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信息存储应用技术
  • 反熔丝读出电路、反熔丝存储器以及测试方法
    反熔丝读出电路、反熔丝存储器以及测试方法_长鑫存储技术有限公司_202111602087.6
    本公开实施例涉及半导体领域，特别涉及一种反熔丝读出电路、反熔丝存储器以及测试方法，反熔丝读出电路，包括：锁存模块，锁存模块用于锁存从反熔丝存储阵列中读出的数据；传输模块，传输模块与锁存模块的输出端连接，被配置为，响应于读测试命令，将锁存模块...
    2025-07-16
  • 反熔丝存储器及其控制方法
    反熔丝存储器及其控制方法_长鑫存储技术有限公司_202111602083.8
    本公开实施例涉及半导体技术领域，提供一种反熔丝存储器及其控制方法，反熔丝存储器被配置为，基于行选通信号生成编程脉冲信号，反熔丝存储阵列的字线接收行选通信号，反熔丝存储器阵列应于编程脉冲信号进行编程。本公开实施例至少有利于提高从反熔丝存储阵列...
    2025-07-16
  • 存储器系统、存储器装置以及用于操作存储器装置的方法
    存储器系统、存储器装置以及用于操作存储器装置的方法_爱思开海力士有限公司_202110295269.7
    所公开技术的实施例涉及一种存储器系统、存储器装置以及用于操作存储器装置的方法。基于所公开技术的实施例，当在turbo编程模式下将数据编程在第一存储块中的第一存储器单元中时，存储器装置可以将第一数量的编程脉冲施加到第一存储器单元，编程脉冲的第...
    2025-07-16
  • 外场在位测量大口径望远镜视轴误差装置及方法
    外场在位测量大口径望远镜视轴误差装置及方法_中国科学院长春光学精密机械与物理研究所_202510557656.1
    本发明属于大口径望远镜光学装调技术领域，尤其涉及一种外场在位测量大口径望远镜视轴误差装置及方法。方法包括：S1：粗调四维调整基座，使自准直光管对准待测件的俯仰轴中心；S2：转动待测件的俯仰轴，并调整角度倾斜调整机构，使平面镜的反射面与自准直...
    2025-07-16
  • 用于数据处理器DPU的测试方法、平台、设备和存储介质
    用于数据处理器DPU的测试方法、平台、设备和存储介质_中科驭数(北京)科技有限公司_202510394500.6
    本申请提供一种用于DPU的测试方法、装置、设备和存储介质，该方法包括：获取待测资源的环境信息，环境信息包括：待测DPU的测试用例的路径信息；基于测试用例的路径信息从预设用例库中获取测试用例；将测试用例进行分组，得到多个测试用例集；将多个测试...
    2025-07-16
  • 一种智能存储装置
    一种智能存储装置_昆明创想信息技术有限公司_202422270610.5
    本实用新型涉及存储装置技术领域，且公开了一种智能存储装置，包括存储箱，所述存储箱内设置有缓冲机构，所述缓冲机构上设置有限位机构，所述存储箱上设置有散热机构；所述缓冲机构包括开设在所述存储箱内壁两侧的凹槽，所述凹槽的数量设置有三组，三组所述凹...
    2025-07-16
  • 一种出货装置
    一种出货装置_珠海市利保机器人有限公司_202422266129.9
    本实用新型公开了一种出货装置，包括机座、出货台、环形轨道和驱动机构。出货台沿左右方向可移动地设置于所述机座；环形轨道设置于所述机座和所述出货台中的之一，所述环形轨道的中心轴线垂直于左右方向；驱动机构设置于所述机座和所述出货台中的另一，所述驱...
    2025-07-16
  • 一种适用于道路护栏的生产质量评估系统
    一种适用于道路护栏的生产质量评估系统_安徽新振交通科技有限公司_202510520022.9
    本发明公开了一种适用于道路护栏的生产质量评估系统，涉及护栏生产技术领域，包括追踪点设置端、基准延伸率获取端、弯折变形均匀度获取端和质量评估端，解决了现有道路护栏生产质量检测现有检测仅关注折弯角度或者形状，忽略材料在弯折处的延伸率分布的技术问...
    2025-07-16
  • 存储器及其操作方法、存储器系统、计算机系统
    存储器及其操作方法、存储器系统、计算机系统_长江存储科技有限责任公司_202410032385.3
    本公开实施例提供一种存储器及其操作方法、存储器系统、计算机系统。该存储器包括测试电路；测试电路包括：第一选择电路，第一选择电路包括多个第一输入端、第一选择信号端和第一输出端；其中，多个第一输入端中的每个第一输入端用于接收多个高速周期信号中的...
    2025-07-16
  • 一种面向代码的应用程序性能分析方法及系统
    一种面向代码的应用程序性能分析方法及系统_银河麒麟软件(长沙)有限公司_202210569917.8
    本发明公开了一种面向代码的应用程序性能分析方法及系统，本发明方法包括针对被测试的目标应用程序，通过预设的编译选项将目标应用程序的源代码编译为对应的性能测试专用目标代码，所述性能测试专用目标代码具有将执行过程信息输出到指定的输出文件的功能；运...
    2025-07-16
  • 一种基于磁控机理的模式可切换薄膜型声学超材料结构
    一种基于磁控机理的模式可切换薄膜型声学超材料结构_中国铁道科学研究院集团有限公司节能环保劳卫研究所_202211622128.2
    本发明涉及一种基于磁控机理的模式可切换薄膜型声学超材料结构，涉及噪声控制技术领域，步骤如下：(1)构建薄膜型超材料声振耦合模型；(2)建立薄膜型超材料磁控力关系；(3)设计薄膜型超材料结构；(4)标定圆环质量块磁力；(5)制备薄膜型超材料，...
    2025-07-16
  • 支撑装置及支撑系统
    支撑装置及支撑系统_中建科工集团有限公司_202421894693.9
    本实用新型涉及桁架楼承板施工技术领域，公开了支撑装置及支撑系统，其中，支撑装置用于对固定于两个第一支撑结构之间的第二支撑结构进行支撑，包括：两个固定组件，固定连接于第一支撑结构上；连接组件，连接组件的两端分别固定于两个固定组件上，连接组件的...
    2025-07-16
  • 一种稳定连接的传感器压头
    一种稳定连接的传感器压头_南京优弘达电子科技有限公司_202421961239.0
    本实用新型公开了一种稳定连接的传感器压头，本实用新型涉及传感器压头技术领域，包括传感器本体，所述传感器本体的顶端设有传感器连接头，所述传感器连接头的底端位于传感器本体的内壁均匀设有三个连接块。该稳定连接的传感器压头，通过传感器连接头底端的定...
    2025-07-16
  • 一种基于数据全链路监测的归因方法和装置
    一种基于数据全链路监测的归因方法和装置_微梦创科网络科技(中国)有限公司_202111249451.5
    本发明实施例提供一种基于数据全链路监测的归因方法和装置，建立数据全链路监测系统，通过水平方向的上下游关系以及垂直方向的多叉树关系，找到发生问题的根本故障模块并给出历史追查经验，从而提升了线上问题定位效率，进而缩短线上问题的处理时间。
    2025-07-16
  • 磁头及磁记录装置
    磁头及磁记录装置_株式会社东芝_202210926360.9
    提供能够提高记录密度的磁头及磁记录装置。根据实施方式，磁头包括第1磁极、第2磁极和层叠体。层叠体包括第1磁性层～第4磁性层和第1非磁性层～第5非磁性层，第2非磁性层与第2磁性层及第1磁性层接触，第3非磁性层与第3磁性层及第2磁性层接触，第4...
    2025-07-16
  • 一种车载减振硬盘
    一种车载减振硬盘_上海强生科技有限公司_202422371309.3
    本实用新型涉及硬盘设备技术领域，且公开了一种车载减振硬盘，包括有：上壳、下壳、减震垫、支架以及硬盘本体；所述支架设置在所述上壳与所述下壳之间，所述下壳内壁两侧均开设有沟槽，所述支架两侧均横向固定有安装板，所述下壳外壁两侧均加工有连接槽，所述...
    2025-07-16
  • 一种基于机器视觉的压缩弹簧检测方法及系统
    一种基于机器视觉的压缩弹簧检测方法及系统_南京理工大学_202510067498.1
    本发明公开了一种基于机器视觉的压缩弹簧检测方法及系统，检测方法基于弹簧图像采集，首先采用中值滤波、HSV图像分割、Canny边缘提取与最小二乘法拟合圆和最小外接矩形计算检测内外径和自由高度，然后采用改进yolov8‑pose检测端头厚度关键...
    2025-07-16
  • 一种RTC复位装置及复位方法
    一种RTC复位装置及复位方法_苏州浪潮智能科技有限公司_202210740185.4
    一种RTC复位装置及方法，其中，装置包括：RTC电路，配置用于监控目标系统的系统供电情况，并在目标系统的系统供电掉电时通过供电输出端为目标系统的CPU的管理引擎固件供电；控制模块，控制模块的输入端与目标系统的CPU连接，控制模块的第一输出端...
    2025-07-16
  • 一种芯片视觉检测机构及检测方法
    一种芯片视觉检测机构及检测方法_卓尔半导体设备(苏州)有限公司_202210608336.0
    本发明公开了一种芯片视觉检测机构及检测方法，其涉及芯片检测技术领域。其技术方案要点包括：支撑板；承载于所述支撑板上的相机模块；还包括：与所述支撑板连接的激光支架，所述激光支架上设置有激光测距模块；以及，与所述相机模块和激光测距模块连接的控制...
    2025-07-16
  • 一种用于集成电路调试的系统
    一种用于集成电路调试的系统_上海韬润半导体有限公司_202510578079.4
    一种用于集成电路调试的系统被公开。系统包括：有限状态机，基于测试数据寄存器的值确定系统的工作状态，工作状态包括正常功能模式和Scandump模式；若干条扫描链，每条扫描链包括若干功能寄存器，当工作状态为正常功能模式时，上述扫描链分别由一个对...
    2025-07-16
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