接，球体可转动设置第...
    2025-12-14
  • 一种玻璃瓶检测装置
    一种玻璃瓶检测装置_广东奥普特科技股份有限公司_202511299624.2
    本发明涉及机器视觉检测技术领域，公开了一种玻璃瓶检测装置，包括背光装置、第一侧向补光装置和第二侧向补光装置；所述第一侧向补光装置和所述第二侧向补光装置均安装在所述背光装置的出光一侧，且所述第一侧向补光装置和所述第二侧向补光装置之间形成可供玻...
    2025-12-14
  • 一种氟离子荧光检测方法及其装置
    一种氟离子荧光检测方法及其装置_四川大学_202411165849.4
    本发明公开了一种氟离子荧光检测方法及其装置，属于离子检测技术领域，荧光检测方法包括，对样本进行预处理，将经过预处理后的样本经过装有阳离子交换树脂的固相萃取柱，得到待测样本；将制备得到的氟离子测试剂添加到待测样本中，得到待检测溶液；将待检测溶...
    2025-12-14
  • 一种电吹风老化测试一体机
    一种电吹风老化测试一体机_深圳市稀客自动化设备有限公司_202511318500.4
    本发明公开一种电吹风老化测试一体机，包括设置于上料工位和下料工位之间的传输组件，所述传输组件上设有多个定位治具，各所述定位治具设有供电接口，各所述功能测试工位内均设有第一导电接触组件，各所述定位治具端面设有对应接触的导电轮，所述老化工位设有...
    2025-12-14
  • 一种芯片电容容值精确测试夹具
    一种芯片电容容值精确测试夹具_成都开谱电子科技有限公司_202422922340.1
    本实用新型涉及电容测试装置技术领域，具体涉及一种芯片电容容值精确测试夹具；该夹具包括屏蔽盒、测试座组件和线路组件；所述屏蔽盒由若干块屏蔽板和隔板组合而成；所述测试座组件安装在屏蔽盒中；所述测试座组件包括测试座盖板和测试座底板，所述测试座底板...
    2025-12-14
  • 一种甲烷气体浓度在线检测装置
    一种甲烷气体浓度在线检测装置_重庆益成玖科技有限责任公司_202310321849.8
    本发明公开了一种甲烷气体浓度在线检测装置，包括显示模块、声光报警模块、CPU模块、采样头和电源模块，所述采样头包括采样气室，所述采样气室的前端设有进气口，后端设有激光器、光电探测器、温度传感器、压力传感器和信号处理器，在激光器与光电探测器支...
    2025-12-14
  • 一种具有抗菌消毒效果的电子秤
    一种具有抗菌消毒效果的电子秤_中山佳维电子有限公司_202511309664.0
    本发明属于抗菌电子秤技术领域，具体公开了一种具有抗菌消毒效果的电子秤，包括电子秤本体，所述电子秤本体上设有用于放置物品称重的载物件以及用于手动调节电子秤参数的按键组件；其特征在于所述载物件和所述按键组件的内部或表面通过一定的形式添加有质量百...
    2025-12-14
  • 一种海底隧道力学行为试验系统及方法
    一种海底隧道力学行为试验系统及方法_山东科技大学_202511304542.2
    本发明公开了一种海底隧道力学行为试验系统及方法，系统包括密封箱体、围岩相似材料、隧道衬砌模型、水压/土压模拟与监测模块、衬砌裂缝等效渗漏排水模拟系统及力学行为监测系统。通过水压、土压双场耦合，实时采集裂缝图像与渗流数据，智能复现海底隧道开裂...
    2025-12-14
  • 电池管理设备及其操作方法
    电池管理设备及其操作方法_株式会社LG新能源_202480030317.1
    根据本文档中公开的实施方式的电池管理设备可以包括：信息获得单元，该信息获得单元获得多个电池电芯中的每一个的开路电压；以及控制器，该控制器计算多个电池电芯的开路电压的平均开路电压，基于平均开路电压和多个电池电芯当中的第一电池电芯的开路电压来计...
    2025-12-14
  • 一种用于盆式绝缘子缺陷检测的雷达成像优化方法
    一种用于盆式绝缘子缺陷检测的雷达成像优化方法_合肥工业大学_202511313294.8
    本发明公开了一种用于盆式绝缘子缺陷检测的雷达成像优化方法，属于电力设备无损检测技术领域。该方法包括：1.采用UWB‑MIMO雷达采集回波信号，基于两段式传播模型计算多通道延时参数；2.应用DAS算法生成初步三维图像；3.通过TGC补偿信号深...
    2025-12-14
  • 一种用于稀土微合金化钢高温激光共聚焦实验中稀土夹杂物标定的方法
    一种用于稀土微合金化钢高温激光共聚焦实验中稀土夹杂物标定的方法_内蒙古工业大学_202511183926.3
    本发明公开一种用于稀土微合金化钢高温激光共聚焦实验中稀土夹杂物标定的方法：步骤(1)：制备并切割稀土微合金化钢板制得圆柱形试样，对试样预处理得到实验钢样品；步骤(2)：将实验钢样品的待观察表面划分为n个区域并做标记；步骤(3)：将标记好的实...
    2025-12-14
  • 深海特大型管节安装声呐定位方法及系统
    深海特大型管节安装声呐定位方法及系统_张延年_202511309981.2
    本发明涉及海洋工程技术领域，公开了深海特大型管节安装声呐定位方法，包括以下步骤：S1、布设多组声呐阵列模块；S2、生成多源声呐协同探测策略；S3、实时采集管节与海床基准点的空间相对位置数据；S4、动态切换声呐阵列的探测模式组合；S5、生成管...
    2025-12-14
  • 一种基于光镜-AFM-IR联用确定页岩显微组分类型及其分子结构表征的方法
    一种基于光镜-AFM-IR联用确定页岩显微组分类型及其分子结构表征的方法_东北石油大学三亚海洋油气研究院_202511438110.0
    本发明涉及光镜‑AFM‑IR联用技术领域，具体涉及一种基于光镜‑AFM‑IR联用确定页岩显微组分类型及其分子结构表征的方法。本发明将AFM‑IR与光学显微镜相结合，不仅避免了单一技术的局限性，也构建了一种揭示显微组分形貌以及其化学特性之间的...
    2025-12-14
  • 基于非色散红外光谱技术的碳排放气体浓度检测装置及检测方法
    基于非色散红外光谱技术的碳排放气体浓度检测装置及检测方法_中国计量大学_202511487814.7
    本申请提供一种基于非色散红外光谱技术的碳排放气体浓度检测装置及检测方法，涉及气体检测技术领域，基于非色散红外光谱技术的碳排放气体浓度检测装置包括：气体吸收腔室；红外光源，设于气体吸收腔室的一侧；红外探测器，位于气体吸收腔室远离红外光源的一侧...
    2025-12-14
  • CMOS芯片成像缺陷到缺陷源自动分析系统及方法
    CMOS芯片成像缺陷到缺陷源自动分析系统及方法_飞纳台式科学仪器(上海)有限公司_202511030435.5
    本发明提供了一种CMOS芯片成像缺陷到缺陷源自动分析系统及方法，包括芯片容器模块用于容纳不同型号的CMOS芯片；配置文件模块用于存储CMOS芯片的像素间距和芯片容器的原点坐标信息；数据导入模块用于导入CMOS芯片的成像缺陷坐标数据；坐标转换...
    2025-12-14
  • 测色装置
    测色装置_精工爱普生株式会社_202310100416.X
    本申请涉及测色装置。在根据相邻的色标的色差来识别相邻的色标的构成中，存在发生测色错误的情况。测色装置具备：开口部，配置于装置主体的底部，用于将从测定对象到来的光引入所述装置主体的内部；入射光处理部，对经过所述开口部而射入的光进行处理；旋转体...
    2025-12-14
  • 半导体样品制造的掩模检查
    半导体样品制造的掩模检查_应用材料以色列公司_202310257817.6
    提供了一种检查可用于制造半导体样品的掩模的系统和方法。所述方法包括：获得包括表示候选缺陷的缺陷像素的原始缺陷图像以及候选缺陷的位置，以及在多个聚焦水平处获取的候选缺陷的缺陷图像库和参考图像库；在多个聚焦水平中确定最佳聚焦，并且在最佳聚焦处生...
    2025-12-14
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